传感器应用技术实操练习四：应变片的温度影响测试.docx

实操练习四：应变片的温度影响测试一、测试目的：了解温度对应变片测试系统的影响。二、基本原理：电阻应变片的温度影响，主要来自两个方面。敏感栅丝的温度系数，应变栅的线膨胀系数与弹性体（或被测试件）的线膨胀系数不一致会产生附加应变。因此当温度变化时，在被测体受力状态不变时，输出会有变化。三、需用器件与单元：主机箱中±2V±10V（步进可调）直流稳压电源、±15V直流稳压电源、电压表：应变传感器实验模板、托盘、硅码、加热器（在实验模板上，已粘贴在应变传感器左下角底部）。四、测试步骤：1、按照全桥特性测试操作。2、将20Og祛码放在托盘上，在数显表上读取记录电压值Uol。3、将主机箱中直流稳压电源+5V、_L接于模板的加热器+5V、_1插孔上，数分钟后待数显表电压显示基本稳定后，记下读数Uot,UoLUol即为温度变化的影响。计算这一温度变化产生的相对误差：U-UU=ololX100%测试完毕，关闭电源。