GB_T 33488.5-2024 化工用塑料焊接制承压设备检验方法 第5部分:衍射时差法超声检测.docx
ICS71.120:19.100CCSG«MG日中华人民共和国国家标准GBH33488.52024化工用塑料焊接制承压设备检验方法第5部分:衍射时差法超声检测TestmethodofpressureequipmentsOftherniop1.asticswe1.dedforchemica1.s-Part5:Timeoff1.ightdiffraction2024-11-01魅2024-04-25发布国家市场监督管理总局哈*国家标准化管理委员会发布5s前言III引言INI范围I2规范性引用文件I3术语和定义14一般要求25检测设备26检测技术等级、工艺文件及工作程序87检测方法IO8检测数据分析149缺陷评定和侦量分级1610检测记录和报告18本文件按照GB/T1.1-2020£标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起常规则2的规定起草。本文件是GB,T33488£化工用塑料惮接制承压设备检验方法的第5部分.GBT35488已经发布了以下部分:一第1部分:总则:一-第2部分:外观检测;第3部分:射线检测:第4部分:超声检测:笫5部分:衍射时差法超声检测。请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的市任,本文件由中国石油和化学工业联合会提出.本文件由全国非金属化工设备标准化技术委员会(SAerrC162)iU11.本文件起电维位:宁波市特种设备检验研究院、耐U集团有限公司、天津市特种i殳备赛俗检验技术研究院、重庆鹏程无损检测股份有限公司、湖南安广检验检测行限公F、介州市特种设备检5金检刈研究院、江苏省特种设招安全歌杼检脸研究院、管网集团(徐州)管道检验检测行限公司、贡州省特种设的检粉检测院、浙江省特种设备科学研究院、安徽华工智能科技研究院有限公司、机械工业上海蓝亚石化设备检测所有限公司、赭兴市特种设备检验检冽院、福建省锅炉压力容器检骁研究院、宁夏特种设备检验检测院、四川省特种设备检聆研究院、深圳市友通型焊机帔仃限公司、广东省特种设备检测研究院中山检测院、浙江华南环保奘备股份有限公F、广东相科技有限公司、临海伟星新型建材布.限公M、重庆市特种设备口测研究院、上海市特种设法监督桧蛉技术研究院、天华化工机械及自动化研究设计院有限公司.本文件主要起草人:王杜、黄焕东、司永宏、谢林师、仃忠璋、金仲平、吴军、侯纯武、到印、陈定岳、贾邦龙、许波、王胜梆、王锋淮、钱盛杰、前洋、沈正桦、出利、朱潮明、王芳、王文达、陈文杰、王孟军、杨玲、俞振兴、陈波、于诳杰、梅琳、许志军、蔡正、陈世旺、袁坤、杨至轩、段洪斌、贺正文、肖Iff1.姐、桑临春.GRT334885旨在提供可靠的化工用塑料焊接承乐设备的焊缝无损检测方法,以评价设饴焊健的质量等级,保证设备的使用安全性,由5个部分缎成.第1部分:总则.11的是对化工用塑料焊接承压设备的焊缝无损检测提出总体要求.第2部分:外观检测。目的是提供可靠的化工用塑料焊接承压设备的焊缝外观检测方法,一第3部分:射线粒测.目的是提供可旅的化工用朔料理接承压设备的焊缝射陵检测方法一期部分:超声检测。目的是提供可兴的化工用塑料焊接承压设备的焊缝超声检测方法,第5部分:衍射时差法超声检测。H的是提供可靠的化工用塑料焊接承压设备的焊缝衍射时基法超声检测方法,IV化工用塑料焊接制承压设备检验方法第5部分:衍射时差法超声检测1M本文件规定了化工用塑料焊接制承压设备衍射时差法超声检测(以卜简称为TOFD检测”)方法的一般要求、检测设备、检测技术等级、工艺文件及工作程序、检测方法、检测数据分析、缺陷怦定和成量分线以及检测记录和报告。本文件适用于以聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚很乙烯(PVC)等热逑性桀料板材、管材和管件等为原料,采用热熔焊工艺焊接,联厚为10mm-70mm的电料焊接制承压设备对接接头所OFD检:机本文件适用于热电性塑料的热络焊工艺焊接接头中夹杂物、孔洞、裂织络合面缺陷、冷焊跳陷的检测。本文件不适用于热塑性塑料的热熔焊工艺焊接接头中过煨焙合面过短、不对中耗陷的检测.2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注目期的引用文件,仅该门期对应的版本适用于木文件;不注日期的先用文件,其批新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GBT27664.1无损检测超声检测设备的性能与检验第1部分:仪器GBT27664.2无损椎测超声检测设存的性能与检验第2部分:探头GB'T33488.4化工用塑料焊接制承压设笛椽脸方法第4部分:超声检测JBT9214无损检测A型脉冲反射式起油检测系统工作性能测试方法JB,T10062超声探伤用探头性能测试方法NB470133-2015承压设备无损检测第3部分:超声检测NB47013.10-2015承压设备无损检测第10滞分:衍射时差法超声检测3NBT47013.102015界定的以及下列术语和定义适用了本文件。3.1夹杂物inc1.usion炸后残留在热络焊接接头中的夹杂异物,注:邮散杂草、飙周等.3.27Uiho1.e热熔焊接时,由于缩孔.气孔等原因形成的焊接接头的内部孔穴.33裂曲:crack热熔焊接时,由材料收缩或应力作用等导致的热络焊接接头中的裂维.3.4络合面缺陷defectoffusionfave由于热焙接头熔台面存在大面仅微小气泡造成的熔合面连接不牢而形成的面积型缺陷。3.5冷作1.d-ve1.d热络焯接过程中.布干加热板温度过低或加热时间过短导致的饵接接头焊接热量不足而形成的焙接面没有充分焙融的缺陷。3.6iH*over-we1.d热熔焊接过程中,由于加热板温度过高、加热时间过长或焊接压力过大导致焊接接头焊接热砧过多而形成的期接缺陷.3.7嬉合iSt)St<wshortoffusionsurface热烙焊接过程中,由于焊接压力过大导致熔料被大Iit挤出,造成热熔焊接接头络合区较窄的缺陷.3.8不对中misa1.ignmentofwe1.dedjoints热熔焊接过程中,由于管材固定不在同一轴线上导致热焰焊接接头的错位。击包括轴向不对中和角度不对中。4 Ta求41TOFD悔测人员应了解热型性黑料婢接的肥本知识,熟知热嬖性塑料接头的焊接工艺,熟悉热吧性塑料的声学特性和待检焊接接头的类蟹,掌握塑料焊接接头TOFD检测方法.4.2 环境条件4.21 ttWMkTOFD检测宜在强磁、震动、电磁波、灰尘大、有腐蚀性气体及噪声大等对检测结果有干扰的场地进行.4.2.2ttf1.mU5三ft检测环境的淑度及湿衣应捽制在检测仪揖设备能正常使用的范附内.5检评设备6.1检测设备包括检测仪海、探头、扫查装置和试块.5.2检测仪器应具有超声波发射、接收、放大和数据自动采集、显示、记录、分析功能,检测仪器的电气性能和功能应符合XB/T47013.10-2015附录B的要求,性能测试按GB/T27664.1的规定进行。5.3 %51.3.1探头通常采用两个分围的宽带车脓;微波斜入射探头一个探头发射超声波,一个探头接收超声波,两个探头相对放汉组成探头对,固定在扫查装置上.探头的性能应符合NBT47013.102015附;B的要求,性能测试按GBJT276642的规定进行。5.3.2探头楔块材料的再速应不大于被检工件的汽速,宜采用水囊楔块。5.3.3在能确定其他型式的探头滴足所需的检测和测量能力的情况下,也可使用相控阵探头、纵波探头或爬波探头等其他探头.5.3.4应采用有效且适用T械检工件的介质作为探头与工件之间的耦合剂,选用的假合剂应能保证在一定的温度范围内稳定可靠检测:可采用水或化学装糊(按甲基纤维素钠加水)作为耦合剂.&4检M仪春翎班的蛆合性能5A1检测仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、灵敏度余G、组合领率、-12dB声速扩散角.5.42下列情况M,底测试检测仪器和探头的组合性能:a)新购置的TOFD仪器和(或)探头,b)TOFD桧测仪器和探头维修或更换主要部件后,C)检测人员对检测结果有疑问时。5.4.5 检测仪器和探头的水平线性偏差应不大于,垂直线性偏差应不大于5%,按JB"9214的现定进行测试。5.4.6 检测仪器和探头的灵敏度余M应不小于42dB,按JBJT%14的规定迸行测试。545检测仪器和探头的组合顺率与探头标称频率的偏笳应不大于10%,按JB“10062的规定进行测试。5.4.7 检测仪器和探头的-12dB声速扩敝角测定方法按NB,T47013.102015附录C进行,5.4.8 检测仪器和探头的组合性能测试选用的试块材质应为本文件适用的热塑性塑料.5.55.5.1 扫杳装置由探头夹持部分、驱动部分和导向部分引成,并安装位置传感着,5.5.2 探头央持部分应能调整和设置探头中心间距,在扫查时能保持探头中心间柜和相对角度不变.5.5.3 导向部分应能在扫JS时使探头运动抗逊与拟扫查线保持一致.5. 5.4驱动部分可以采用电动或人工手动驱动。5.55位四传学器的分辨率和精度应符合本文件规定的检测工艺要求&6蹶&&15.&1.1标准试块用于检测仪器和探头组合后系统性能的校准.5.6.1.2本文件采用的标准试块的形状和尺寸应符合NB,T47013.32015中CSK-IA的要求,材质为与被检工件材质相同的热塑性生料.&&1.3制作标准试块的原材料中允许有不超过e1平底孔当用田径的缺陷存在。&a25.62.1对比试块是用于在检测过程中校掂的试块。&822对比试块可念月无焊缝的板材、管材,也可到B热络焊接d丸&623对比试块的声学性能应"被检工件相同或相似,外形尺寸应能代表技检工件的特征,并且满足扫荏装置的扫查要求:对比试块中的反射体采用机加工方式制备:按本文件要求制作E工的对比试块应满足规定的尺寸精度要求,并提供相应的证明文件.5.6.24对比试块中超声波声束可能通过的区域用直探头检测时,应不存在大于或等于e2mi平底孔当量:直径的缺陷,6625对比试块分为平面对比试块和曲面对比试块,对比试块的厚度应为a9倍7.3倍的被检工件谆度且二者间的最大差值应不大于15mm.当被检工件直径大于或等于250mm时,可采用平面对比试块;当被检工件有径小F25On«n时,应采用直径为0.9倍1.3倍的被检工件直径的曲面对比试块:曲面时比试块可采用带有不含原始缺陷的热熔焊缝的管段制作,也可以直接采用管子制作。S&26木文件采用的平面对比试块的形状、尺寸及其偏差应符合下列规定:a)1.#平面对比试块:适用于公称厚度I为10mmt<35mm的工件检测,形状及尺寸按图】的要求;b)2#平面对比试块:适用于公称厚度I为IOmmqW50nun的工件检测,形状及尺寸按图2的要求:C)*平面对比试块:适用于公称庠度t为IOmmWt70mm的工件检测,形状及尺、按图3的要求:d)田、2口、3»平面对比试块的孔径误落不大于0.5mm,孔深度误差不大于1mm,开孔浜直度偏差不大干2,槽宽误差不大于0.5mm.措深误差不大干】mm.其他尺寸误差不大于2nun.引他为在米图22,平面对比试块图33平时比试缺5.6.2.7本文件采用的曲面对比试块的形状、尺寸按图4的要求,其孔径误差不大于05mm,开孔垂直度偏差不大于2°,其他尺寸误差不大于2mm.单窗捷米刷I序号说明:11.三.S4曲面帆t试块&&3mnsuMt”5.6.3.I扫查面盲区高度流定试块用于测定初始扫查面目区高度,其声学性能应与被检工件相同或IIHrt.5.6,3.21I查面仃X,则定试块的形状、尺寸按图5的要求,其孔径误差不大于0.5mm,孔深度误差不大于Imm,开孔垂百度偏差不大于2°,其他尺寸误差不大于2mm.图5扫匐m区高度JN定试块&&4ra11tM膜曲5.6.4.1 声速扩散角测定试块用于测定检测仪器和探头组合的实际-12dBruff,其声学性能应与被检工件相同或相似.5.6.4.2 声速扩放角测定试块形状、尺寸按图6的要求,其孔径误差不大于05mm.孔深度误差不大于1mm,开孔乖百度偏笫不大于2“,角度偏空应不大于,其他尺寸误龙不大于Imm第位为死米S6声速扩散顺M定试块S&5糊(MM瞅块5.651TOFD检测技术等线为表1规定的C线时,应制作模拟抉陷试块进行检测工艺验证.&&S.2模拟缺陷试块的材质应与被检工件具仃相同或相似的声学特点,外形尺寸应能代表被检工件的特征且满足扫者装置的扫查要求,厚度应为0.9倍1.3倍的被检工件公称摩度,且两者间最大厚度-基值应不大于15mn5.6,5.3模拟缺陷试块中的模拟块陷应采用焊接工艺制法或使用通过信测发现的真实缺陷。5.6.5.4模拟故陷块中的模拟缺陷应满足下列要求。a)位置要求:模拟缺陷试块厚度I0W35mm时,保证在试块的上表面、下表面和内部分别有一处或一处以上缺陷:模拟缺陷试块厚度t0>55mmt1.r,保证按要求进行厚度分区,每个厚度分区内至少有一处埋藏政陷:模拟缺陷试块可倒置使用时可用一个表面缺陷同时代表上、下表面的缺陷,b)类型要求:怏拟块陷试块至少包括汲向缺陷1处,体积型、面积型缺陷各1处.0尺寸要求:模拟缺陷尺寸不宜大丁表5中质战等级为I【级的相同公称厚度工件的攒大允许缺陷的尺寸。d)模拟缺陷试块可由多块模拟缺陷试块组合形成,但组合后的模拟缺陷试块应满足本条b)的要求,&7wm&7m检测设备的校准、核行和检在应作标准试块、对比试块上进行,测试时应使探头主声束弧直对准反射体的反射面以获得稳定、最大的反射信号.A7.2雌对检测设笛的水平线性、垂白戮性、组介频率、灵敏度余M以及仪器的衰M器精度,每年至少进行一次校准并记录.&7.367.3.1 对仪器和探头组合性能中的水平烧性和垂直姣性,至少每隔6个月核查一次并记录,测试应满足5.4.3的规定。A7.&2在设置的检测参数下,采用本文件规定的对比试块进行检则核查时,设备应能够清楚地显示和测量其中的反射体,检测核查至少每隔6个月进行一次测定和记录.5.733对标准试块和对比试块的机械损伤,至少每年进行次核查,5.73.4对检测仪器和探头组合的72dB声束扩散角.应每隔6个月进行一次核查测定,测定方法按NB,T47013.102015附录C进行.&7.4”5.7.4.1每次检测前应测定和记录探头前沿'超宾波在探头楔块中的传播时间。5.7.4.2每次检测前应对位左传感器进行检查和记录。检查方式是用带位置传感器的扫查装置移动至少500mm.将检测设备所显示的位移与实际位移进行比较,其误差应小于1%&1TOFD检测技术等级分为A、B、C三个级别,其要求应符合表1的规定.«iTOI>a三tt*W三*检测技术等级检测面扫合面仃区充度底面r11x高度采用校拟跳船试块验证工艺A单面3IuiW2onBni2rm1mCXKffifW1.an需要fItfUH4FId1.<1.<'.1.I2IIB时,需对扫jgffiiR区进行检测.可通过冷透«MW1.按GBZI33488.4规定的脉冲反射法趣声检测,或采川共他有效力法检(.ta相袍阵超声.超W臾波技术.当初始底面口X稀度大干I(Tn时.宜采用偏置北平行日查.打长面FnKIft货比在力会面市区高度观定试块上验证.对于因结构原因无法进行双面构测的C级检1技术圻级,可以采用B锻检测,但需采用K!拟试块进行工艺KtW,并对扫查面进行海透检解&2IftM1.XXff6.2.1检测工艺文件包括检测工艺规程和检测操作指导书.622应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和本文件的要求,结合检测单位的技术水平和检测条件编制构测工艺规程.检测工艺规程应包括下列内容:a)检测工艺规程版本号,b)检测工艺规程编制依据的标准、法规及其他技术文件.c)检测人员资格要求,d)检测设备的要求,O不同检测对象的检测技术和检测工艺选择以及对检测操作指导日的要求,D信测实施过程中的有关要求,g)检测结果的评定和质量分级评判规则,h)检测记录的要求,i)检测报告的要求,j)编制人、审核人和批准人,k)编制日期.&23应根据检测工艺规程的内容以及被检工件的检则要求编制检测慢作指导书,检测操作指导书应包括下列内容:a)检测技木要求,包括执行标准、检测技木等级、合格级别、检测时机和检测比例的要求:b)检测设备,包括仪器、探头、抬崂置、耦合剂、试块类型和规格型号,性链检查的项目、时机和性能指标;C)检测工艺参数,包括:扫查面的选择,探头参数及布置、仪器的姆(如灵敏度设置)、扫查步进、脉冲亚如喊率、信号平均、用:度分区及各分区覆海范围、初始表面盲区高度及其检测方法、初始底面百区高度、扫杳方式、扫杳速度等;d)检测标识规定:O检测操作程序和扫查次序:0检测记录和数据评定的具体要求.6.2.4检测操作指导书的工艺验证应满足下列要求。a)检测操作指导朽在首次使用前应进行工艺验证.b)检测技术等级为A级或B级时可采用对比试块或在实际被检工件上进行工艺验证。c)检测技术等级为C级时,采用模拟缺陷试块进行工艺验证,验证应符合下列要求:1)按检测愫作指导书的要求对相应的模拟块陷试块进行TOFD检测:2)TOFD图像能修清空地显示模拟缺陷试块中所有的模拟块陷:3)冽俄的模拟缺陷尺寸接近其实际尺寸。&3TOFD检测工作应按照下列程序进行:a)根据检测匚艺规程和检测时象的检测要求编制检测操作指导书:b)选择和确定检测工艺参数:c)被检工件准备:d)检测系统性能检查:e)检测;0检测系统更核:g)检测数据评定:h)检测记录:i)检测报告.77.1 U7.1.1 应确保在4.2.2规定的温质范围内进行检测:采用常规探头和偶合剂时,被检工件的表面温度应控制在OC'50C,超出此温度范困时,可采用特殊探头或假合剂.7.1.2 检测系统设置和校准时的渔度与实际检测温度之差应不大于KrC7.27.21 检赛区域的确定7.22 1.检测区域高度为被检工件焊接接头的厚度,7.2.1.2检测区域宽质为焊缝及焊缝熔合线两恻各10mm间的区域宽度.7.227.2.2.1探头的选取包括探头型式和参数的选择,应选择宽角度双波斜入射式探头:每一组探头对的两个探头,标称频率应相同,声束角度和晶片直径宜相同。722.2当被检工件公称厚度小F或等于35mm时,可采用一组探头对桧测,宜将探头中心间距设区为使该探头对的声束交点位于2/3深度处当热熔接头翻边宽度较大,导致采用推存的探头中心间距无法满足检测要求时,可适当增加头中心间距.7223当被检工件公称厚度大,35mm时,应将厚度方向分成若干不同的深度他困,来用不同参数的探头对分别遂行检测:宜将探头中心间距设置为使林一探头对的声束交点位于其所检测深度范用的2/3深怪处.7.224被检工件底面的探头声束与底面检测区域边界处法筏间夹角应不小于40°。7.2.2.5热将对接接头厚度分区和探头参数的选抵依掳发2进行,也可根据被检测工件的材料和结构特点,采用木文件规定的对比成块、扫杳面盲区岛度测定试块及模拟洪陷成块进行工艺骏证合格后的探头参数.«2躺时做头*度顺和添加被检工件公称印度t三n理双分IX/个厚度范围加1探头参数标称雄率M:声束角度此片直径1.t1510-ta-570-6026I5<t<251g1.7.52570-604625<t350-t5-270-604-635<t7020-t27-2.570-6046t2t5-260-456-127.2.2.6若已知块陷的大致位时.或仅检测可能产生缺陷的部位,可选择与缺陷相匹配的探头型式(如聚焦探头)和探头参数,带探头中心间距设置为使探头对的再束交点为缺陷部位或可能产生块陷的部位,且声束角度/"'60"a7.23723.1当检测技术等级为A级或B级时,宜选择豉检工件外表面作为打查面:弧面和讣平面对接接K1.头的扫杳面选界宜考虑盲区高度的大小和操作空间:当检测技术等级为C线时,扫杳面的选择应符合表1的要求。723.2初始扫查方式分为非平行扫杳和偏置非平行扫杳。7.213宜采用非平行扫杳作为基本扫杳方式,用于缺陷的快速探测以及缺陷长度、缺陷自身高度的测定,可大致测定缺陷深度.7.2.3.4月非平行扫查的初始底面盲区高度较大或探头声束不能有效覆龙检测区域此可对相应检测区域物川偏置作平行扫查.7.2.15采用多种初始扫育方式时,应合理安排扫在次序并在检测操作指V书中注明。7.24W7.241 初始扫询T区高度7.241.1.1.1 用实测法确定初始扫杳面盲区高度,7.241.1.1.2 用扫查面日区而度测定试块测量初始扫查面百区高度。用设置好的扫查装置分别对不同深度侧孔进行扫育.发现的果小深度横孔上沿所刻应的深度即为初始扫查面自区高度”7.242 扫查面区检费方式7.242.1 .1按照表1选择扫杳面自区检测方式。7.242.2 选用脉冲反射法的但波法时,应在信测工艺中规定阻波探头的规格型号和布汉方式”7.2.67.25.1初始底面区高度确定初始底面白区高度按公式计算。»G(1)式中:h初始底面自区高度,单位为亳米(mmkI一被检工件公称厚度,单位为宅米(mm):X一探头对偏黑焊缝中心线的距点(此处为底面检测区域宽度的一半),单位为龙米(mm);S一探头中心间跑的一半,单位为亳米(mm),7.2.5.2底面盲区检测方式72521当初始底面肓区高度大于1mm时,底面盲区检测立选用偏置非平行IItV方式.7.2&2.2若选用偏置非平行扫在方式时,应在检测工艺中明确像置方向、偏况状及偏况后的底面盲区高度。底面百区高度可依据公式进行计算,7.26m0SKU扫查步进设过是指扫查过程中相邻两个扫描信号间沿被检工件扫查路径的空可间隔。扫杳步迸设设与被检工件公称以度有关,扫查步迸政大值应不超过1mm。7.2.7WFimM检测前应合理设汽检测通道的信号平均化处理次数N.正常情况卜设定为1.当噪声较大时,设定值应不大于16.7.2.8设置仪器其他参数7.2.&1设置仪器数字化频率应大于或等于所选择探头的最冏标称频率的8倍.7.28.2设置仪器接收电路的频率响应范用应大于或等于所选择探头的标称翔率的0.5倍1.5倍。7.2.&3设置仪器的脉冲相复频率应与数据采集速度和最大扫杳速度相称.7.29A»mW*iU*)三ftfi)三7.2.9.I检测前应对检测通道的A扫描时间窗口进行设假,7292当被检工件公称厚度不大于35mmI1.采用单检测通道时,其时间窗口的起始位猊应设次为亘通波到达接收探头前0.5US以匕时间窗口的终止位置应设置为被检工件底面的一次波型转焕波后0.5S以上,同时将直通波与底面反射波时间间隔所反映的厚度校准为已知的被检工件的厚度值.729.3在惇度方向分区检测时,应采用对比试块设置各检测通道的A扫描时间窗口和进行深度校准.A扫描时间窗口至少包含所需检测的深度范围,同时应满足下列要求:a)根据已知的对比试块内的各恻孔实际深度校准检测设备的深度显示:b)最上分区的时间窗口的起始位置设置为宜通波到达接收探头相0.5US以上,时间由的终止位置设置为所检测深度葩用的最大值:C)其他分区的时间窗口的起始位置在厚度方向依次向上覆盅和铭检测分区深度范围的29%;d)将最下分区的时间窗口的终止位置设置为底面反射波到达接收探头后05s以上:e)可利用检测备经对比试块校核后的深度参数输入。7.210ftAAtthftS7.2.10.1 检测前应设置检测通道的灵敏我.7.2.10.2 当被检工件公称厚度不大于35mmF1.采用单检测通道时,可直接在被检工件上或采用对比试块设置灵敏脸当自接在被检工件上设置灵敏度时,格直通波的波幅设定到满屏岛的40%80:如直通波不可用,可将底面反射波波幅谓整为满屏高的8g再提高20dB-32dB:如直通波和底面反射波均不可用,可将材料的背景噪声设定为满屏高的5-IOS作为灵敏度.7.2.10.3 如在厚度方向分区检测时,应采用对比试块设置各通道检测灵敏度.将各通道A扫描时间窗口内各反射体产生的最弱的衍射信号波幅设置为满解高的4S)80%作为超敏度(最上分区也可将直通波的波幅设定到满屏高的40%80%).7.37.att三Ha当被检工件热熔接头焊接工作全部完成,自然冷却2h.且焊接接头外观检杳合格后方可开始检测.7.3.2Him务7321探头移动区表面应平整、干净、无毛剌,表面粗粒度Ra125m.7.121.2塑料热熔焊接接头允许保留葡边。如果翻边表面有焊接成型时的不良缺陷,应进行适当的修磨.并作圆滑过渡处理以免影响检测结果的泮定.要求去除翻边时,应将翻边去除至与邻近母材平齐.当扫查方式为平行扫查时,梳去除蒯边,7.&23检测前应在被检工件扫查面上予以标记,标记内容至少包括扫查起始点和扫查方向:宜在母材上距焊缝中心线一定的亚惠处画出一条线,作为扫查装置运动轨迹的基准.7.3.3耦合剂选用实际检测采用的耦合剂应与检泅系统设置和校准时的稿合剂相同。7.34检测前工艺参数调节7.3.4.1如灵敏度设置直接在被检工件上进行,在实际扫查前应检查灵敏度:如灵敏度设置时采用时比试块,则在实际检测时应进行我面媒合补偿,我面相合祚偿信应根据:拧的表面状况补偿0dB3dB.7.3.4.2若A扫描时间窗口设汽和深度校准时采用对比试块,则应在实际被检工件上检杳深度显示,确保深度显示偏差不大于2mm.否则应进行调节。7.3.4.3对于曲面或共他非平面工件的纵向焊接接头,应对深度显示进行必要的调节.73.5扫笠7.3.5.1扫查时应保证实际扫查路径与拟扫查路径的偏旌不超过探头中心间距的10.7.3.5.2扫查时应保证扫查速度小于或等于最大扫查速度,同时应保证耦合效果和满足数据采集的要求.7.3.5.3般大扫查速度按公式(2)计算.式中:Vmax最大扫查速度,总位为登米每秒(mm2;PRF一激发探头的脓冲垂发频率,单位为赫兹(Hz):x设置的扫查步进依,单位为堡米(mm):N设置的佑号平均化处理次数.7.3.5.1每次扫ftK度不宜超过5000mm;若需对焊缝在长度方向进行分段扫杳,则各段扫伐区的Hi典范困至少为20mm;对于环焊缝,扫杳停止位冏应超过起始位置2。mn1.3. 5.5扫查过程中应密切注意波帼状况.若发现直通波、底而反射波的波幅降低12dB以上或怀疑朋合不好收,应由新扫查整段区域:若发现卢通波满屏或背然噪力波幅超过满屏高的RWh则应降低增益并由新扫变。7. 3.6检测数据记录检测数据应按照检测工艺文件的要求进行编号、储存.8. 3.7检测系统复核8.1.1.1 在下列情况时,应进行检测系统复核:a)检测过程中检测仪器重启或更换部件时,b)检测人员对检测结果有怀疑时,O检测纳求时,8.1.1.2 如初始检测工艺设理时采用了对比试块,则在复核时应采用同一对比试块:如果是在被检工件上进行的灵脓度设巴,则应在被检工件上的同部位进行宾核,8.1.1.3 如史核时发现初始设置的参数发生偏离(应消除按73I进行调节时产生的影响),应按表3的规定进行处理.«3检蒲IK小械序号检测参Ik嫔肉值纠正1检测整地IUW6dB不需要采取措瓶.必要时可动过软件纠正>6那底也然设置,并里新依测1:次设81以后所检酒的鼻里2缺陷深境显示偏冷妥2in不需委采取描施>2rvn质水木设世.井>K新依测上次设51以后所检测的煌Si3探头对实际位移与仪器显示位格的僚差9%不需要采取插旅>5¼应对上次设Ia以后所检测的位WiS行傅正8幅分析&1&1.1分析校测数据之前应时所采失的数据进行有效性评估,依测数据应满足下列要求:a)A扫描时间窗口设置符合7.2.9的要求:b)采先的数据盘满足所检测焊缝长咬的要求:C)每个检测数据中的A扫描信号丢失量不大于总量的5%,且相邻A扫描信号连续丢失长度不大于扫杳步进最大值的两倍:缺陷部位的A扫描信号丢失不影响缺陷的评定;<1)信号波幅改变f及信号连续性满足7.3.5.5的规定:c)直通波、底面反射波无明显的由非焊接缺陷引起的突变,且较为平直。8.12对于评估无效的数据,应更新进行检测。&2相关显示和非相关显示a2.18.2.1.1 相关显示分为表面开口型缺陷显示和埋藏型缺陷显示.热塑性塑料热熔对接接头中夹杂物、孔洞、裂纹、熔合面块陷、冷焊等跳怀通常产生相关显示。热塑性塑料热格对却妾头中过焊、熔合面过短、不对中等缺陷通常不产生相关显示.8.2.1.2 表面开口型缺陷显示可分为下列三类:a)扫直面开口型:该类型跳陷通常显示为直通波的减弱、消失或变形,仅可观察到一个端点(块陷下端点)产生的衍射信号,I1.与百通波同相位;b)底面开口型:该类型块陷通常显示为底面反肘波的减弱、消失、延迟或变形,仅可观察到个端点(缺陷上端点)产生的衍射信号,且与直通波反相位:C)穿透型:该类型缺陷显示为直通波和底面反射波同时减弱或消失,可沿壁厚方向产生多处衍射信号。&2.1.3数据分析时,应注意与直通波和底面反射波堆近的缺陷信号的相位,初步判断缺陷的上、下相点是否隐藏于表面自区或在被检工件衣面.8.2.1.4 理敏型缺陷显示可分为下列三类:a)点状显示:该类型缺陷显示为双曲线弧状,F1.1.J拟合弧形光标重合,无可测量的长度和高收:b)税状显示:该类%缺陷显示为细长状,无可测或的高度:O条状显示:该类型缺陷显示为长条状,可见上、下两端产生的衍射信号.8.2.1.5 理藏里缺陷显示一般不影响直通波或底面反射波的信号.a2.2非相关显示是由于焊接头的外形结构或材料分子结构差异等非焊接缺陷引起的显示。&23&23.1相关显示和非相关显示的记录和测定应符合下列要求:a)对于表面开口型缺陷显示、线状和条状埋藏型跳陷显示,测定跳陷的位置、缺陷长度、洪陷深度以及缺陷自身高度,必要时测定缺陷偏黑灯缝中心线的位置:b)对于理渣型点状显示予以记录:c)对于非相关显示,记录J闲置.82.3.2可时已发现的相关显示增加平行扫杳,获得更多信息,&3&&1½8.3. 1.1.根据非平行扫查或偏置非平行扫查得到的TOH)图像确定缺陷在X轴的位置。8.3.12使用拟合弧形光标法确定缺陷沿X轴方向的前、后端点位汽:a)对于点状显示,可采用拟合弧形光标与相关显示重合时所代表的焊缝方向上的位W.数值:b)对于其他显示,应分别测定其前端点和后端点位置,可采用拟合孤形光标与相关显示端点由合时所显示的焊健方向上的位置数值.&3.1.3可果用聚隹探头改苦缺陷位置的测定精隐度。&&2缺陷长度测定缺陷长度可根据缺陷前端点和后端点在X轴的位置计算而得.1.1.1 深度测定a-1.1表面开口型缺陷深度显示:-扫杳面开口型和穿透型:缺陷深度为0;一底面开口型:缺陷上端点与扫查面间的距离为缺陷深度.1.1.2 埋僦型缺陷深度显示:点状显示:采用拟合弧形光标与点状显示重合时所显示的深度值:线状显示和条状W,凡其上端点与扫查面间的距盅为缺陷深度.1.1.3 在平行扫查的ToFD显示中,缺陷距扫查面最近处的上端点所反映的深度为微陷深度的精确值.&5msA*o½8.5.1 对于表面开口型缺陷显示,缺陷自身高度为表面与缺陷上(或下)端点间强大距商h.见图7.若为穿透及,缺陷自身高度为被检工件的厚度.标引序号说明:I抹陷仁发:h缺陷自身高度:I被检工件理度.BB7我苒开口加崎尺寸8.5.2 对于埋藏型条状缺陷显示.块陷自身高度h如图8所示,标引序号说明:1 i5fti:diWfi深度;1跳陷长度:h缺陷臼身岛度:t一破检工件深度.»8Ufi1.一尺寸&6候阁*育焊It中心线位置的窝定8.6.!在非平行扫查和偏置非平行扫杳得到的TOFD图像中,无法(定缺陷偏离岸缱中心妓的距离时应采用脉冲反射法超声检测或其他有效方法进行测定.8.6.2在平行扫杏得到的TOFD图像中,缺陷上然点距扫杳面鼓近处所反映的丫釉位置为缺陷偏向焊缝中心战的位置。9缺陷评定和质量分级9.1 一般要求9.1.1 被检工件中不应存在危及安全的表而升I型缺陷.9.1.2 如被检工件中存在裂纹、熔合面缺陷、冷焊等危害性缺陷时,应评为川级.9.13相领两个或多个非点状缺陷显示其在X轴方向的间距小于其中较小跳陷的长度,且在Z轴方向的间距小于其中较小缺陷的自身而度时,应作为一条缺陷处理,该缺陷深度、决陷长度及缺陷自身高度按下列原则确定;a)缺陷深度:以的缺陷深度较小值作为单个缺陷深度:b)法陷长度:两缺陷在X轴投影上的前端点和后端点间距离:c)缺陷自身高度:若两缺陷在X轴投影无或登以其中较大的缺陷自身高度作为缺陷自身高度:若两块陷在X轴投影有垂挣,则以两块陷自身高收之和作为缺陷自身高度(间距计入九9.2 点状缺陷显示的项量分馁要求9.2.1 点状缺陷显示用评定区进行战技分级评定.评定区为与焊维平行的矩形截面,其沿X轴方向的长度为100mm.沿Z轴方向的高度为被检工件限度,9.2.2 在评定区内或与坪定区边界线相切的缺陷均应划入评定区内,按表4的规定评定焊接接头的质量级别.«4各IUfiUM允怖点状缺暗显示Nt拆接接头版Ift警纵被检工件公称呼rtt,'m点状屎陷显示数,,个IIO-TO0.2ti多为5I1.IO-TO0.41,呆名为10I1.1.10-70招过H级者9.2.3 对于密集型点状i三显示,应坪为川级,9.3 差点状铁馅显示的朋量分级要求9.3.1 非点状缺陷显示的质附分级按表5的规定迸行评定。«5看点状蝌国防的岫扮量Mifit等级I:件公称隙收t/m第个缺陷尺寸取个或多个缺陷素让长度氏度1.naxmAKh2/m若1>1心装路高度h,rm1IOf1.W1.5