T5车载方案软硬件稳定性检查checklistV1.0.docx

AllwinnerT507车载方案软硬件稳定性检查Checklist文档版本FOl文档类型FAQ文档发布日期2020-1-15版权版权所有©珠海全志科技股份有限公司2019-2020o保留一切权利。商标声明非经本公司书面许可，任何单位和个人不得擅自摘抄、复制本文档内容的部分或全部，并不得以任何形式传播。Allwinnertech>Allwinner>全志和其他全志商标均为珠海全志科技股份有限公司的商标。本文档提及的其他所有商标或注册商标，由各自的所有人拥有。注意您购买的产品、服务或特性等应受全志公司合同和条款的约束，本文档中描述的全部或部分产品、服务或特性可能不在您的购买或使用范围之内。除非合同另有约定，全志对本文档内容不做任何明示或默示的声明或保证。由于产品版本升级或其他原因，本文档内容会不定期进行更新。除非另有约定，本文档仅作为使用指导，本文档中的所有陈述、信息和建议不构成任何明示或暗示的担保。本文档中所提供的数据在不同的测试环境下可能存在一定的偏差，因其使用而导致的设计、开发错误，或可能遭致的意外、疏忽、侵权及其造成的损失（包括但不限于直接的、间接的、后果性的或附带性的损失），全志不做任何明示或默示的声明或保证。请您谨慎决定是否使用。本文档中提到的第三方技术，除全志明确表示已获得合法授权且转授权予您使用外，您需要自行向权利人获取合法授权，同样，如您需在全志交付的软件或产品上集成第三方技术（如SolIy、DTS>杜比、AVS>MPEGLA等）时，也请您自行向权利人获取合法授权。全志不为您的未授权行为或前述集成行为支付任何许可费用或提供任何技术支持，也不承担任何保证责任。请您自行为其后续使用行为负责。前百概述 本文档提供T507车载方窠软硬件稳定性checklist检查项 本文用于指导客户端在方案开发阶段自主检查硬件设计、软件设计相关的稳定性因素 用于用于指导客户端在产线发生稳定性问题后，自行排查不稳定性因素读者对象本文档主要适用于以下工程师：硬件工程人员 软件工程人员 产线QA工程人员修订记录版本修改人时间备注V1.0AWA10862020/1/15增添常规硬件检查章节目录版权2前言3目录41. 常规硬件检查52. VDD.CPU静态负载下电压检测83. VDD_CPU动态负载电压检测94. DDR类问题检查105. 产品稳定性实验121.常规硬件检查典型测试场景：主界面检查项目测试结果备注15V总电源检查系统工作的功耗NA5V电压&纹波&跌落NA2电源检查PMU各路DCDC/LDO推荐电压精度&纹波&噪声电压&纹波&噪声&电压跌落VCC-IO3.3V±1O%&5%<fe10%VDD-CPU0.88V-1.10V&W10%&NADC值需要考V-F表VDD-SYS0.96V±3%&5%<fc10%VCC-DRAM1.5V±5%&W6%&10%DDR31.35V(1.283V-1.45V)&6%&10%DDR3L1.2V(1.14V1.26V)&6%&10%LPDDR3&DDR4l.lV(1.06V-1.17V)<fe6%&10%LPDDR4VPP-DRAM2.5V(2.35V2.75V)&6%&10%仅限DDR4AVCC&VCC-PLL&VDD18-DRAM1.8V±2%&l%<fe1.5%其它外设电源具体电源标准请参考外设需求本项只填写异常外设电压5原理图检T507硬件设计指南V1_O自检是否通过？列出没有通过的设计点并评估风险。使用的DDR原理图模板是否是官方发布最新版本批量量产前需要确认模板是否已经调试验证，达到T/S状态6PCB检查T507_PCBDeSign_CheckIiSLVl.X自检是否通过？列出没有通过的设计点并评估风险。使用的DDRPCB模板是否是官方发布最新版本批量量产前需要确认模板是否已经调试验证，达到T/S状态VDD-CPU电源走线是否满足设计要求VDD-SYS电源走线是否满足设计要求VCC-DRAM电源走线是否满足设计要求7重要元件检查DDR型号是否属于AVL支持列表中的型号？如果不在支持列表，请写出具体型号。FLASH型号是否属于AVL支持列表中的型号？如果不在支持列表，请写出具体型号注意：1 .跌落电压不得低于上述各电源要求的最低电压，CPU的最低工作电压为V-F表配置的各档位电压值;2 .以上电压测量推荐的典型测量场景为主界面，如遇到系统稳定性问题时，需要在具体发生的场景测试异常样机的各路电源的静态电压值，以及样机从正常状态转变为异常状态的动态过程电压测量值，动态过程正常主要是为了观察电压是否有过冲、跌落等异常电源波形；2. VDD_CPU静态负载下电压检测典型测试场景：Uboot阶段轻载VDD.CPU电压输出系统启动到UbootSheIl后，测试CPU电压。电压预期测试结果cpu电压vddcpu=l.Ov3. VDD_CPU动态负载电压检测典型应用场景：播放1080p高清码流在超级终端输入下列命令定频后测试VDD_CPU电压，定频的具体操作方法:/*设置CPU频率调节策略到用户模式*/echouserspace>sysdevicessystemcpucpuOcpufreqscaling-governor/*设置CPU测试频率，如1008000=1008MHz*/echo1008000>sysdevicessystemcpucpucpufreqscaling-setspeed/*查看设置CPU频率操作是否生效*/cat/sys/devices/system/cpu/cpuO/cpufreq/cpuinfb_cur_freq步骤设置频率预期cpu电压实测Cpu电压14080000.82V28160000.88V310080000.94V412000001.02V51416000LlOV注:动态负载：指CPU运算负载存在大幅度波动，变化较为剧烈;4. DDR类问题检查步骤检查内容检查结果备注1DDR驱动版本是否为SDK发布时版本？2DDR的配置参数是否与所使用的DDR模板相对应？3如果是自行设计的DDR模板，或者是非正规物料，DRAM配置参数是否有做优化适配？4MemteSt稳定性测试是否通过？测试频率是多少?测试样机和测试时间是多少？5DDR当前量产工作频率MHz?故障现象？6DDR降低频率后是否正常MHz?正常？测试说明：1.优先确认测试固件的ddr驱动版本号是否最新，驱动版本号对应的ddrPara参数是否匹配2 .使用全志原厂提供的dragonHD工具进行老化测试3 .以上两种方式均无问题，基本可以排除焊接问题（颗粒焊接正常与否）4 .系统运行异常情况下，如果对DDR进行降频复测不复现问题，则怀疑DDR可能存在性能问题,可在老化测试过程中增加memtester测试，通过memtester检查是否存在DDR异常报错。5 .系统休眠唤醒存在异常，则需要打开CRC校验测试。6 .硬件可以通过确认DRAM眼图测试结果，确认硬件是否异常。7 .DDR供电纹波测试（VDD_DRAM为例），注意：需要选择靠近管脚的电容，示波器表笔接地最小环路，选择交流耦合，测试得波形的峰-峰值为纹波值。示例如下所示：1）,跌落测试（VDD_DRAM为例）注意：示波器表笔下降沿触发2）.用示波器表笔测得VDDDRAM=L06V,跌落值选择跌至1.04V5.产品稳定性实验步骤实验对象实验结果备注1休眠唤醒测试是否通过？说明测试样机数量、测试时间、工作环境温度。2reboot测试是否通过？说明测试样机数量、测试时间、工作环境温度。3高低温可靠性测试是否通过？说明测试样机数量、测试时间、工作环境温度与湿度。