免缠绕式光插回损测试仪校准规范建议书.docx

附件:电子行业计量技术规范项目建议书建议项目名称免缠绕式光插回损测试仪校准规范制定或修订EI制定 口修订被修订计量 技术规范号计量技术规范 性质检定规程 13校准规范计量技术规 范类别口重点 口基础主要起草单位工业和信息化部电子第五研究所联系人苏阳联系电话13697447951任务年限2023 年2024 年申请经费10万元参加单位具备的特点口安全口节能口环保0自主创新其他目的、意义和 必要性L目的、意义及必要性光纤、光纤连接器、光开关和光分路器等光器件是光测试领域 不可缺少的基本器件，这些器件的性能直接影响到整个系统的性 能。插入损耗和回波损耗是衡量这些器件的最基础的指标，必须要 对其进行测试。目前插入损耗的标准测量方法是稳定光源加光功率计的方法， 回波损耗常用的测量方法有光连续波反射法(OCWR)、干涉法以及 光时域反射法(OTDR)等。免缠绕式光插回损测试仪通常是指基于 光时域反射法测量回损的仪器。光连续波反射法示意图如图1所示：光回波损耗仪 1光源I i II I II I (I i耦合密被测器件光纤串接器II I图1连续波反射法光时域反射法是一种基于光脉冲反射的测试技术，测量示意图 如图2所示：距离图2光时域反射法基于光时域反射的回波损耗测量仪不仅可以准确定位到被测 件的位置，还具备很多优点如：光路上非被测件的反射对其测量结 果影响较小，有较高的动态范围，不需要末端缠绕，可以区分瑞利 散射和菲涅尔反射和与光开关一起能实现大规模复杂的测试要求 等。使用OCWR方法测量回损存在很多的限制，比如：测试步骤多, 需要过程复杂的系统校“零”，不能一次连接进行插损和回损的测 试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射，不适合55dB以上的回损测 量等等。由于这些限制使得OCWR方法不适合一些特定场景的回损 测量，如：无法弯曲和不能破坏接头的光缆接头盒，特种光缆和 MPo光纤等。随着数据中心的发展，MP0、MTP等多芯类型的光纤跳线需求 量增大，免缠绕式光插回损测试仪成了测量光纤插损和回损的主流 仪器。近几年来我们计量的回损测试仪其中免缠绕式光插回损测试 仪占了一半以上。但由于目前的计量规范JJF 1325-2011通信用 光回波损耗仪校准规范和JJF（浙）1019-2008光插入损耗和回 波损耗测量仪器校准规范只适用于基于连续波反射法的插回损测 试仪，测量方法不能满足免缠绕光插回损测试仪的计量需求，这使 得免缠绕式光插回损测试仪的计量成了迫切需要解决的问题，故免 缠绕式光插回损测试仪校准规范的编写是十分必要的。2 .先进性校准规范所规定的插损、回损、长度和波长项目的计量方法和 计量范围，能覆盖目前免缠绕光纤插回损测试仪，具备一定的自主 创新性，能有效保证免缠绕光纤插回损测试仪量值的准确性和可靠 性。3 .社会效益及应用前景目前光纤连接器正由MTRJ> E2000向MPO升级，一根MPO 光纤跳线可以支持12-72芯乃至96芯的光纤连接,可满足数据中心 40G、IoOG光纤网络的高密度传输需求。随着数据中心的传输需求 越来越大，未来大容量、高速率的数据传输必然给MPO光纤跳线 带来广阔的市场前景，然而MPo光纤跳线不易于被缠绕，导致传 统的插回损测试仪不能用于MPO光纤跳线的回损测量，必须通过 免缠绕式光插回损测试仪来测量其回损，这使得越来越多的厂家购 买免缠绕式光插回损测试仪来满足生产的需要。然而其没有相应的 计量规程，现有的计量方法已不适用于它的计量。急需制定相关的 计量技术规范以保证测量结果的一致性和可靠性，特申请编制免 缠绕式光插回损测试仪校准规范。通过研究免缠绕式光插回损测 试仪的计量校准方法，可以填补目前国内免缠绕式光插回损测试仪 没有计量校准依据的空白，为其量值溯源提供依据，促进光电子测 试行业的发展。4 .查新结果目前国内免缠绕式光插回损测试仪还没有相应的国家或部门 计量技术规范，缺乏合适的溯源途径。与其相关的规范有JJF 1325-2011通信用光回波损耗仪校准规范、JJG 959-2001光时 域反射计检定规程和JJF（浙）1019-2008光插入损耗和回波损耗 测量仪器校准规范。1 .适用范围本规范适用于基于光时域反射技术的免缠绕式光插回损测试 仪的计量校准。2 .计量特性典型的免缠绕式光插回损测试仪的外观及指标：(1)制造厂：嘉慧、型号：JW8307A：范围和主要槐长13IOa . 1550»8S0ra , 1300m计量特性曲英曾序 LaserLED<!*± IOna±30ra林彩电林茂不粉?5SIBC-6I28O -4 -I> -7 (A> -27 <fcoi<B /ItelnOkOIdB /!teln03(tt / Shnur0.06dB 8hour许芯9/I2S50/125或62.5/125RVAPCWyAFCMM8g,二!OXffiPUgd FP Userpulsed FP LaserQflflizea12dB ；SdB12dB - 55dB*S± i<B (I2d3 * 55dB)± IdB (12<0 40dB)± 1.5<S (55<B * 65dB)1 !.SdB (40dB - 50dB>"标桢2-10 eters2-IO arters"长度(剧卸2 1即2 BKers (UlC)3 vters (XlIFC)3 otters(未 *O财长Jr长)IOOO BrtersIOOO Mlers(2)制造厂：Dimension> 型号：RLM1112A-1FA/RLM5156A-1FP：产品基本曼号RLM1112A-1FARLM5156A-tFP光功率计部分模块奥堂单模多模探测器类型InGaAS保泅88大小2m波长测试范困800nm 1700nm光功率测试建图15d-70dB at 155Onm (不使用积分球)畿性度±0. 05dB (÷5dBa-50dBm)总不确定度± (5*500pW>测试位d8mdB插损部分光源波长1310/1490/15501625m8501300n光源类型LASER光源稔定度±0.01dB (常温30分钟)光纤类至SW 9/125MM 50/125 or 62.5/125光输出接口FC/APCFC/UPC环通标准NAI EC-61280-4-1回损部分回损黑试色围30-80dB-15-55dB回授测试精度-30 65dB ： ±1 OdB- 15 50dB: ±1. OdB-65 75dB ： ±2 OdB- 50 55dB： ±2. OdB光纤长度（最短）OUT RL(KiK)>50dB . 0.7米OUT Ru两*)<50dB 1 7米单次测量时间<10* (快速模式：SM MP012<10t.MM MPO12<12*)(3)制造厂：OPTOTEST、型号：OP940：Return LossSourceWaveIengthCaM)rxd Measurement Range Measurement UnejrityBIOnm. 155Onm1490nm. 1625nm.IOdBto-SOdBt1dB(l2d8to72dB)850nm, 1»0nm40dBto8dt1dBH0dBto45<JB)upto2S00 meters1.7 meters (both reflections <4SdB)Madrel-ff ee minimumI dbwnee fXorInsertion LossDunct tony,Xor wgft canf tywfm. 0wr J ot 4法 a mar changt o/rc Rx 1.2. 0v*d wn参考典型仪器及标准中免缠绕式光插回损测试仪的技术要求， 计量特性如下：2.1 插入损耗波长范围：单模 131Onm、1490nm> 155Onm 和 1625Ilm；多模 850nm 和 1300nm;插入损耗测量范围：(060)dB;最大允许误差：(0l)dB： ÷0.05dB, (1 5)dB： ±0.1 OdB, > 5dB： ±0.20dB;2.2 回波损耗波长范围：单模 131Onm、1490nm> 155Onm 和 1625nm;多模 850nm 和 1300nm;回波损耗：单模(1275)dB,多模(1055)dB;最大允许误差：单模(1270)dB: ÷ldB, (7075)： +2dB;多模(1550)dB: ÷ldB, (5055)： ±2dBo2.3 长度测量范围：3m2.5km;最大允许误差：±(1.5m+l%x长度)。2.4 中心波长波长范围：单模 131Onm、1490nm> 155Onm 和 1625Ilm；多模 850nm 和 1300nm;最大允许误差：单模：±10nm,多模：÷30nmo3 .主要标准器的技术指标3.1 标准光衰减器(1)波长范围：单模 131Onm、1490nm 1550nm 和 1625nm;多模 850nm 和 1300nm;(2)衰减范围：(060)dB;(3)衰减不确定度：0.03dB;(4)输入输出类型：建议为APC/APC。1.2 回损标准件(1)工作波长：单模 131Onm、1490nm 1550nm 和 1625nm; 多模 850nm 和 1300nm;(2)回损：(1020)dB°(3)最大允许误差：±0.5dBo1.3 长度标准光纤(1)光纤长度：3m2.5km内取5个点；(2)回波损耗：优于55dB；(3)最大允许误差：±(0.2m+0.5%x长度)。1.4 光谱分析仪(1)波长范围：覆盖被测波长范围；(2)波长测量最大允许误差：±2nm01.5 光纤跳线(1)跳线长度：23m；(2)回波损耗：优于55dB；(3)接口类型：建议APC/APC；1.6 时延发生器(1)时延最大允许误差：±0.5%；(2)时延范围：(0-25) mso(3)输出脉冲幅度：阻抗50C,输出电平(0.55) V可调整, 极性可选择。(4)脉冲宽度：(51000)ns可调整。1.7 光电转换器和电光转换器(1)波长范围：覆盖被检设备的波长范围(2)输出幅度：阻抗50,光电转换器输出幅度IVpp,电光 转换器输出功率-20dBm0(3)带宽：带宽200MHZ或者更高。4 .校准项目插入损耗、回波损耗、长度、中心波长。5 .校准方法5.1 插入损耗校准原理：按图4所示连接仪器，首先调节标准光衰减器，使 得免缠绕式光插回损测试仪能够正常测试，并将此时的标准光衰减 器值作为参考值，光衰减器显示为OdB,启动免缠绕式光插回损测 试仪，并进行Ref操作，此时被测仪器示值为OdB。调节标准光衰 减器,记录被测仪器所测插入损耗值。免缠绕式光插回损测试仪5.2 回波损耗校准原理：将被测仪器按图4连接进行参考校准后，连接回 损标准件如图5所示，回损标准件的标准值为Rref,调节光衰减器 量值为RaU,则回波损耗标准值为&d=Rd÷2xRau0读取被测仪器示 值Rnd,计算误差K=Rnd-Rstdo免缠绕式光插回损测试仪图5回波损耗测量示意图5.3 长度校准原理：按图6连接长度标准光纤，长度标准光纤标准值为 h被测仪器执行定位操作，读取被测仪器显示值/,计算误差3=-o.免缠绕式光插回损测试仪标准跳线脉冲光再图6长度测量示意图校准原理：按图7连接设备，延时发生器设置为外触发、脉冲 宽度通常为5ns、根据电光调制器(0/E)调整输出幅度，使得电光 转换器(E/0)输出光信号达到合适范围。调整光衰减器的值，使得进 入到被测仪器的光信号达到合适的功率(通常小于-20dBm)根据选 点，延时发生器设定相应的时延值，被测仪器执行长度测量，得到 测量值Lio根据Lo=CX(fo+Af)2计算标准长度，其中Po为系统固 有延时，可通过频率计或者示波器测得，。为时延发生器设定值， 为折射率，C为光速。5.4中心波长校准原理：按图7所示，将被测设备用光纤连接至光谱分析仪， (如果光源输出功率超过光谱分析仪的测量范围，则需要加光衰减 器)用光谱分析仪直接测量被测仪器输出光的中心波长。!脉冲光.I WS!1;>光谱分析仪;光功率计 <1!-1一i *Q免缠绕式光插回损测试仪图8中心波长测量示意图水平口国际先进EI国内先进国内外情况 简要说明目前国内免缠绕式光插回损测试仪还没有相应的国家或部门 计量技术规范，缺乏合适的溯源途径。与其相关的规范有JJF 1325-2011通信用光回波损耗仪校准规范、JJG 959-2001光时 域反射计检定规程和JJF(浙)1019-2008光插入损耗和回波损耗 测量仪器校准规范。JJG 959-2001光时域反射计检定规程中主要参数是距离、 距离特性，距离特性是指光纤每公里的损耗，不涉及到插入损耗和 回波损耗的测量。光时域反射计和免缠绕式光插回损测试仪是两种 是完全不同类型的仪器，其应用场景、测量对象和测量参数都不同。JJF 1325-2011通信用光回波损耗仪校准规范和JJF(浙) 1019-2008光插入损耗和回波损耗测量仪器校准规范这两个规范 已经不适合现在的免缠绕式光插回损测试仪的校准。理由如下：(I)JJF 1325-2011通信用光回波损耗仪校准规范和JJF(浙) 1019-2008光插入损耗和回波损耗测量仪器校准规范这两个规范 的被测对象是基于光连续波反射法的光回损测试仪，其输出光源为 连续光，而免缠绕式光插回损测试仪使用的是脉冲光源。(2)由于免缠绕式光插回损测试仪使用的是脉冲光源，其连接 光纤需要考虑其盲区的影响，光纤长度一般需要大于3m。上述两 个规范无需考虑。(3)测量的范围不同，上述两个规范的回损测量范围为 (065)dB,而免缠绕式光插回损测试仪测量范围最大可达到80dB, 回损标准件无法直接测到65dB以上。(4)计量方法不同，测量回损时由于免缠绕光插回损测试仪是 基于光时域反射的方法，回损测量受连接器、光纤等影响小和背向 散射影响小，所以不需要末端缠绕或者终端校准，只需要进行参考 校准就可以直接测量回损。而其他方式的回损测量除了参考校准 外，还需要末端缠绕或者终端校准，具体见JJFl325-2011通信用 光回波损耗仪校准规范6.3.1小节和JJF(浙)1019-2008光插入损 耗和回波损耗测量仪器校准规范7.2.8小节。（5）直接加回损标准件无法校准免缠绕光插回损测试仪，需要 标准跳线、回损标准件加光衰减器才能满足回损计量，缺一不可。 而JJF（浙）1019-2008光插入损耗和回波损耗测量仪器校准规范 采用的是回损标准件直接计量。（6）测量的参数有差异，免缠绕式光插回损测试仪具备测量光 纤长度的功能，JJF 1325-2011通信用光回波损耗仪校准规范和 JJF（浙）1019-2008光插入损耗和回波损耗测量仪器校准规范无 长度测量参数。免缠绕式光插回损测试仪典型测量界面如下图：图9测量界面示意图综合以上说明，免缠绕式光插回损测试仪的仪器内部结构、计 量方法和计量特性与上述两个规范的校准对象不同，上述两个规范 无法校准免缠绕式光插回损测试仪。本规范不涉及知识产权和专利问题。主要（签字、盖公章）技术（盖公章）部委托（盖公章）起草委员支撑单位月 日会月 日单位月 日填写说明：L表中第2, 3, 8行，请在选定的内容上填写“”的符号。2.填写制定或修订项目中，若选择修订则必须填写被修订计量技术规范号。