minitab数据分析参考.pptx

测量指标：OCV1开展日期：2013年7月20日样本量：共20个 量具：OCV机测量点：A、B、C 测量方法：计量型数据、三个测量点、重复三次,M1 Y的数据真实性验证OCV机的MSA,分析：此测量系统的%R&R为0.12%，%P/T为0.29%，可区分类别数为1159，满足要求。,量具 R&R 方差分量来源 方差分量 贡献率合计量具 R&R 0.00 0.00 重复性 0.00 0.00 再现性 0.00 0.00 测量点 0.00 0.00 测量点*电池编号 0.00 0.00部件间 3243.97 100.00合计变异 3243.98 100.00过程公差下限=3800 研究变异%研究变%公差来源 标准差(SD)(6*SD)异(%SV)(SV/Toler)合计量具 R&R 0.0693 0.416 0.12 0.29 重复性 0.0584 0.350 0.10 0.24 再现性 0.0373 0.224 0.07 0.15 测量点 0.0105 0.063 0.02 0.04 测量点*电池编号 0.0357 0.214 0.06 0.15部件间 56.9559 341.735 100.00 235.79合计变异 56.9559 341.736 100.00 235.79可区分的类别数=1159,%P/T,%R&R,测量指标：OCV1开展日期：2013年7月20日样本量：共20个 量具：OCV机测量点：A、B、C 测量方法：计量型数据、三个测量点、重复三次,M1 Y的数据真实性验证OCV机的MSA,M2 Y的现状分析K值分析,。,结论:1）534863-2200 K值正态性检验及Johnson变换：K值不符合正态分布，经过适当的Johnson变换可以转换成正态分布；K值的过程可控；PPK=0.71.33,K值的过程能力较差,M2 Y的现状分析K值分析,结论:1）372675-850 K值正态性检验及Johnson变换：K值不符合正态分布，经过适当的Johnson变换可以转换成正态【分布；K值的过程可控；PPK=0.431.33,K值的过程能力较差,A3 X1-Y1分析正极材料对K值的影响,结论：检验结果显示过程受控；数据为正态分布。等方差检验显示P=0.0560.05，说明方差相等；,A3 X4-Y1的分析化成制度对K值的影响,结论：P=0.0010.05，说明不同化成制度对产品K值的影响存在显著差异。,试验分析K值均值分析,I2 X的改善的实验结果,结论：1.四项主效应对K值均值影响显著；2.混杂结构：AB=CD，AC=BD，AD=BC及分析结果得：二阶交互项正极材料和隔膜（或电解液和化成制度）、正极材料和化成制度（或隔膜和电解液）影响显著；3.所以对K值均值影响因子排序为电解液、正极材料和隔膜（或电解液和化成制度）交互作用、正极材料和化成制度（隔膜和电解液）交互作用、隔膜、化成制度、正极材料。,