材料测试技术及方法.docx

材料测试技术及方法实验"指导书王卫伟李成峰材料科学与工程学院2008年9月目录实验一X射线衍射仪使用演示1实验二X射线衍射分析3实验三电子显微分析7实验四扫描电镜的使用演示9实验五紫外、可见分光光度法测试11实验六红外分析13实验七DTA/TG使用演示与分析1619实验八DSC分析实验一X射线衍射仪使用演示一、实验目的要求1 .了解衍射仪的结构与原理。2 .学习样品的制备方法和实验参量的选择等衍射实验技术。二、衍射仪的结构及原理衍射仪是进行X射线分析的重要设备，主要由X射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。新衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。X射线发生器主要由高压控制系统和X光管组成，它是产生X射线的装置。由X光管发射出的X射线包括连续X射线光谱和特征X射线光谱，连续X射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法；特征X射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。测角仪是衍射仪的重要局部。X射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上，样品位于测角仪圆的正中心。在入射光路上有入射光栏(固定式梭拉狭缝和可调式发射狭缝)，在反射光路上也有接受光栏(固定式梭拉狭缝和可调式防散射狭缝与接收狭缝)。有的衍射仪还在计数管前装有单色器。当给X光管加以高压，产生的X射线经由发射狭缝射到样品上时，晶体中与样品外表平行的晶面，符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。当计数管在测角仪圆所在平面内扫描时，样品台与计数管以1：2速度连动。因此，在某些角位置能满足布拉格条件的晶面所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号，经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。三、实验仪器设备德国D8ADVANCE多晶X-射线衍射仪四、衍射实验方法X射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。1 .样品制备在衍射仪法中，样品制作上的差异对衍射结果所产生的影响要比照相法中大得多。因此，制备符合要求的样品，是衍射仪实验技术中的重要环节。衍射仪实验通常使用平板状样品。衍射仪均附有外表平整光滑的玻璃或铝质的样品板，板上开有窗孔或不穿透的凹槽，样品放入其中进行测定。(1)粉晶样品的制备a.将被测试样在玛瑙研钵中研成5m左右的细粉；b.将适量研磨好的细粉填入凹槽，并用平整光滑的玻璃板将其压紧；c.将槽外或富出样品板面多余粉末刮去，重新将样品压平，使样品外表与样品板面一样平齐光滑。(2)特殊样品的制备对于金属、陶瓷、玻璃等一些不易研成粉末的样品，可先将其锯成窗孔大小，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可取窗孔大小直接嵌在窗孔内。但固定在窗孔内的样品其平整外表必须与样品板平齐，并对着入射X射线。2 .测量方式和实验参数选择(1)测量方式：有连续扫描和步进扫描法。连续扫描法是由脉冲平均电路混合成电流起伏，而后用长图记录仪描绘成相对强度随2。变化的分布曲线。步进扫描法是由定标器定时或定数测量，并由数据处理系统显示或打印，或由绘图仪描绘成强度随2变化的分布曲线。不管是哪一种测量方式，快速扫描的情况下都能相当迅速地给出全部衍射把戏，它适合于物质的预检，特别适用于对物质进行鉴定或定性估计。对衍射把戏局部做非常慢的扫描，适合于精细区分衍射把戏的细节和进行定量的测量。例如，混合物相的定量分析，精确的晶面间距测定、晶粒尺寸和点阵畸变的研究等。(2)实验参数选择a.狭缝：狭缝的大小对衍射强度和分辨率都有影响。大狭缝可得较大的衍射强度，但降低分辨率；小狭缝提高分辨率但损失强度。般需要提高强度时宜选取大些狭缝，需要高分辨率时宜选小些狭缝，尤其是接收狭缝对分辨率影响更大。每台衍射仪都配有各种狭缝以供选用。b.量程：指记录纸满刻度时的计数（率）强度。增大量程表现为X射线记录强度的衰减，不改变衍射峰的位置及宽度，并使背底和峰形平滑，但却能掩盖弱峰使分辨率降低，i般分析测量中量程选择应适当。当测量结晶不良的物质或主要想分辨弱峰时，宜选用小量程；当测量结晶良好的物质或主要想探测强峰时，量程可以适当大些，但以能使弱峰显示，强峰不超出记录纸满标为限。c.时间常数和预置时间：连续扫描测量中采用时间常数，指计数率仪中脉冲平均电路对脉冲响应的快慢程度。时间常数大，脉冲响应慢，对脉冲电流具有较大的平整作用，不易辨出电流随时间变化的细节，因而，强度线形相对光滑，峰形变宽，高度下降，峰形移向扫描方向；时间常数过大，还会引起线形不对称，使一条线形的后半局部拉宽。反之，时间常数小，能如实绘出计数脉冲到达速率的统计变化，易于分辨出电流时间变化的细节，使弱峰易于分辨，衍射线形和衍射强度更加真实。计数率仪均配有多种可供选择的时间常数。步进扫描中采用预置时间来表示定标器一步之内的计数时间，起着与时间常数类似的作用，也有多种可供选择的方式。d.扫描速度和步宽连续扫描中采用的扫描速度是指计数器转动的角速度。慢速扫描可使计数器在某衍射角度范围内停留的时间更长，接收的脉冲数目更多，使衍射数据更加可靠。但需要花费较长的时间，对于精细的测量应采用慢扫描，物相的预检或常规定性分析可采用快扫描，在实际应用中可根据测量需要选用不同的扫描速度。步进扫描中用步宽来表示计数管每步扫描的角度，有多种方式表示扫描速度。3 .样品测量（1）衍射仪的操作a.开机前的准备和检查：将制备好的试样插入衍射仪样品架，盖上顶盖关闭好防护罩。合上水泵电源,使冷却水流通。检查X光管窗口应关闭，管流管压表指示最小位置。接通总电源，翻开稳压电源。b.开机操作：开启衍射仪总电源，启动循环水泵。接通X光管电源，缓慢升高电压和电流至需要值（通常设定电压为35KV,电流为20mA）。设置适当的衍射条件（扫描速度为4°min,最高扫描角度为65°）。翻开记录仪和X光管窗口，使计数管在设定条件下扫描。c.停机操作：测量完毕，关闭X光管窗口和记录仪电源。利用快慢旋转使测角仪计数管恢复至初始状态。缓慢顺序降低管电流电压至最小值，关闭X光管电源，取出试样。15min后关闭循环水泵电源,关闭衍射仪总电源。五、考前须知1 .制样中应注意的问题（1）样品粉末的粗细：样品的粗细对衍射峰的强度有很大的影响0要使样品晶粒的平均粒径在5m左右，以保证有足够的晶粒参与衍射。并防止晶粒粗大、晶体的结晶完整，亚结构大，或镶嵌块相互平行，使其反射能力降低，造成衰减作用，从而影响衍射强度。（2）样品的择优取向：具有片状或柱状完全解理的样品物质，其粉末一般都呈细片状或细律状，在制作样品过程中易于形成择优取向，形成定向排列，从而引起各衍射峰之间的相对强度发生明显变化，有的甚至是成倍地变化。对于此类物质，要想完全防止样品中粉末的择优取向，往往是难以做到的。不过，对粉末进行长时间（例如达半小时）的研磨，使之尽量细碎；制样时尽量轻压；必要时还可在样品粉末中掺和等体积的细粒硅胶：这些措施都能有助于减少择优取向。2 .实验参数的选择根据研究工作的需要选用不同的测量方式和选择不同的实验参数，记录的衍射图谱不同，因此在衍射图谱上必须标明主要的实验参数条件。六.思考题1.X射线衍射仪由哪几局部组成？测角仪由哪几局部组成？ZX射线光子计数方法有哪几种？木实验过程中计数器选用的是什么？请简述其工作原理。七、实验报告简述X射线衍射原理、记录X射线衍射仪使用过程。实验二X射线衍射分析一、实验目的要求1 .通过标定立方晶系Si粉衍射指数，掌握指标化原理和方法，并求出品胞参数。2 .根据衍射图谱或数据，利用JCPDS卡片，学会多物相鉴定方法。3 .定量分析第二相的含量4 .用半高宽法测定陶瓷粉末的晶粒大小。二、分析原理1 .衍射指数标定在实际工作中，假设点阵类型和晶胞参数而需要对粉末衍射图进行指数标定，较为简单，只要依据各晶面间距与晶胞参数的关系式和消光规律就可完成。立方晶系晶体指标化较为简单，四方、三方和六方晶系晶体指标化问题可参考相关资料用立方晶系指标化步骤获得。由立方晶系面间距公式和布拉格方程可得到：包2=£(N="+F)(1)式中人为波长，立方晶系晶胞参数，那么尤是常数，于是sin2|：sin22：sin2m=NrN2:Nm(2)因此，测出试样每个衍射峰的Si/n值之后，就可算出它们之间的比值，并与立方品系的系统消光规律相比拟，便能确定衍射峰的指标、点阵类型和晶胞参数(nm),2 .物相鉴定1)原理根据晶体对X射线的衍射特征：衍射线的方向和强度来鉴定结晶物质的物相的方法，就是X射线物相分析法。每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此，当X射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射把戏，它们的特征可以用各个晶面间距d和相对强度IZIo来表征。其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度那么与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。所以任何一种结晶物质的衍射数据d和1/1。是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的根底。为此，人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相，将它们的衍射把戏收集起来。由于底片和衍射图都难以保存，并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同)，衍射把戏的形态也有所不同，难以进行比拟。因此,通常国际上统一将这些衍射把戏经过计算，换算成衍射线的晶面间距d值和强度I,制成JCPDS卡片进行保存。2)物相鉴定(1)获得衍射图后，测量衍射峰的2。，计算出晶面间距d,并测量各条衍射线的峰高，以最高的峰的强度作为100,计算出每条衍射峰的相对强度I/M(2)根据待测相的衍射数据，得出三强线的晶面间距值、d2、d3(最好适当地估计它们的误差)。(3)根据5值，在数值索引中检索适当d组。(4)在该组内，根据d?和d3找出与5、d2、d3值符合较好的一些卡片。假设无适合的卡片,改变dl、d2、d3顺序，再按-(4)方法进行查找。(6)把待测相的所有衍射线的d值和I/h与卡片的数据进行比照，最后获得与实验数据根本吻合的卡片、卡片上所示物质即为待测相。3)物相鉴定中应注意的问题实验所得出的衍射数据，往往与标准卡片或表上所列的衍射数据并不完全一致，通常只能是根本一致或相对符合。即使两者所研究的样品确实是同一种物相，也会是这样。因此，在数据比照时注意以下几点，可以有助于作出正确的判断。(1) d的数据比1为数据重要。即实验数据与标准数据两者的d值必须很接近，-般要求其相对误差在±1%以内。I/h值容许有较大的误差。这是因为晶面间距d值是由晶体结构决定的，它是不会随实验条件的不同而改变，只是在实验和测量过程中可能产生微小的误差。然而。Dh值却会随实验条件(如靶材、制样方法等)不同产生较大的变化。(2)强线比弱线重要，特别要重视d值大的强线。这是因为强线稳定也较易测得精确；而弱线强度低而不易发觉，判断准确位置也困难，有时还容易缺失。(3)假设实测的衍射数据较卡片中的少几个弱线的衍射数据，不影响物相的鉴定。假设实测的衍射数据较卡片中多几个弱线的衍射数据，说明有杂质混入，假设多几个强线的衍射，说明该样品是多晶混合物。假设一个样品内包含了几种不同的物相，各物相仍保持各自特征的衍射把戏不变，整个样品的衍射把戏相当于它们的迭合。除非两物相衍射线刚好重迭在一起，一般二者之间不会产生干扰，这为我鉴别混合物样品中和各个物相提供了可能。假设多相混合物未知且含量相近，可从每个物相的3条强线考虑：a.从样品的衍射把戏中选择5条相对强度最大的线，取三条进行组合，可得出十组不同的组合，其中至少有三条属于同一个物相。逐组地将每一组数据与哈氏索引中前3条线的数据进行比照，其中必可有一组数据与索引中的某一组数据根本相符。初步确定物相Aob.找到物相A的相应衍射数据表，如果鉴定无误，那么表中所列的数据必定可为实验数据所包含。至此，便已经鉴定出了一个物相。c.将这局部能核对上的数据，也就是属于第一个物相的数据，从整个实验数据中扣除。d.对所剩下的数据中再找出3条相对强度较强的线，用哈氏索引进比拟，找到相对应的物相B,并将剩余的衍射线与物相B的衍射数据进行比照，以最后确定物相B。假假设样品是三相混合物，那么，开始时应选出七条最强线，并在此七条线中取三条进行组合，在其中总会存在有这样一组数据，它的三条线都是属于同一物相的。对该物相作出鉴定之后，把属于该物相的数据从整个实验数据中除开，其后的工作便变成为一个鉴定两相混合物的工作了。假设样品是更多相的混合物时，鉴定方法的原理仍然不变，只是在最初需要选取更多的线以供进行组合之用。3 .混合物内各物相含量的定量分析lipsKtwlWl这里采用任意内标法测定物相含量，具体原理见书PIO7。从内标法得到：IjdKSWS-从上式中可见，Ks实际上与样品中的其它相无关，而只与待测相和内标物质有关。JCPDS选用刚玉AI2O3作为标准物质，测定的许多物质与刚玉以1：1比例混合后，二者最强衍射峰之间的比值,列于JCPDS卡片中。代入(3)式就可得到：式中WS为参加样品中的标准物质的数量，那么求出i相有原始样品中的含量Wi叱二上1一%(5)4.微晶晶粒尺寸计算原理用XRD进行测试时，理论上扫描出来的图谱中的峰应是一条线，而实际上得到的每一个峰都具有一定的宽度。为什么会产生峰的宽化呢？有两个原因：仪器的原因和样品本身的微晶产生宽化。根据SCherrer1谢乐)公式，峰的宽化与X射线的波长、微晶的平均尺寸、衍射角有以下的关系:W. = k'皿 Bcose(6)(其中Wg样品中晶相的统计平均宽度即晶粒度；B微晶产生的峰的宽化，即峰的半高宽，单位弧度;k比例系数，此处k=0.89;人为X射线Kol的波长，此处为A；为衍射角)。三、衍射实验方法1.标定衍射指数对立方晶系的Si粉衍射指数(实验数据见表1)标定过程如下：在X射线衍射仪上，测出Si粉各衍射峰的20或d值；(2)计算各个sin2111;(3)求出各个sin2Om与sin2之比值，并化为整数；(4)查阅立方晶系系统消光规律(见书上P91表6-1)得到Nm和Ihkl);(5)依d值和对应的(hkl),由面间距公式求得晶胞参数偏差：单次测量结果(Xi)与屡次测定所得算术平均值(X)之间的差称为偏差，分为绝对偏差和相对偏差绝对偏差二Xi-X;相对偏差二(Xi-X)/X表ISi粉衍射图指标化及晶胞参数峰号sin2mNmN1Nmhkld(nm)a(nm)a(平均值nm)及偏差123456789102.物相鉴定(见图1,表2)在图1中对每个峰进行指标化(标出每个峰的晶面指数(HKL)表2XRD谱图实验数据d20Cps%20Cps%20Cps%1601373576123803782214461740446264145626548363641633772164818100403558IOOOO-(nE) A=SU3U 一2(degree)图1.样品的XRD谱图根据图1和表2中的数据利用任意内标法计算两相含量4.用半高宽法测定陶瓷粉末的晶粒大小(见图4,表3),写出具体计算过程，简单分析随煨烧温度增加晶粒的变化。表3不同温烧制备的氧 体的XRD 验数据 五、实验报 通过查JCPDS 索 用各种分析煨烧温度C) T(岬峰位(°)HKL400EJ如X1000cCIllD.r1800。C220过 6) Mu JjvIllCJ220(311)I T(200)Ol oC220800B人400°CHlt_ _220中4不同燃温度制备的氧化锚犁翻贯盟竹图原理对实验IA行处理，简述分析原理，0丽芬丽痴海藕永度下煨化错粉 谱图实告找引，利 方法的 数据进附录：Si3N4标准XRD谱图20304050607080Si3N2(?!XRD谱图Si3N4标准XRD谱图实验三电子显微分析一电子衍射把戏指数化方法一、实验目的1 .掌握电子衍射分析的根本原理。2 .掌握电子衍射把戏的指数化方法。二、测定原理及方法晶体样品的(hkl)晶面处于符合布拉格衍射条件的位置，在荧光屏上产生衍射斑点P,可以证明Rd=L(3-1)式中，R衍射斑与透射斑间距：d-参加衍射晶体的晶面间距；一入射电子束波长；L一样品到底版的距离。通常L是定值，而入只取决于加速电压E的大小，因而在不改变E的情况下K=L是常数，叫做电子衍射相机常数。相机常数是电子衍射装置的重要参数。对于一幅衍射把戏，假设知道K值，那么只要测出R值就可求出d值，从而为把戏指数化打下根底。公式(3-1)是电子衍射的根本公式。三、单晶衍射把戏指数化的方法例如1 3-1是铝单晶电子衍射把戏，试标定指数。图3-1铝单晶电子衍射把戏示意图2 .未知相机常数情况下指标化方法1)尝试-校核法(1)选取靠近中心O附近且不在一直线上的四个斑点A、B、C、D,分别测量它们的R值，并且找出R2比值递增规律，确定点阵类型及斑点的晶面族指数hkl,分析说明铝单晶为面心立方点阵。(2)任取A为(111),尝试B为(220),并测得瓦Azj=90°,瓦艮=58。=35027z,与实测不符，应予否认。根据晶体学知识或查表，选定B的指数为(220)那么夹角与实测相符。(3)按矢量运算求得C与D及其它斑点指数YRC=瓦+风.*.he=3；kc=-1；Ic=1所以斑点C指数为(3il)。同理求得D指数为(402)O计算知(111)、(402)晶面之间的夹角为39°48',与实测相符。(4)求晶带轴uvw选取总=Wb=220,葩=Wa=Ull，因为在照片上分析计算，所以选取豆位于顺时针方向°uvw=gl×g2=220J×111=TT22)标准把戏对照法(1)查而心立方晶体的标准电子衍射把戏，找出几何形状与其相似的图形。(2)计算边长比并测量夹角，考查是否与标准图形完全一致。如完全一致那么可按标准把戏指标化,如不一致应另找相似的把戏重新核对。3 .相机常数情况下的指标化方法图3-1铝单晶电子衍射的相机常数L入二.nm,指标化步骤如下:1)找出铝单晶的JCPDS卡片查得hklIll200220311222d(nm)2)根据Rd=L入计算d*.*RA=7mm/.(Ja=L入mRB=d=LRc=dc=L3)计算的d值与JCPDS卡片对照找出相应的hkl,即斑点A为111,B为220,C斑点为311。4)用上述尝试-校核法确定具体的晶面组指数(hkl)o从上面的例题可知,A斑点(Ill)是从111中任选出来的,根据N值和夹角的限制计算出B(220),而满足这个N值与夹角的指数仍有假设干个，比方B(220)等，因此单晶衍射把戏指数化具有不唯一性。就此题来说有48种标法，24种晶带轴都是正确的。四、实验报告图3-2是氧化锌的电子衍射把戏，其XRD标准谱图(JCPDSNo.89-1397)见图2,如果相机常数为：19.75,请将图3-3衍射把戏指标化。（详细写出每一步）图3-2.氧化锌XRD标准谱图实验四扫描电镜的使用演示一、实验目的1）了解扫描电镜根本结构和工作原理。2）通过对外表形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬底原理及其应用。二、扫描电镜的根本结构和工作原理扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品外表逐点扫描，与样品相互作用产行各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品外表各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品外表研究的有效分析工具。扫描电镜所需的加速电压一般在130kV,常用的加速电压2OkV左右。图像放大倍数在一定范围内（几十倍到几十万倍）可以实现连续调整，放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横向扫描的实际长度之比。扫描电镜最常使用的是二次电子信号和背散射电子信号，前者用于显示外表形貌衬度，后者用于显示原子序数衬度。扫描电镜的根本结构可分为电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大局部。三、扫描电镜图像衬度观察1 .样品制备扫描电镜的优点之一是样品制备简单，对于新鲜的金属断口样品不需要做任何处理，可以直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要的处理。1）样品外表附着有灰尘和油污，可用有机溶剂（乙醇或丙酮）在超声波清洗器中清洗。2）样品外表锈蚀或严重氧化，采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些外表形貌特征的细节，操作过程中应该注意。3）对于不导电的样品，观察前需在外表喷镀一层导电金属或碳，镀膜厚度控制在5-1Onm为宜。2 .外表形貌衬度观察二次电子信号来自于样品外表层5IOnm,信号的强度对样品微区外表相对于入射束的取向非常敏感，随着样品外表相对于入射束的倾角增大，二次电子的产额增多。因此，二次电子像适合于显示外表形貌衬度。二次电子像的分辨率较高，一般约在36nm。其分辨率的上下主要取决于束斑直径，而实际上真正到达的分辨率与样品本身的性质、制备方法，以及电镜的操作条件如高匝、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关，在最理想的状态下，目前可达的最正确分辩率为Inm。扫描电镜图像外表形貌衬度几乎可以用于显示任何样品外表的超微信息，其应用已渗透到许多科学研究领域，在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域，外表形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。3 .原子序数衬度观察原子序数衬度是利用对样品表层微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信号，如背散射电子、吸收电子等作为调制信号而形成的一种能反映微区化学成分差异的像衬度。实验证明，在实验条件相同的情况下，背散射电子信号的强度随原子序数增大而增大。在样品表层平均原子序数较大的区域，产生的背散射信号强度较高，背散射电子像中相应的区域显示较亮的衬度；而样品表层平均原子序数较小的区域那么显示较暗的衬度。由此可见，背散射电子像中不同区域衬度的差异，实际上反映了样品相应不同区域平均原子序数的差异，据此可定性分析样品微区的化学成分分布。吸收电子像显示的原子序数衬度与背散射电子像相反，平均原子序数较大的区域图像衬度较暗，平均原子序数较小的区域显示较亮的图像衬度。原子序数衬度适合于研究钢与合金的共晶组织，以及各种界面附近的元素扩散。由于背散射电子是被样品原子反射回来的入射电子，其能量较高，离开样品外表后沿直线轨迹运动，因此信号探测器只能检测到直接射向探头的背散射电子，有效收集立体角小，信号强度较低。尤其是样品中背向探测器的那些区域产生的背散射电子，因无法到达探测器而不能被接收。所以利用闪烁体计数器接收背散射电子信号时，只适合于外表平整的样品，实验前样品外表必须抛光而不需腐蚀。四、实嗫报告要求1)简述扫描电镜的根本结构及特点。2)举例说明扫描电镜外表形貌衬度和原子序数衬度的应用。实验五紫外、可见分光光度法测试邻二氮菲分光光度法测定微量铁一、实验目的1、掌握721型分光光度计的使用方法，并了解此仪器的主要构造；2、掌握邻二氮菲分光光度法测定微量铁的方法。二、实验原理1)朗伯比耳定律:A=bc当入射光波长及光程b一定时，在一定浓度范围内，有色物质的吸光度A与该物质的浓度C成正比。只要绘出以吸光度A为纵坐标，浓度C为横坐标的标准曲线，测出试液的吸光度，就可以由标准曲线查得对应的浓度值，即未知样的含量。2)分光光度法测定试样中的微量铁目前一般采用邻二氮菲法，该法具有高灵敏度、高选择性，且稳定性好，干扰易消除等优点。在pH=29的溶液中，Fe?+与邻二氮菲(Phen)生成稳定的桔红色配合物Fe(phen)32+:Fe2+3phen=Fe(phen)32+(1)配合物的IgK检，摩尔吸光系数£510=LIXlo4LmolcmL而Fe3+能与邻二氮菲生成3:1配合物，呈淡蓝色，IgK也。所以在参加显色剂之前，应用盐酸羟胺(NH2HHCl)将Fes*复原为Fe?+,其反响式如下：2Fe3+2NH2OHHCl2Fe2+÷N2+H2O+4H+2C(2)测定时控制溶液的酸度为pH5较为适宜，用邻二氮菲可测定试样中铁的总量。三、仪器和试剂721型分光光度计，1Cm比色皿，1OmL吸量管，50mL比色管1.0×10-3molL铁标准溶液，100gmL铁标准溶液，0.15%邻二氮菲水溶液，10%盐酸羟胺溶液(新配)，ImolL,乙酸钠溶液四、实验步骤1) 1.0×10-3molL铁标准溶液：称取FeQ24HzO与小烧杯中，参加少量水，溶解，定量转移至IOomL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇匀。2) 100gmL铁标准溶液：10056*MFec2=355gmL,称取FeCl与小烧杯中，参加少量水，溶解，定量转移至IoOmL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇匀。3) 0.15%邻二氮菲水溶液(新配)：称取邻二氮菲，放入烧杯中，参加少量水，溶解后定量转移到100mL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇匀。(溶解慢，需要加热)4) 10%盐酸羟胺溶液(新配)：称取IOg盐酸羟胺，放入烧杯中，参加少量水，溶解后定量转移到IoOmL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇匀。5) ImOI乙酸钠溶液：称取乙酸钠，放入烧杯中，参加少量水，溶解后定量转移到100mL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇匀。2 .测量条件的选择：1）波长的选择:用吸量管吸取2.00mL1.0×10-3mol/L铁标准溶液,注入50mL比色管中，参加1.00mL10%盐酸羟胺溶液，摇匀，放置2min0参力5.0mLNaAc溶液，2.0OmLO.15%邻二氮菲溶液，以水稀释至刻度。在分光光度计上用ICm比色皿，采用水为参比溶液，在440-56Onm间，每隔IOnm测量一次吸光度（在500nm520nm之间，每隔2nm测量一次），以波长为横坐标，吸光度为纵坐标，绘制吸收曲线，选择测量的适宜波长。2）显色条件的选择一显色剂用量：在6支50mL比色管中，分别参力口2.0OmLLoXlO-3mol/L铁标准溶液和1.0OmLlo%盐酸羟胺溶液,摇匀，放置2min°参加5.0DiLNaAc溶液,然后分别参加、0、和0.15%邻二氮菲溶液，以水稀释至刻度，摇匀。在分光光度计上用ICm比色皿，在2-1选定的波长下，以水为参比，测定吸光度。以邻二氮菲体积为横坐标，吸光度为纵坐标，绘制吸光度一试剂用量曲线，确定最正确显色剂用量。3 .样品中铁含量的测定：1）标准曲线的制作：在5支50mL比色管中，分别参加、1.2OmL100gmL铁标准溶液，参加1.00mL10%盐酸羟胺溶液，摇匀，放置2min。再参加5.0mLNaAc溶液和0.15%邻二氮菲溶液（2-2确定的用量），以水稀释至刻度，摇匀。在分光光度计上用Iem比色皿，用2-1所选定的波长，以水为参比，测定吸光度。2）试样测定：准确吸取LOmL样品三份，按标准曲线的操作步骤，测定其吸光度。五、数据记录：1 .以波长为横坐标，吸光度为纵坐标，绘制吸收曲线，得到最大吸收波长为。波长（nm）440450460470480490500A波长（nm）502504506508510512514A波长（nm）516518520530540550560A2.邻二氮菲用量曲线：（=nm）,据表中数据作图1,得到邻二氮菲用量为。邻二氮菲体积/ml吸光度A3.铁标准液IOoUgmL标准曲线：（=nm）铁体积mL0.400.80吸光度A4.样品：(V=lmL,=nm)吸光度AA平均值标准曲线铁的浓度moI/mL铁含量的平均值六、数据处理2 .绘制曲线：（1）吸收曲线；（2）吸光度-显色剂用量曲线3 .由上述曲线确定测量最正确条件，包括最大吸收波长，显色剂用量4.根据标准曲线和样品测量值计算出样品中铁的含量（gmL）注：实验报告包括实验目的，原理，实验仪器，药品，实验过程，实验数据处理（包括以上四个表及对应的曲线图）七、思考题1.邻二氮菲分光光度法测定微量铁时为何要参加盐酸羟胺溶液？2 .吸收曲线与标准曲线有何区别？在实际应用中有何意义？3 .邻二氮菲与铁的显色反响，其主要条件有哪些？4 .加各种试剂的顺序能否颠倒？实验六红外光谱分析红外光谱是研究结构与性能关系的根本手段之一，可用于研究有机物和局部无机化合物,具有分析速度快、试样用量少，能分析各种状态的试样等特点，主要用于定性分析和准确度不高的定量研究。一、实验目的1 .了解红外光谱的根本原理，初步掌握红外光谱试样的制备和红外光谱仪的使用。2 .初步学会红外光谱图的解析。二、根本原理当一定频率的红外光照射分子时，如果分子中某个基团的振动频率和它一样，光的能量通过分子偶极矩的变化传递给分子，这个基团就吸收了一定频率的红外光。分子吸收光能后由原来的振动基态能级跃迁到较高的振动能级。按量子学说，当分子从一个量子态跃迁到另一个量子态时，就要发射或吸收电磁波，两个量子状态间能量差AE与发射或吸收光的频率之间存在如下关系：4E=hu,记录下吸收或透射光与红外区的频率的曲线即成为红外谱图。以双光束红外光谱仪为例。红外光谱仪的结构由光源、单色器、检测器、放大器和记录系统组成。红外光源常用的有NemSt灯或硅碳棒，与加热板里的加热丝相似，将光源加热到足够温度，就能辐射出波长范围适合红外光谱仪所需的光线。为了使光强度维持恒定，以保持稳定的基线，采用自动调节的狭缝。光束由反光镜使之沿着固定的光路照到样品池。由于空气中的二氧化碳和水是红外活性物质，必须用双光束的方法补尝消除。通过样品后的光束用单色器分光，再进入红外接收器一一灵敏的热电偶，将光转变为电信号，进入记录仪器获得以波数为谱图横坐标，吸收光强度为纵坐标的的红外吸收谱图。三、实验样品的准备要获得好的谱图，制样是关键，要掌握好样品厚度。常用的方法有：1 .薄膜法。对透明的样品可制备成薄膜，厚度10m30m01）对热塑性样品，可将样品加热到软化点以上或者熔融，加压成适当厚度薄膜。2）能溶解的材料，可采用溶液制膜，具体是选用适当溶剂溶解样品、静置；将清液倒出，在通风橱中挥发浓缩；浓缩液倒在干净的玻璃板或者聚四氟乙烯制成的圆盘上，待溶剂挥发后取下薄膜。也可将浓稠的样品溶液直接涂在氯化钠晶片上，成膜后连同氯化钠晶片一起进行红外测定。2 .卤化物压片法。取12mg试样粉末在玛瑙研钵中充分磨细（试样颗粒小于所用的辐射波长，那么可消除或削弱粒子的散射影响。一般需粉碎至2m,再参加400mg枯燥的KBr粉末，继续研磨几分钟，直至完全混合均匀。将混合物在红外灯下烘烤Iomin左右（温度不宜太高），约取100mg混合物于压片机上进行压片，获得直径为13mm、厚为左右的薄片。四、谱图分析编写实验报告：参考红外基团特征吸收表，对照谱图判断含有那些基团，推定可能是何种物质；再查阅标准谱图，判定推断的结果是否正确。标出化合物中阴离子对应的振动峰。1.分子式为CBHl5N,根据其红外谱图，推断其可能的结构。2.原始d氧片中间夹一片由铝氧八面体连接而成的水铝片)红外谱图3.用有机试剂改性后的谱图多出的峰值，说明十八烷基三甲基溟化镂(1832)已经进入到蒙脱石层间，形成了有机蒙脱石新材料。附录：a、化合物中不同状态水的红外吸收波数(cm1)水的存在状态O-H伸缩振动弯曲振动游离水37561595吸附水34351630结晶水3200-32501670-1685结构水(羟基水O-H)-364013501260b、硫酸盐孤立S4四面体的阴离子团有四种振动模式，即W为对称伸缩振动；V3为反对称伸缩振动；V2、V4弯曲振动，它们的振动频率分别是983、1150、450、611cm/名称V)V2V3V4水振动硬石膏10135151140,1126671,6124201095592667,634半水石膏10124651158,1120602-6693615,1620二水石膏10004921131,11423555,169010064131118,11383500,1629c、碳酸盐力常数较高未受微扰的碳酸根离子是平面三角形对称型，简正振动模式有对称伸缩振动11201045cm/反对称伸缩振动15101390cm-1面内弯曲振动775680c面外弯曲振动885820cm-1d、硅酸盐矿物孤立的SiCU离子只有四个振动模式，它们是W对称伸缩振动；V2双重简并振动；V3三重简并反对称伸缩振动和V4三重简并面内弯曲振动。这四个振动中只有V3和V4是红外活性的,它们分别在800-1000cm/和550-450cm之间。结晶二氧化硅(Si-O-Si)对称伸缩振动发生分裂为800和780cm，而反对称振动在IIoO左右，峰很强。硅酸盐中Si(l阴离子Si-O-Si非对称伸缩振动：孤立SQ四面体800-1000cm-1链状800-1IOoCm/层状聚合900-1