GB_T 43658.1-2024 无损检测 管道腐蚀及沉积物X和伽马射线检测 第1部分：切向射线检测.docx

ICS19.100CCSJ(MG日中华人民共和国国家标准GB/T43658.12024/IS020769-1:2018无损检测管道腐蚀及沉积物X和伽马射线检测第1部分：切向射线检测Non-destructivetestingRadiographicinspectionofcorrosionanddepositsinpipesbyXandgammarays-PartIzTangentiaIradiographicinspection(ISO20769-1:2018,IDT)2024-03-15实施202403-15发布国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次rttin引才INI范明12规范性引用文件I3术语和定义24射线检测技术分级45总体要求56推荐的射线照相检测技术67射线底片/数字图惮的灵岐度、质Ia和评定158数字图像记录、存储、处理和显示239检测报告24附录A1货科性）不同管道的射线源选择26附杀B（资料性）内壁腐淡的婀氽壁19测量27附录C（资用性）外熨腐蚀的剩余壁厚测艮29参考文献33本文件按照GB/T1.12020(标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草.本文件是GB/T43658无损检测管道腐蚀及沉积物X和伽Iq射线检测的第1部分.GByT43658已经发布了以下部分：第I部分：切向射线检测：第2部分；双壁射戏检测。本文件等同采用ISO207691:2018无损检测管道蚀及沉枳物X和伽/射线检测第1部分：切向射Ift检测,.请注意本文件的某此内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的货任，本文件由全国无损检测标准化技术委员会(SAbrC56)提出并打口.本文件起侬单位：上海材料研究所有限公司、湖北：江航天江北机械工程有限公司、北京航天特种设备检测研究发展有限公司、上海航天设备制造总厂有限公司、机械工业兰州石油化工设备检测所有限公司。本文件主要起草人：蒋建生、班勇、伍建雄、杰、徐植、4口1、悔恨、苏屏德、黄盼'幽月姬,石彦热、马君。小口径管、压力管、锅炉汽包和压力容器等管类产品在工业中应用广泛.随着服役时间的增加，管内外型极易产生腐蚀性损伤并可能导致首税系统失效.当管内外壁出现腐蚀性损伤，损伤部位出现腐蚀结樨，实际管壁减薄.腐蚀部位和未腐饨部位出现厚度龙，采用射线检测发现腐蚀损伤部位情况，相较其他无损检测方法，射线检测技术凭借其高灵拙度和直观性的优点，能及时发现管内外壁腐蚀情况，这对保证管件安全运作具有取大意义，GB/T43658拟由两个部分纲成。一第1部分：切向射战桧测.目的在于规定使用工业胶片射线照相、计舞机射战照相(CR)和数字阵列探测潴(DDA)在管道中心线上和偏阳管道中心线上探测和测量壁厚方向厚度损失的切向检测技术。一第2部分：双嬖射战检测，目的在于规定使用工业胶片射线照相、计算机射战照相(CR)、数字阵列探测器(DDA)探测和测量可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的在役双壁射战检技术。本文件是GB/T43658的第1部分，分别从射线检测技术分级、总体要求、推荐的射规照相检测技术、射线底片/数字图像的灵微度、质埴和评定、数组图像记录、存储、处理和显示等方面进行规定，IV无损检测管道腐蚀及沉积物X和伽马射线检测第1部分：切向射线检测1a木文件短定了满足检测要求以期获得满怠、经济、血史性好的检洌结果的胶片和数字射畿黑相检测的基本技术.本文件观定的技术以检测基本理论和试验为基础.本文件适用于钢泞服役过程中引起的点状腐蚀、面状腐蚀和侵他等缺陷的射践检测.本文件中使用的一访”除其常规含义外，也包括其他IW筒形物体,如小11径笆、压力管、锅炉汽包和压力容罂.木文件规定的检测技术适用于腐蚀/侵蚀类缺笛的樨经检测，不适用干焊接过程产生典型映陷的检测。本文件描述了可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的评价方法.管道可能含或不含保温层。本文件规定了探测和测fit壁厚方向厚度损失的切向检测技术,包括以下射线源布置：3)在首道中心找上：和b)在管径方向上偏掰中心线.ISO207692煨定I'双壁射线检测技术。双壁双影技术海常和阖在管道中心找上的切向射城技术联合使用.本文件适用于使用工业胶片射线照相、计算机射线照相(CR)和数字阵列探测器(DDA)的切向射践检洒技术.2制范性引用文件卜,列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条数.其中，注口期的引用文件，仅该H期对应的版本适用干本文件：不注日期的矶用文件，其域新版本(包括所有的修改单)埴用于本文件.ISO9712无损检测人员资格签定Jjiii(Non-dcstnctiYCtestingQualificationandccrtifica-d<,nofNDTpersonnel)注：GT9W52015无损检测人员资格签定与认证(ISo9712:2012,IOT)ISO11699-1无损检测工业射战照相般片第1部分；工业射茂照相胶片系统的分类(Non-destructiveIeMingIndUS(rialradiographicfilmPart1:CkIsSificali<tnoffilmsystemsforindustrialradiography)注：0VTH»18.2OM无损椀测工业射线照相收第1部分：工业射线照相殷片系统的分类UsOIlft»1:2008,MOD)ISO11699-2无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考便方法抄制胶片处理(Non-desr<ivetestingIndustrialradiograph沁filn¼.Part2:ConlrOloffilmprocessingbymeansofreferencevalues)注,GRE93JRA2003Ai损检测工业射戊照枇咬片第泄分；用冬考值方法控制胶片处理(ISoII69»2:199«.IDDISO163711无损检洒基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检渤第I部分I系统分类(Nfi-destncliveIestingIndustrialcomputedr;KliOgrMPhywithstoragePhOsPhOritn<gingPIaIeSPartI!Classificationofsystems)注：(B打21355-2022无损检测茶于存储磷光成像板的工业计第机射战照相检测系统分类(ISo16371-1:2011,IDT)ISO19232-5无损检测射陵照相检测图像质疑第5能分：双丝型像而计图像不清啾度的测定(Non-destnclivetestingImagequalityofradiographsPartS:DeIernImmiOnoflheimageunshatp-nessvalueusingduplexwire-typein<gequalityndicilors)注：G123901.5-2019无损检测射线照相检测图像质贪第5部分双丝织馍质针图像不清晰度的91定(IS)19232-5:2018,1003术管和定义下残术谱和定义适用于本文件.3.1IQHWactualwllthicknessIMt可能与公称原度不同的管壁实际IV町，12三MHtft*三%BaxialcoverageIm<在探测21上>在探测器(3.8)射线照片上测HiIi价管道部分的轴向总苞国.3.3ffiXMUftaxialcoverage-p在管道中心轴上>沿管道中心轴测星评估射线照片管道部分的轴向总长度.3.4basicQntialre>luticn'H/QM*数字探测器在放大倍数为I时数字图像中能显示分所的蚊小几何细节；对应于数字图像上所测定的图像不清晰度假的1/2,H对应于数字图像的有鼓像素尺寸(3.18),并由肉眼观察不可识别分掰的最小双丝丝对数或从双丝丝对税性曲税中以说加深度小干20%的蛙对城小数确定.注1：测定时，双望里像明计直接放置件数,押解I瑞C18)或成像板上注2:探测奉茶本空间分播率SRdEr和不清晰度值的测M方法见ISO19232-5和AsnlE2(X23.5basicspatialreluticNluVtMr数字图像>在放大倍数大于I时数字图像中能显示分笳的段小几何细节；对应于数字图像上所测定的图像不清晰度假的"2,且刈应于放大图像的有效像索尺寸(3.18),并由肉眼观察不可识别分离的以小双生量对数或从双统统对跷性曲观中以议IM深度小于20%的丝时以小数施定.注：图像基本空间分济率SR和不清晰次值的测口方法见ISO1您26和AsTME2此，3.6对比试件ComParatOr用于射线照相图像尺寸校准的只有确定M科及尺寸的参考试件.17计IWiitilji相CavUtedradiographyCR由存傥便允成像板(IP)(323),将IP的存铭信息转换为数字图像的读出中元(扫描仪或读取器)和读出单元控制软件组成的完整泰统.88flUMdetectorD由无损检测(NDT)放片系统(处ISO11699-D或许用机时戏照相(CR)系统或数字阵列探测器<DD)系统俎成的检测装置，注：胶片系统和成像板(HN用作柔性弯曲探测罂或平面探必器,19数字障列探一digitaldctcttorarrayI)D将接收的敢射或透射射跳转换为离散的模拟信号，然后对模拟信弓迸行模/数转换，并传递到计。机和操作软件处理显示为对应入射射规能域分布变化的数字图像转化装置，XlO对比试件图像尺寸inagedcnparatordimensionc'在探测器(3.8)上测出的对比状件6)尺寸.XllHB*fiiaedoutsidediaaeterI，在探测器上测Ilt的管道公称外径，112大穿池厚度maxiinumpenetratedthicknessWSM*与管道内表面相切处的管道材料的以度。3.13MMMtBeesuredwallthicknessI*M在射戏底片或数字图像上泅出的管*ft原%X14公度nominalwallthickness制造商给出的不考虑制造偏差的管镀产度，115归一化信垛比MfttalizwdSignal-EOtuiist?ratioSNRN从数字图像中直接测盘H1/或由测知的信啖比SNR½l化计算得到.即由班本空间分期率SR1imageWI化的信噪比。SVRs-SVR一',m注：当放大倍数为I时,图像基本空间分辨率SRm能用探测器基本空间分辨档K*（3.4）代行.3.16外径outsidediametero.不考虑制造偏差的西道公称外径。3.17BflMpipecentretodtectrrdistaocePDD管道中心至探测器（3.8）的距离，3.18像震尺寸pixel婿次扫描怕像的行（水平间距）或列（乖直间距>中相邻像素之间几何中心的加1短来源；ISO14096-2:2005,3.23.19伯比signal-to-noiseratioSNR数字图像指定区域内,线性灰度值的平均值与线性灰度值的标准是（噪声）的比值,3.20IMVR寸sourcesize射税源（或焦点）的尺寸.米烟ISo16371-2:2017,3.153.21射线源一探退器距离SOUrcegdCg（OrdisiaeSDD沿射线束方向测fit的射线源（或焦点）至探测器（3.8）去面的距海.3.22射Ift瀛一管中心距Jlsource-to-pipecentredistanceSPD沿射线束方向测lit的射观源（或焦点）至管遒中心（管轴）的距周.X23存储珀光成像板storagephsphorimagingplateIP吸收并存储被检I：件射线透照信息形成潜在图像.当受到适当波长的红光激蜡时择放出与所吸收存储射战能试成比例的光致发光的缺光材料，4Im被海技术分at切向射线照相检测技术分为两个等级:基本技术,TA;优化技术，TB.基本技术(TA)是用于祭体管壁损失的切向射找黑相检测技术，如侵蚀或大面积腐蚀。优化技术(TB在用于对检测和定量具有史前检测灵敬度等级要求的局部腐讪、点蚀缺格的切向射线照相检测技术.存在比优化技术(TB)更好的技术，当玷用时，可由合同各方在文件中详细规定全部适合的检测技术冬效.射线照IlI检测技术的选择应由介问各方商定.5融体要求.1射安全防护警告X射线或伽马射线对人体曜康造成重大伤害.无论何时，开展射线检测工作时，应严格防护,确保人员安全和健康，5.2 人员资格按照本文件实施射城检测的人员应按ISO9712或合同各方认可的体系取得相关工业门类的资格等级证书。如果使用数字探浏器熨施检测，检测人员应完成附加的工业数宇射线检测技术的培训和生格饕定，5.3 射线照相影像标识射纹照相检测管道的每一个区段均应放置识别标记.这些识别标记的影燎应位于射线照相图像的有效评定区之外,应确保清暗双别稀一区段标记.5.4 IfNB三为确保班张射我照相图像的定位准确性,在花工件衣面作永久性标记.若材料性质和/或使用条件不准许在工件表面上作永久性标记，可通过精确的示意图等方式记录透照位置.5.5 般片或敷字图像的搭接当在同一透照区域采用曲张及两张以上胶片或一个探测器分次检洌时，每张收片或探测涔影像应具有充分的搭接区域.以确保整个受检区域得到射殴照相检测。应将福密度搭接标记置于搭接区的工件表面验证搭接疗效性.并使标记显示在伸张射线底片或探测器影像匕如果底片区像或数字图像按照峡序进行透照，那么每张底片影像或每篇数字图像上均应显示高密度搭接标记.5.6 像IhHIQI)的集St与放5.6.1 tt&eumH&M#统里或阶梯孔里像质计均不适用切向射线照相检测.5.6.2 双维B及计(ft字射线检物宜按照ISOI9232-5确定的双丝型像质计测定CRDDA检测系统的基本空间分辨率.见7,1.3和附录A.双混型位质计底放置于IP或阵列探测零射线源创衰而上,拐放时。数字图像的行或列倾斜定的角度(2V).6推算的相检蠢技术6.1 现N布量6.1.1 M应采用6.2和6.1.3规定的透照布置.透照使用的胶片或数字探测零应靠近管道放置.6.1.2 射40位于中Nl遗JN该透照布置射线源位于管道外前方，胶片/探测器位于管道对面的另一侧.见图1.不含保温层的管道透照布置见图Ia),含保温层的管道透照布时见图1b),标引序号说明：I一探测器D.B1射嵋位于管道中心线的切向遗黑布置背型损失可箍位于背道的内衣面、外衣面或两个衣面上.6.1.3 射W也中心线遗Hl该透照布置用线源位于管道外前方,胶片/1K测器位于管道对面的另«.见图2a）（不含保俎层的管道和图2b）（含保温层的筏道）。1施测密D.2IHUi道中心线的制向量11布这个透照布置中.射线却偏掰背道中心线，并对Ht背壁中心，见图2.管壁拉失可健位J管道的内表而、外表而或两个表而上.6.1.4 射线束与收片/M的方向射找束应指向透照区中心，射战束中心宜豕口指向皎片或数字探测器.当存在遮挡物的特殊情况下，可能需要对6.1.2和6.1.3中给出的透照布置进行调整,其他的射线照相透照方式可待合同各方商定.6.2 Im尊的遗撵切向射线照相检测时宜根抠管道内衣面切线路径上的蚊大穿透厚度X）确定射线源.见图3.标弓I序号说明：I-三mD.B3切向Imll相检潮的大W透度S最大弃透厚度WmX,按公式（D计扰：Hmv-2'it!D.-t>式中：t一一管道公称印度.D-管道外径.不同射浅源对G大穿透阻度的推荐限值见表1,某些隔热材料（例如跖吸收材料）可能导致我I中给出的最大穿透厚度WmX限值降低.经合同各方商定，获得的射畿照相底片/数字图像上可采用允许的精度测Ia内衣而边缘.这些数值在不同条件下可能有变化.具体的测fit方法见7.6或7.7.«1不周班”州）的大*遗厚度最大穿透厚度VlIX茶使基本技术（大面枳管壁IH失）优化技术（点独）X射线（】00kV）107«1不同射的大*遗及度（续射线也Jrl大穿透原收KiiaxlHifl葩本技术（大面枳花壁4失）优化技术（点蚀）Xm(200kV>3020X用线00kV）4030X射(400kV)5035Se755S40Irl92H060Co60W120数字射战照相检测可使刖比表I中所给出的最大穿透I9度略而的限价，对于特殊管道选择射战魂,宜使用公式（D确定用大穿透犷度wm.并与表1给出的值进行比较。这一过程的图制示例见附泵B。使用伽马射线源进行检测时，为避免运动不清晰度影病,输送射战源的往返时间不应超过总眼光时间的I。6.3 KMJKIUtiMW射双照相机测所使用的胶片系统炎别应符合ISO11699-1的规定.不同时线源财战照相检测选用的胶片系统类别和金属屏更表2和表3,或公考ISO17636-1的表2和表3选用.使用金属屏时，胶片与攵属屏之间应接触好,这能通过使用4空包装的胶片或适当按压方法实现.«25、和答合金管理切向ImlR相0用的收片系或类别和金屏财线源跤片系统类别”金属屏类型和厚度TA级TBfaX射级W250kVC5C4钳屏便、«)0.02M-0.1511nXWS>250kY500kVC5C4WS?(#1)0.1rm-0,2rt'WIW(Jfi)O.02m-0.2wnX射规>500kV-lOMkYC5C4钢或铜屏（前.后）0.25Er-0.7E*Sc75Irl92C6C5铅屏（前、后）0.02m-0.2m,C060C6C5钢或铜麻（蔺、后）0.25n-0.7ITnX射战】MrV-4WYC6C5钢或铜屏（I»、后）Q25nn-0.711«2IUM”（合切向ImIIl相用的放片系筑类别和全射线源胶片系统类别金属屏类型和厚度TA娘TBtSX射战>4McVC6C51M的铜、例，钛屏（前）15铜一钢屏和0.5E1的一屏（后）可使用更好的收片系统类别.使用前屏限度为0.03m的式空包装胶片时,可在工件。胶片之间放徨呼慢为0.Inr!附加铅屏，计对TA练可使用”更为05re2rm错屏。d11时TA级.经合同各方商定,可使用厚度为0.5M-Inn铅屏.«3暂和依切向ImMI相it用的般片系或类曷和金属屏射线源胶片系观类别金膜屏类型和厚度TAfSIBtftX射魏W150WC6C5不用界或无或由屏前）（0.03M用屏（后£。.1511nXM*fc>150kV*-SOOkV«1界（前后）0.02mi-0.2mP&?75!rl92希一（一后）0.02Mro.2皿户可使M更好的胶片系统类别.可使用2个皿度为0.I11n铅屏用代1个朦为为0.2mW.在满足7.2规定的底片照度要求情况下,经合同各方商定.可使用不同类别的胶片系统。6.4 IP用金网鼻与防护枳当使用金园前辨时，IP感光面应与前屏紧贴.能采用丸空包装的IP或按压方法实现.错屏与IP之间的间K!可能导致图像不清限度增大.使用IP与铅屏透照的增感作用明显小于胶片照相.多数IP对低徒疑背股射殴和背放射线防护铅板发出的X射线荧光北常敏!乱这将导致影像边界不清所度增加和信噪比降低,因此，宜采用钢或钢防护板放在IP证防护背散射般,或者在背防护铅板与IP间插入钢或铜防护板，以改善图像质状:。在设计制造IP咯台时考虑将铜或钢防护板直接放入到暗Jft内，从而避免使用班外的钢或钢防护板.注：而使“娜旦懒耐.由于IP感光层弓铅屏之何存在保1户层.从而导致增建作用大幅饿下降,根楸所使川的射线能就和IP保护层的设计,增感效果便相当于不放曰错屏情况下的20-KXM间.当不使用铅加时，铅解对IP所产生的较小的墙感作用损失通过维加曝光量补偿.如果检测使用铅屏，在IP扫描前去除将屏，否则导致IP产生.划痕,It将的屏放置在喑袋或暗盒外例逑除微射线.不同射战源宜使用的金属屏材料和厚度见表4和表5°根据所需达到的图像瓶妆，经合同各方商定后也可使用其他以度的金属屏。在IP前面宜放置金M屏,金属屏与数字阵列探测零DDAS一起使用能减少数射线的影响.«4、和*Ht切向CRaMMe树M适用的金属屏射线观金就淮屏类型和厚度EflX射线'250kVtnwo-o.1Xmt>25OkV-1000kV松屏0-0.3lr!tt.S<75*TAfS:错屏0-0.311h钢成铜解0.30.8Q6OIK或铜屏0.3-0.8,铅屏。.62.0X射及*>1MeV钠或铜斓Q.30.8，担屏。.62.0使M多种材料金M肝时(如钢，担辨).拗辨应放悝UP与铅辨之间.使用相、款或幅辨符代例或炳十铅坏时,可通过抬证道依瑜认图像货减.b可全部成部分我用用成铜屏替代铅屏,钢或锹价叫效与女足铅屏等效呼度的3倍«5根和隹道切向CR射线IR相tUHt用的金JR那肘战源金W前那类型和以度11nX则线源<500kVtnM0.2abSc75lr)92用屏WQ.3.Ml.在暗Jft外钝使川附加的四片厚度为0.1"。的HI屏杵代片期度为0.2画的铅屏可全渔或部分采用钢或圈屏替代铅屏。铜或铜弹等效期啜是铅屏等收M度的3倍”6.51.1 .1为减少背散射线的胎响，透照时的中心射浅束应对准被检区域,对于计算机射线照相检测和数字昨列探测潺DOAs射线检测技术,采用IrI92、Co60射线卸和其他i®能(MeV)的X射税源或存在边缘放射情况F.在管道与数字阵列探测器DDA或CR暗盒之间放置一个铅屏池除低能的散射战根据透照厚度的不同，原度在0.5mm-2mm之间选择，除铅外的其他材料如阖.铜、馅.钛或钢等.都能用干制作逑波材料.在使用Hh鸨或钛涯光板时.宜在金制醉和探测器之间增加期度为03mm-1.Omm的钢或钢注光板.滤光板宜与探测器感光面贴合.1.2 WttHMI对于每个新的检测项目,每个胶片暗袋或CR暗盆后应背贴放铅字“BF高度不小于IOmm.以度不小于1.5mm),以验证是否存在背放射践.如果标识“B”在射线底H或数字图像(负片显示中显示的影像较亮,非明件散射线屏藏不符合要求：若标识-B"影像较暗或不可见,表明放射线屏板良好.对于数字肘战照相检测，为防止探判器背敢射她的肺响，如必要，应在探测器后面贴放至少IImI序的铅板或至少1.5mm以的锡板，计对某些特殊结构检测，忸板屏度能达到6mm。为瞰少X射线与铅作用产生的荧光辎射影响，应在屏蔽铅板和探测器之间放置个铜价或铜醉(理度约05皿屋当采用超过80keV的X射线检测时,探测器后面不应放置屏蔽铅板.1.3 线源一探测器距通对于切向射线照相检测技术，射税源探测器克岗(SDD>以及泞道中心一探测器距窟(PDD)见图I和图2.射出源一探测器史卷的最小值(SDDJ取决于射法源尺寸(d)和管道外径(D.),以及管道中心探im(PDD).M>WM>+3JO,.tiPDf)SDD：0.6RIm对于优化技术TB欲，SDD应为公式(2)和公式S)中的较大的(球位为亳米八SDIA也侬-<1>对于射线源在管道中心线上的切向射线照相检测(见图Ia)和图lb),SDD应符合以下要求.对于基本技术TA级.SDD应为公式(2)和公式中的较大值(侬位为亲米).0.3mm对于射战波与管道中心线偏移的切线射线照相检测,见图2a)和图2b),在确定SDD最小值时,能忽略公式(2)。按公式(3)确定原本技术TA汲的SDD值，按公式(4)确定优化技术TB级的SDD(ft.注：公式和公式分别给出投树好道中心对应平面位M的几何不清晰度值为ft61三和0.3mm1投影Km泗InjR用切R就找黑相松满技术.由于投彰放大田瞅因.在提剂JS母馋上测值褥式的几何不播育性侑比,实际(flW.如果切向射线照相检测。双壁4投影成像检测相接合,则射线源一探测网即斑应按照ISO20769-2确定的方法给出的双壁双投影成像检测技术确定的的.应取两个位中的较大(ft.1.4 向检测范围和搭接每幅图像或每张底片的最大轴向检测范困以被检区域边缘号肛增长20%确定，见图1。标”I序9说明：探测器D.图4相对单个射段源切向透照位置，在探测器上允许的靛大轴向评定长度1.H和射线源例管道最大允许轴向透照长度I.在胶片或数字探测器上一次透照检测评定区域的轴向总长度心陶按公式(5)计算：1.a<l.32SDD(5)在射线源他管道上次透照检测评定区域的轴向总长度1.应按公式(6)计算：1.p1.32SPD(6)管道射线照相检测的次透照检测评定区域的轴向总长度附按公式(6计算.如果仙4射线源准B1.器或X射线准宜窗口小于士35,则1.和1.a随着锥形射线束的最大辐射角变小而减少.为确保有效株测构件任M陆位.任何分区透照的底片或数字图像之间应有充分的搭接区域.除非另方规定.在射线源(W的透照检测区域轴向两洲任一恻的最小搭接长度不险小于25mm.1.5 寸标定对比M件为测段管道剩余壁19,射戡底片或数字困像应进行尺寸标定，以校正由于射战源、管道和探测器的透熙布湿引起的影像尺寸几何放大，种尺寸标定的方法是使用已知直径和公差的有效吸收射线的钢珠或尤他尺寸对比试件(通常是球形),放况在触近管道的位置，与管遒或原上的切线位置在同一个平面上，见图5.对比试件的口径和公差应由合同各方商定.注I其他尺寸标定方法(见7.5)不使IH粉外的"比试件.标引坪号说明，I探测a2一对比试M的投影尺寸小.B5使用对比优件嫌行尺寸行定的切MiHftMIie（二*财比K件可建）对比试件应放置于芾道切向隹世,靠近管壁且影像不与许除币强.先冽取留像中的对比试件影像尺寸，好过尺寸标定后才可对背道联界进行测NU见7.5）。注：如果由于外部存在:的含保温层导致对比试件无法放置在管道切线位,射线海宜偏离管道中心收，并与管壁对齐，JQ.BB6.标引序号说明:I探测潺D.图6对含保海底的管道使用偏移射雄源的切向射域照相显示对比试件迸行尺寸标定（对比试件应靠近含保温层外仍放置）尺寸标定的对比试件不成使用将或类似的材料包史.如果将道含保温层，M射线导致图像饱和（见6. 9）,此时应采用铅包夔时比试件，以朝免对比试件边缥边性导致尺寸标定不族曲.&9对于数字时找照相检测（CR域DDAh不宜采用铅条拈近或与管道边缘贴合以防止管遒外径边绿影像产生边蚀的措施宜按7.1要求，通过两整曝光时间确保边蚀情况最小化.此外，宜果用前置逑光板（靠近射线海）或中间谑光板（在管道和探测器之间,见6.，1）减小管道与探测器之间的侬射或强度.对于含保温层的管道，可允许含保温层及保温层以外的区域极像射线光f数达到饱和，被悔测管道更厚及附近区域的灰度值不超过数字成像检测系统动态范围的90%.此时应用铅或类似的材料包裹尺寸标定对比试件，以避免对比试件及周围影像产生饱和.6.10依字射微JM相检渊设备的选撵411三H对于TA级，探测器班本空间分辨率除以放大倍数（M=SDD/SPD）所狭得的值不应大于200U,对于TB级，不应大于l30um.Fl不应该超过管道公称厚度t的5%.经合同芬方商定可采用不同数（ft.如果切向肘战照相检测技术（TA级或TB扬）和按ISO20769-2规定的双壁双影射线照相检测技术（DwA燹或DWB级）结合使用时,则应将卜.述的放大倍数M设定为1.410.2CRttUtt对于TA级和TB级检测,经过尺寸标定的CR扫描仪图像（见6.8）像素尺寸不成大于100Um”对于给定的射线照相检施,JJjiicr扫描仪的增益或灵敏度增加灰度级别,对用仃一化信噪比（SNRX）评价图像质量:的影响忽略不计.应通过增加曝光相提高归一化信*比（SNRy）,而不是扫描仪增益.对于辅射剂心与灰度级别之间具有线性响应关系的CR扫描仪.使用低的增益/灵敏度设置降低图像饱和的可能性。对于较高的扫描增益,特别是在射城光子强的区域会产生图像饱和，时于相财较短的曝光时间,不能提供足够高的图像归一化信噪比值满足71规定的图像质址要求.6,10.3依字棒那WJME（11MM）对于TA级，经过尺寸标定图像（见6.8）的像素尺寸不应大于200Um,对于TB级,像素尺寸不应大于130um.也可使用合同各方商定的其他值.7ImJK片*m的灵敏度、及一脚定7.1 BBMSW7.1.1 iiM对于切向射线照相检溯，常规的丝型或阶梯孔型像质计不能直接使用.因为它们不能放置于切向管位置的附近,且在射线照相图像中对透照厚度急剧变化的这部分不能以任何有意义的方式评估像质计（IQI）的可见性.任何情况下,应采用以下方法对图像质量进行评价,以确保结果可更现.7.1.2 光子最大灰度值（ft字射宜通过调整曝光时间和/或系统灵般度，使管壁外不受阻网的射线光子束具有不超过成像系统饱和度90%的灰度值.7.1.3 小归TlJra比（ft字射HRB创在欠佳条件F（例如映光时间短）进行透照导致数字图像产生.噪声”,过度的图像啖声阻碍获得可接受的测城精度，为确保CR或DDA系统的数字图像具有可接受的噪声水平,应按照ISo163711双定的适当软件和方法测SU1.化信噪比SNRv.测段归一化信噪比的区域至少为55像素（垂直）X20像素（水平）.应至少在4个不I可位置测嫉SNR的，井取其平均的.应在灰度值分布均匀的区域测加白化信味比SNR.测定的第本空间分辨率SKdctctor能用于确定测域区域，为得到准确的归化荒啖比的,应按照ISO19232-5确定的双丝型像质计（IQI）方法或等效方法（STME2OO2）测证成像系统的某本空间分辨率SRgIOr,应在尺寸标定的测收SRAlCgM>r应是探测器基本空间分辨率.测量探测器基本空间分辨率,双丝型像质计应放置在成像板（IP）或在数字阵列探测腓的射线源M.并与数字图像的行或列小角度候斜（2°5。儿测量应使用与实际检测相同的射线源.伽马射税照相检测时，立在射线网前使用2mM的铜板或4mM的铜板作为前置迪光板,如果探测得基本空间分辨率SRdetaOr测小精度不够,按照ISo192325或AsTME2OO2确定的方泣使用iSR.dclor代怡SRAk0r如果不能实现每次透照检测时都使用双丝型像质计（IQD,对于相同的检测系统,只曜在使用完全相同的系统设置条件卜.（时于CR系统，这些设置包括相同的CR扫描仪、成像板、像素尺寸、射税源.扫描速度、扫描增益和激光功率），可ffi先确定基木空间分辨率.在管道外的图像不饱和选照区的平均归一化份噪化SNR.tfi,对于基本技术TA级应至少为70,对于优化技术TB级应至少为100.如果帝道中心战处可用于测域归JtfnPJfcltSNRx（例如结合切向/双壁双影射线照相检测）,则对于基本技术TA级和优化技术TB级分别对应的M低归一化信噪比SNR.（ft分别为50和80,用于替代前述射线透照区产生的归一化佶嗓比SNRX（fl.在任何情况下测城归一化信噪比（SNR图像灰度假,射战强度成正比非常Ift要，否则归一化信噪比（SNRV）值测班值是不正确的.7.2 BHlRft对于切向胶片射线照相检测,使用表2给定的胶片系统类别,曝光条件应确保底片的热度满足以下要求：管中心线上累度大于或等于1.6;一-非评定区管道外照度为3,54（用大）；一一管道内壁切线位置黑度大于或等于05.如果在等评定区的底片黑度大于4.则应在外表面切向位置去除他的感光乳剂,测M外衣面位置,如果在剁余好光乳剂层中的底片黑度小于或等于4,能进行壁屏测量.允许以度测盘误以为±0.1.为避免因胶片老化、显影或温度等因素引起的灰芬度过大，应定期从未喋光胶片中取样拉直灰雾度，用与实际透照相同的咯空条件进行处理，所得灰雾度不应大于0.3,当采用多胶片透照时每张片的思度应符合上述要求.如果规定两张底片重料观察评定时,在管道中心税,单张底片项度不应小于0.8.7.3 KXm胶片的暗室处理按照股片及化学药剂制造商推荐的条件进行.以狭得选定的股片系统性能.应关注胶片处理温度、显影时何和冲洗时间.胶片处理应按照ISO11699-2确定的方法进行定期核支，射线底片上不宜在花由于胶片暗空处理或其他原因产生的影响识别泞定的缺陷或虚假显示.7.4 坪片条件宜在光践较暗的空内,使用亮度可调节且符合ISo5580规定的观片灯进行底片评定.观片灯宜具有屏蔽岸评定区的遮光板.7.5 射线底片收数字国像的尺寸不嵬7.11 am对于切向射双照相检测,在测m壁厚尺寸时，应确定射线照桁中与图像放大相关的尺寸.切向射线照相的几何放大效果见图7,标引序号说明：1一探测器D.S7切肉和M*相的几何放大”量示以下方法能用于尺寸标定，以测量壁口tmea.计匏实际壁Mtal,7.5.2期K布的JEFM该方法涉及射炫照相检测中关键地禹的直按物理测f除使用距掰法尺寸标定时，精确浏业以下地费中的任意两个即酒，以获得精度和偏不人干54的站果：a）射线源一探测器踉岗SDD:b）射线源一管中心距离SPD;c）管道中心一探测静距离PDD此外.还应记录以下再窿：d）贴戏源与管道中心战的横向偏移Hx,如有。IT对于俯心切向射级照相检测（X近似等于6由图像溅域段以t计算切向管道位置的实际壁原tact.见公式（？）;一"，<7）*''SDDJ如果X近似等干。，能用公式（8）通过测敢哦原Im更精准也计口出实际壁厚la!/.,rWJ1+式中Ir管道外径的一半（D,Z2）。在役射线煦相桧测中,较雄精葡可靠地测量和记录物理尺寸。在这种情况下应采用以下背代方法，7.5.3管道外径洪量如果在数字图像或射线底片的测证位置上相确地获得管道外径尺寸，则能通