GB_T 21711.2-2024 基础机电继电器 第2部分：可靠性.docx

引宫IVI范困I2规苞性引用文件13术语和定乂I4总则35试验条件45.1 样品45.2 环境条件55.3 工作条件55.4 试验设备56失效判据57输出数擀68输出数据分析69可究性量值的表示6附录A（规范性）数据分析7网录B（宽料性）数据分析示梃16附录C（资料性）统计表25附录D（资料性）成功运行一一无失效的试验27考文献29图R.1威布尔粒率绘图纸示例9图A.2累枳失效率绘图纸示例IO图A.3标绘出的各数据点和绘制出的百线Il图A.4分布参数的估计Il图B.1分布参数估计18图氏2累积失效率图20fflB.3定型试验与成布尔贝叶斯分析的周期试脸比较24表A.I无失效品的威布尔贝叶斯亚信度15表B.I累积失效率分析记录我）6衣B.2记录表示例18表B.3此案例中前20只失效品的数据21表C.1fln¾tttt25衣C.2正态分布的分位数值26表D.1样品数和寿命循环次数28基础机电继电器第2部分：可靠性1M本文件规定了采用适当统计方法对继电罂酎久性试及迸行评定的试验条件和细则,以获得其可靠性的特性值，木文件适用于认为是不修理产品的战础机电继电器（即失效后不加以修理的产品继电器的寿命通常用褥环次数（CTF）&示。因此当在GB/T349872017中使用“时间”或“持坡时间”这些术谱时,都具有一循环次数”的含义.然而,在蛤定的工作频率下，循环次数可以转换为相应的时间（如失效前时间TTD.木文件熄定了描述基础继电器在正常使用中可他性的失效判据和所得出的特性值，当达到煨定的失效判招时.则维电器失效发生.基础继电器的失效率不能认为是恒定的,特别是由轨根机理所造成的失效率，被试产H的失效前循环次数通常呈现为成布尔分布.本文件规定了以数位法和图解法计算两参数喊布尔分布的近似（ft.及以成布尔贝叶斯法确认可靠件Jft值的置信下限和方法.本文件不包括对基础机电维电涔增加的可施性验证要求使用的程序，注I:这种可靠性试验程序在IEC6181021中规定.特别是欣定将基砒机电继电器机装在符合IEC62061和GR/T1685区1规定与安全相关的机械控制系统中时，IK61810-2-1为制造厂规定了提供Bifln由的试验如注2:JW符合IE06181。3规定的强制定位（机械联钺）触力:的基地机电第电寄能提供符合CBZT16855.12018中25.3规定的1i缅泓IK率.2般范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款，其中,注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件.其段新版本（包括所有的愫改单）适用于本文件.GB/T21711.1-2023茶础机电维电器第1都分：总则与安全亶求（IEC61810-1:2015,IDT）GB/T349872017威布尔分析（IEC61649:2008,IDT）3术诺和定义下列术语和定义适用于本文件，31产aItem能够被单独考虑的任何元器件，½木文件,产品是梯就小侬电器，12不修理的产品non-repairedilcui失效后不加以修理的产品。来岫GBT2900.13-2008,191-0103,付惟改3.3样本sample用以提供总体的伯息的一个或多个采样单元（份样）.来源：GB/T2900.832008,151-16-19,行修改J14抽样单元sampleitem在类似产品的总体中的一个单个产品且一时从一地取出的一个部分.来源：GB/T2900.83-2008,151T618,有修改）3.5Wcycle基础维电寄>动作和越后的择放或曳归.来湖iGB/T2900.63-2003,44402113.6工作Ptfrequencyofoperation循环次数件单位时间.来源：GB/T2900.632003.444-02-123.7可性reliability产品在给定的条件下和给定的循环次数或时间间隔内，完成要求的功能的能力。注1：通常以为产丛在时间间隔内的早脚介段处于能完出U胧功能的状态.注2:术语“可电性”也被作可删!特性的St度（见IEC60060312:3001,3120706）.来源IlEC60050395:2014,39507-131,fti18可性试Iftreliabilitytest对产品可览性量度或性质进行测域、定量或分类所实的试脸。来源：GB/T5080.1-2012,3.1,26,有依改3.9寿命试龄Iim为了估计，½证或者比较产品各f命所进行的试验，来源：GB/T5080.12012.3.I.16.有修改XlO失幢环次RcyclestofailureCTF产M从进入1：作状态的瞬间开始至失效时为止的总循环次数.3.11平均失效ItW环次三tmeanCyCleStofailureMCTF失效而循环次数的期型fft.3.12ti三tofailureTIE产品从进入工作状态的瞬间开始至失效时为止的总工作时间,样品应从同一生产批次且长及结构相同的产品中随机抽取，从抽样开始到试的开始为止的期间不允许对样品采取措,被，在抽样之IW任何特定的老练程序或可辞性魔力筛选由制造厂进行,这种程序应适用于所有产Ai.制造厂应与试验结果一起对这种程序进行说明并公布.除制造厂另有规定外，在试验中被试维电器的所有触点强加规定负我井迸行连续监测，所育样品同时开始试.般,并在某一循环次数下停止试验.在此瞬间,一定数盘的样品已失效.记录每只失效样M的失效而俯环次数.试验中的样品一旦失效就不能对我替换.5.2所有祥M的试验环境条件陶相同：一一样品应该以正常工作的方式进行安装：除另有规定外，特别是安装在印制电路板上的维电器应处于水平位置进行试验：一一环境品度应按制造厂规定：一一除另有规定外,所有其他影响fit应按GB/T21711.1-2O23的表I中规定的数位和公差也用.5.3 0?工作条件：一一线图额定电压：线圈抑制（如付时;一一工作频率：占空比：一一触点负我.应按制造厂规定.应按照GB/T21711.12023的第5章中给出的数值选定推荐（ft.应对制造厂规定的f种触点负我和报种触点材料进行试.按特定触直倒我的需要,作为鳍电器移体的如成部分或由制造厂表明的所杓规定潺件（如保护或抑制电路）,若有时，在试验过程中均应工作.应对触点进行连续监测，以检测Hl断开故障、闭合故障及不需要的桥接（转换触点的动台和动断两触点同时闭合）。制造厂表明的触点负栽连接方式应符合GB/T21711.12023表16的规定5.4 m除制造厂另有规定外，应采用GB/T21711.12023附录C中规过的试验电路，并应在试蛤报告中表明.6失跖被试维电器的任触点在任何时间不断开或不闭合或呈现为不需要的拚接,均应认为是次故障.规定为下舛三个产酷等级：A级；首次检测到瞬时故障被确定为失效：B级：6次检测到瞬时故障或2次连续的故除被扁定为失效：C段：按制造厂焜定.应由制造厂煨定试验所枭用的严酷等级，并应在试检报告中说明。试股中出现的下列故障均应划定为失效.如绝缘故障,介质耐电压试的故障，外无热变形、燃烧成其他.7出我用于分析的数据由每个核试样品的失效前循环次数（CrF）姐成.这些CTF值应准隔无误。然而，在5.1煨定的试验条件下，不必收集到所有被试样品的CTF值，8出Ik也折对试验中狭密的CTF位的估计应按附录A中给出的程序进行.注：数据分析相价颇汁灰刺桐仁9可蠡性我示应梃供本文件中规定并从数据分析中得到的适用于继电器的基本可旅性最值。然而，枭用网录A程序所得到的这些可旅性加值，在很大程度上取决于继电器的荔本设计特性、第5章中的试验条件和第6章中的失效判擀,因此还应叮试取结果一起提供下列信息：a）得到试验结果的继电器型号：I）缺点材料；2）与标准型号的差别（如仃时）；3）引出福类型。b）工作条件（见5.3）:1）戕固额定电压；2）线圈抑制（如有时）;3）工作领率：I）占空比；5）触点负我：6）环境条件.C）选用的试验电路（如果不同于GB/T21711.1-2023的C.I时,见GB/T21711.12023的C.3,或详细试脸电路）；d）严酷等缎（见第6堂）.此外，试验的基本数据及相关的分析（见阳录A）应在试验报告中蛤出：a）分析方法Ib）被试的样品的数（n）：C）试险时记录的失效篇数（力：d）试验终止时的时间（以循环次数给出）：e）置信度，如果小于90%.试验结果适用于制造厂规定的试验样品和相似产品,只要相关的设计特性保持相同。½可的示例为，具行相同安匝数的分悯规格，不可接受的j制为，用交澈Ia恸口砌做成不同的触点动态特性，当可得到不同工作条件（如触点负软下的试验结果时,则可以将这些试验结果绘IM成僦曲殴或合适的表格.但在绘制这些曲战时应保证有测定的足鲂的点数，M»A范性）敷迎析A.1M本附录取自于可靠性标席GBT349872017,并为适合于基础继电器的程序作了些必要的修改.在该可靠性标准中,认为分布是威布尔分布,这是为适合基础继电器的数据分析线过了脱证而公认的.GB/TS4987-2O17中包含了图解法和数值法.此外，在图解法中不仅采用了戒布尔概率分析，也采用了或布尔失效事分析。这电成人尔失效率分析和威布尔概率分析各Fl玷用于完整的和不完祭的敬据,尤其是后者对继电器的可兜性分析特别有用，因为从后命试脸中就得的许多数据如是不完整的（制失试验）.注1:不完整数据过是指样M山达到一定的失效品数或定的循坏次数后还有样品任正常工作，出时的试依中所获得的数据组,而克整数据组则是没仃刑失的数嫄11.本附录按6113，19872017规定，对于以中位扶何日（MRR）法为依据的图解法，采用成布尔线率图和威布尔失效率图.对于数值法,采用极大似然估计（M1.El当有更深程度的侑息禽求时.可查阅GB/T34987-2017.对于辨电器,应将“时间”理蝌为“循环次数”,但.若有一个给定的工作短率,则可以将循环次数找换为相应的时间.注2:凡在OkTM9872017中使用的变t-时间”（符勺为I）,在本文件中均使用变址循环次数”（符号为C）.下列符号和公式与GB/T34987-2017ft.A.2rwCDF:累枳分布函数(CUmUlatNCdistributionfunction):MRR:中位秩回归(medianrankregression):M1.E:极大似然估计(maximumlikelihoodestimation);McTF:平均失效加循环次数(meancyclestofailure);PDF:概率密度函数(PrOlWbiIiIydensityIimclion),A.3符号和定义F列符号在附录A、附录B和附录C中使用.补充的常数和函数在正文中规定.f（c）强率密度函数：F（C）素枳分布函数（失效概率）：h（c>失效率函数（或瞬时失效率）；H（C）累枳失效率由数：R（C）威布尔分布的可靠度函数（存活徵率）；Bu一一总体的10%失效时所预期的时间（寿命的10%分位值）:c循环次数.变量：m平均失效面循环次数：一一收布尔形状参数（表示Rfi时间变化的瞬时失效率的变化率）：威布尔尺度参数或特征寿命（在63.2%的产品失效处）。标准差A.I威布尔分布基本或布尔公式定义如下。注：更多的信息查阅GRg9872017.裁布尔分布的概率密度函数(PDF)见式(A.I):f<,)广;<a1)累枳分布函数CDF).或在循环次数C点得到的失效仃分数见式(A.2):Rc>=le<cO(A2)可靠度函数R(c),或在循环次数C点得到的存活百分数见式(A.3):R(c)=lF(c1=<-(c/(A.3)失效率函数(或随时失效率)h(c)见式(A.4):h(.c)=(A4)果供失效率函数H(C)见式(A.S):“G)(；)，(A.5)A.5程序A.5.1图解法A.5.l.l«1述图解分析是在合理设计好的威布尔概率纸上标出数据的点，通过这纥数据点拟介出一条直线，井估计出分布参数(形状参数，特征寿命或尺度参数)。然后计算可靠性特性伯(如，HCTF伯、B假和标准差)，图解法好处是操作比较简”1并适用于具有混合失效模式的数据.峻布尔概率和成布尔失效率图使用的基本分析法和操作要点在ASl中给出。A.5.1.2威布尔概率图A.5.I.2.I播序和标位置点为了绘制成布尔图，将从地小失效前循环次数到最大失效前衙环次数c:所获得数据行排序。这个排序将确定以失效前循环次数C为横坐标及用百分数表示的决积失效摄率F(C)为纵坐标的描点位见采用中位秩回归(MRR)计算F(c).近似伯可通过贝纳Wj(Benard)近似法获双见式d.6)(见68”349872017的7.2.1):F(c)=(i-0.3V(n+0.4)%(A.6)式中：N被试样如数：i一一数据样品的秩对于搁置和刷失数据，其数值会有必要进行调整,%GBI34三-2O17的7.2.3.在威布尔概率图纸上标出数据点C：.F(C：).详见GBT34987-2017的7.2.I和7.2.2.A.5.1.2.2威布尔概率绘图纸威布尔概率纸的设计如下。A(A3)可改写成下列方程式，见式(A.7):!e"W(A.7)I-FG)对式(A.7的两边取两次自然对数.每到直就方程式(A8),如下：InIn,(A.8)(A.9)该式是y=ax+b形式的R战方程式,y惊见式(A9。威布尔概率纸是按照对一采用单对数刻度的C能采用相互可对应转换的另一双对数刻度标绘出其累枳失效概率进行设计的。例如，当该式按函数In(C)绘图表示时,按此方法绘制的直线的斜率即为形状参数.lnln11F11式中:a=;x=lncb=-ln;尺度参数可从b=-lnp获得,见式(A10):-cxp-b0式中b0为C=I时的y值.此时In(C)=().当数据点符合威布尔分布时.标绘在成布尔分布绘图纸上的这当数据点将成为为空白的成布尔分布图纸，U11k.关炳的I用烛图AJ威布尔概率给图纸示例A.5.1.3失效率曲线图A.5.1.3.1排序和标位置点为绘制失效率图,将从最小失效前循环次数到最大失效的循环次数所获得的数据进行排序.这个排序确定了与循环次数(C)对应的曲线位置标点即以百分数计算的根枳失效率值H(C)的攒坐标和纵坐标，H(C)采用失效率值MC)计算。将数据点c;,H(C;)标绘在累枳失效率图纸上。详见GBrT349872017的7.3.A.5.1.3.2累积失效率绘图纸累积失效率图纸的设计按图A.2所示.对公式(A.5)的两边取自然对数得出式(A1):InH(C)=QIncl11p(A.lI)该方程式是y-axb形式的出线方程式,yft见式(A.12)累积失效率图纸是按照将采用一单对数刻度的C能采用可相互对应转换的另一单对数刻度标出其累枳失效率进行设计的.例如，当该式按函数IMC)绘图表示时,按此方法绘制的出线的斜率即为形状参数B.y=lnH(c)(A.12)式中：a-:X=Inc;b=-ln;尺度尺数可tb=-ln得出式(AJ3):=exp-bo(A.13式中M为C=I时的yft.JBtln(c>=O.当数据点符合累枳失效率函数时,图A.2为空白的累枳失效率图纸.标绘在半枳失效率绘图纸上的这映数据点将成为一条ft线,图A.2累积失效率给图纸示例A.5.I.4分布叁数和特性的估计值城布尔概率图和失效率图中的分布杂效和特性是相同的。通过绘图纸上的各数据点绘制出一条汽线(各个数据点的G佳拟合).,.(5.2.2.2标准差的点估计，。按式(AJ9)计算;=7×>,T(l+2p>-F(l+l)(A.I9)A.5.2.2.3失效前循环次数的分位值(10%)的点估计.B.B1按式(A20)计算:<a-2°)A.5.2.2.4在到达循环次数(C)时的可拿度的点估计在到达循环次数C时继电器可玄度的计算和表明是任选的.在到达循环次数C时的可拈度点估计按式(A21)计算IR(c)=cxp-(C)(.2l)A.5.3置信区间A. 5.3.I总财附录A取自可旅性标准GBT34987-2017.对于(卜丫)10伙的黄信度，U的讹信区间(WlB,uB)和11的置信区间(A：方，A27)可按下列步骤得出，条件是将n只样品投入试验且试验在出现r只失效品的时间或数目时停止.A.5.3.2B的区间估计步骤I用比(ftq=rn和式(A.22)、式(A.23)和&A.24)计算出常数C.1和"：C=2.14628-1.36lll9q(A.22)l=X1I2Kr-1K：(A.23)2=Xi-1(r-K?(A.24)式中，X?(Y)是具有V自由度的X1分布的P分位位.由于自由度的数值(I-I)C不会是个整数，应采用计更机程序或通过ISo2854:1976的&Hl或IEC60605-4:2001的表Dl的插值法计HX2分位依，步就2一用式(A.25)和式(A.26)计算放大系祗和w:(A.25)步骤3一一用式(A.27)w*=计算的置信度为a-Y)100%的置信区间:(A.26)(W1fl,>V2)(A.27)注：B的置信区间即肝对比.由于Bfft大于1构成了出H的证"而B值小于I则防为反期失效,囚此。的置信区间可用验UB假设，相反，如果的置信区间含有的依等于1,则被试样可能属FT具有忸定失效率的总体.在11iC6OMx2OO7中规定了恒定失效率的正视试验.M«B1.1 Sm磕案例分析OR积失效率图)R1.1MH提供此具体的案例是在进行基础继电器的寿命试验分析时对累枳失效率曲观图程序作出说明,此程序符合附录A的规定.本程序以一个具有两种失效模式的不完整数据为例.收积失效率曲线图程序熄定CH曲线图并采用普通科研计算器或他斗函数表对分布叁数和可黏性将性的他i匕本案例中使用了多个删失数据.因此,A.5.2中给出的分布参数的数学方程不适用.注rGBXn阚7201?中未包含此案例,因此，本附录只规定了图蝌法估计,省略了数依法估计。B.1.2H租失效率图H序8.1.2.1 WtB.1.2烛定r使用炭积失效率图纸估计数据的或布尔分布参数和可靠性特性的程序.R1.22府Inttn对观测到的数据按步骤1至步骤6排序并绘制曲线图,建议采用表B.1所示的记录表绘制曲线图.«B.I翼取失效率分析划Ht样品跳号秩反向秩循环次数(c:)失效模式失效率做龈枳失效率值(H;%)iKz=n-i÷lM;h%MiM1步骤I将扶i和反向秩K:,填入各相应的栏中，K：的数值按式(B.D计算:K;=n-i+l(B.1)式中：n试验样品数.步骤2按失效前的最少循环次数至多循环次数的新序将观测到数据进行整理，格失效前循环次数的数fj'iC(Iji对险的c;)同时填入表中,也将每只样丛的铜号域入到。c;对应的祥品编号栏内.步骤3将失效率值h(c)填入到与c.对应的栏内，并按式(B.2)计算：h(c;>=l/K；x1(X)(%)(B.2)步骤4如果出现多种失效模式，则将失效模式编号埴入与c:相对应的失效模式编号栏M:内.此处j是具体失效模式的模式编码。步骤5将出枳失效率依H;(c;)填入到相应的栏内，井时同一种失效模式(M，按式(B.3)计算每个数值：人);*(.J但3)ifcR制见&B2.步骤6将与仁.H:(CM对应的各数据点标绘在JK积失效率图上,然后.通过短一种失效模式的各数据点绘制出最佳拟合了数据的一条直线，步骤7如果数据点的分布接近于直线.则继续到氏1.2.3,其结果在来地位置参数y=0的威布尔分布.如果难以绘制出直规,则应更好地再桧查失效模式,并对试验所用的继电器进行详细的失效分析与诊断，或由新评估试验条件等，8. 1.2.3分布参数的估计形状和尺度参数按下列现定从曲线绘图纸中得到.a)形状卷数的点估计，B通过坐标点UnC=IjnH(C)=0作一条平行于上述原绘制Iii线的平行线.这个点的纵坐标值为H(c>=100%或F(C)=63.2%)。此平行线与通过InC=O的垂出线的交点所对应的InH(C)值即为B,按图B.1所示。b)尺度参数的点估计.Q宜接由原绘制直线与通过InH(C)-ICXK或者F(C)-63.2处的水平线的交点得出,按图B.I所示.B. 1.2.4分布特性的估计平均失效前循环次数(MCTF)m、标准差。和失效前循环次数的分位值(10%)Bl的估计值按卜列规定得出，a)平均失效前循环次数(MCTF)的点估计，mm是采用B.I23得出的方值和。伯，并采用普通科研计算器或合适的伽马函数我确定的fill马函数值，由公式(AlM)得出。b)标准差的点估计，。按与式(AJ5)相同的方法得出.C)分位值(10)的失效前循环次数的点估计，B.Blo是原始线与通过当H(c)-10.54%的水平线的交叉点处说出的C值,如图B.1所示.KB.1分布Xt估计B.3寿命Klftat示例B.1本示例依据刘础继电器的寿命试验，验证采川或布尔失效率图进行可旅性分析的有效性.对30只样品进行试股，在124（KKIo次循环时则失（故尾,大都分样品因触点熔接（失效模式1）或触点8?损（失效校式2）而失效。B.1.&2府*Ma采用B.1.2.2中步骤I刎步骤6的程序进行记录并绘IW失效率图.得出衣B.2和图B.2.«8.2记JHt示例样修编号秩反向帙循环次数（c）×i失效模式失效率依累积欠效率K=n-i-*l*h%电12I304JKI13333.333272295203.1486.7233285453.57110.3531042758523.7043.704652658523.8467.5502262560024.00011.5501872460014.16714.5201782360524.34815.8983092263514.54519.0659W2164。24.76220.WO23H2064525DOO25.66028121965515.26324.328-2113186S525.55631.2165111767025.88237.09815151668016.25030.578IH法：果用在“本科学技术联盟出版社出版的坐标纸面上作/同版n的失效率坐标纸.EB.2租失蚊率BB该样本的分布是对折威布尔型,触点熔接失效（模式I）J（C所对应的数据点用实心小Wl点“”标出.触点磨损失效（模式2）所对应的数据点用交叉符号“+”标出.B.I.33分布的估计采用B.1.2.3的程序得出下列结果：=3.55,71=1.006×10"：2=7.46.7g=8.25×IO5.R1.3.4分布依性的估计采用B.I24的程序得出以F结果：m1=9.60×10s.o1=2.83×1O5.BIol=5.60×10s;m2=7.74×10s,2=!.22×10s,Blo2=6.IO×10s.B.2依值速案例分析S布尔概率）8.2.1 *）£下列案例取自于GBZT34987-2017的附及B.弁为适合于A.I所述的基础维电网的作了必要的nrt.这是提供了一个数值法的试验案例来监证执行本文件程序的计灯机程序的在谶性，为了证明与或布尔分析图侪法的相关性.所给出的数擀也绘制在了成布尔挹率纸上.采用25只样品进行试蛤，试的在第20只样显失效时停止.表B.3是与前20只失效品对应的循环次数（以10,次为单位）«B.3比索例中,20只失效品的fltU«4uI“IinItgIIO«It!2It>3tht!5t16n>H8tlo510IT3232IXJ31I36I5455I55I58I58618166656667采用本文件的数值法,得出下列结果.8.2.2 分布B和n的极大似然估计（M1.E）值为:=2.316,7=61X10*.B23平均失效环次MCTF）平均失效前循环次数m的点估计为：n=54.06×10,（,8.2.4 Bt总体的10%失效时的时间（以循环次数为单位）,B的点估计为:Bj0=16.05×101-8.2.5 平均失效Iffl（MTTF）只有知道r适合于具体用终使用的单位时间的循环次数，才能输定对维电器平均失效前时间(MTTF)的怙计。例如：若每单位时间的循环次数是100次每天.继电器的MCrE是54.06X10,次.则在此应用中继电器的MTrF可以计算如下：MTTF=MCTF/每单位时间的循环次数=54.06X10,/100=540.6天B3值IZfl的案例分析B3.1对于B.2中所示试脸数据进行B和Q的区间估计的数值法案例,采用A.53中的数值法,得出以下结果：条件是,置信度(IY)XlOov95%,即丫-0.05,试验样品数n为25.定数截尾数为20.B32B的EMttH步骤1常数.Cpi和BZ采用比GiqEn和式(A.22)、式(A.23)及式(A.24):q=0.8:C=I.057,此处，如采用合适软件的本附录中示例的分布的情况，这是符合需要的。由于自由度(r-l)C不会是一个整数，因此应采用计算机程序,或按ISo2854:1976的表川或IEC60605-4:2001的&D.I中的插值法来计算X2分位值.按IEC60605T:2001得出：Pi=IO.9：B2=31.5.步骤2采用以、2及式(A.25)和式(A26)得出放大系数WI和w?：w1=0.668:W2=1.276,步骤3-采用由式(A.16)与式(A.27)的“、w2和B,得出B的置信衣为(1Y)IO0%的置信区间；(w1,w7p)=<1.55.95).R&3步骤la(r<n)首先，采用式(A.28)至式(A.30)得出常数A,、As和A(.:A4=1.036;As=0.731;A6=-0.0S4K接下来，采用As和式(A.31)得出常数A:A3=0.299.另外，采用A3'A.和式(A.32)与式(A.33)得常数的、dz、AIA2:dl=0.839；d2=-0.795;Aj=0.71;A2=1.44.步骤2一采用Ai、A2和由式(A.17)、式(A.38)得出的n的双信度为(I-Y)Xl00%的置信区间:(A17,A2n)=(43310.87840)此处,在“弯折”型分布的情况下需要采用合送的软件是符合备要的.见A51S中的描述.B.3.4B0的置信下限计算（l）x00%=95%下BO的置信下限（详见GB/T3例7-2017的10.5）:h1=-2.2504:x-oos-1.6449;61=3.3955;Q1=0.6099;B0I限-QiB10=9.789×lOj.B35R的置信下限在1=20X10'次循环时计笄可推度RW（l-Y）100%为95%的巴信下限，R,-yl卜限（详见GBl349872017的10.6）:C,=2,5828AII=6.0869031.TMCf用1三0.8293B.4威布尔贝叶斯案例分析3只维电器用于周期试赛以脸证批量:缚电器的可推性。B值取自于定型试胶的威布尔分析（Q=65000次,B10=25000次，=2.4）.维电器样品分别试验到56612次、69765次和71957次循环.没有不断开、不闭合以及绝缘失效的记录.假设B=2.4,和在周期试验中对3只继电器样品记录的第环次数、可以采用威布尔贝叶斯法估计出特征赤命.Z1.I侬且空山管匕也生亡247次叱图B.3中绘制了威布尔贝叶斯战.可以表明，在63.2%的我信慢下由新试蛤的继电器的威布尔分布设在原63.2%践的右恻，因此，在该附信度下，显著优于取自定型试蕤中的继电器,I可样也可以表明，在9（汽的置信度下，重新试脸的维电器的或布尔分布线在原颊线的右侧，可以认为此周期试脸能确认继电涔具有与定型试脸的维电器相同的可靠性,但还不能用此数据的样本来证明，随着这些继电器试验至更多的循环次数而无失效，成布尔贝叶斯线将会进一步向右移动并获得更多的保证.在这种情况下，假设斜率的依据是已确定的哦布尔失效模式.注I:对于威布尔贝叶斯汕果的也终阳½,建议应考虑到所有影响St注2：对于有失效品的威布尔贝叶斯案例尚无计划.Wr21711.2-2O2VIK6181(2:2017Hb3定SHaft与布尔贝叶斯分析的JiXmlft比较C.1«4SM伽马函数的定义按GB/T3358.1-2009的2.56。表C.I给出了作为k的函数的T(llk)的值.对于未列入此我中的k值,允许采用级性轴的法计算，*c.iAMk值kF(PlZk)kF(IHA)kF(HlZk)0.201201.500.90273.600.90110.25241.550.89913.700.9021O.：W9.26031.600.8966XHO0.90380.355.02951.650.89123.火10.90510.403.32331.700.8922，1.000.9网0.452.50551.750.89Oi-t100.90760.502QO1.SOO.BKJtt4.200.90H90.551.70241.850.88824.300.91010.601.50451.900.88744.400.91130.651.36031.950.88674.500.91250.701.段72.000.8862*1.600.91370.751.19062.10O.H85<1.700.91490.801.13302.200.88564.800.91600.851.08782.300.8854.900.91710.901.05222.400.88655.000.91820.51.02382.500.88725.200.92021.001.00002.600.88825.400.92221.060.9802.700.88以5.600.92411.100.96192.HO0.89035.HO0.92601.150.95172.900.89176.000.92771.200.94063.000.89306.200.92931.250.93143.100.89436.400.93091.300.92363.200.89566.600.93251.350.91693.300.«970aHO0.9I¼01.400.91143.400.89弘7.000.93541.450.90673.500.6997ROO0.9417C.2正态分布的分位敬表C.2对一般要求的自变IitP值给出了正态分布的分位数值up.«C2正态分布的分位SMkPUP0.0102.32630.0251.96000.05(11.&M90.1(»1.2816此处，对于正态分布UP=U,-pePfJ录)(资料性)成功运行一无失效的试骐D.1总剜威布尔分析提供了一个实用和而效的工具用于解答产品的工作特性，并能有助于识别失效模式，特别是当有多个失效原因引起的过程(失效机理)时.然而，有两个很常见问时衣至更为重要：在电耐久性试粉时，试粉多少只样品至多少循环次数而无失效发生才能保证所要求的电耐久性？这就引出了两个主要问题：a)多少只样品必须试验到规定的工作次数,或者b)给定数收的样丛必须试验多长时间而无任何失效.D.2置信度和最低可靠度为了得出元器件或组件可奈度的估计，以历史数据为依据，在实际批或产品生产之前时有限数业的试验样品进行试脸。这是发现域本设计和/或制造缺陷的可掩方法。另一方面，如果在试脸中不能施加很大的负栽.则检测到随机发生或低频率发生的故障的概率很小.累积分布函数(CDF),或试骁样品在砧环次数C时发生失效的预期百分率见式(D.1):F(c)=l-c-<cp=I-R(C)"(D.1)