NB_T 47013.14-2023 承压设备无损检测 第14部分：射线计算机辅助成像检测.docx

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1、ICS77.040.20CCSH26NB中华人民共和国能源行业标准NB/T47013.142023代替NB/T47013142016承压设备无损检测第14部分：射线计算机辅助成像检测2024-04-113Nondestructivetestingofpressureequipncnts-Part14:Computedradiographictesting2023-10-11发布国家能源局发布家能源局公告2023年第5号根据中华人民共和国标准化法能源标准化管理办法，国家能源局批准电动汽车充放电双向互动第1部分：总则等261项能源行业标准（附件1）、等42项能源行业标准外文版（附件2）,现予以发布

2、。附件：行业标准目录二。二三年十月十一日附件:行业标准目录序号标准编号标准名称代苗标准采标号出版机构批准H期实施FI期1-98(W)99NB/747013.112023承压设备无根检测第1I部分：射我数字成像检测NB/T17013.11-2015北京科学技术出版社2023-10-112024-(MTl100NB/T47013.14-2023承压设备无损检测第M部分：射线il尊机辅助成像检测NB/T47013.14-2016北京科学技术出版社2023-10-112024-04-11101-261)引言VI范困12规范性引用文件1314一般要求45检测工艺及其选择76图像侦取要求157缺陷的识别与

3、测1198图像存饰和保存199检测结果评定和质/分级20IO检测记录和报告2（）附录A（资料性）最小灰度值测试方法21冏录B（双莅性）分辨率（力）的测定22附录C（规范性）归一化信噪比的测定24参考文献25本文件按照GB/T1.1-2020标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件是NB/T47013承压设备无损检测？的第M部分,NB/T47013己经发布了以下部分：一第1部分：通用要求：第2部分：射线枪测;第3部分：超声检测；一第4部分：磁粉检测:第5部分：渗透检测：笫6部分：涡流检测:一第7部分：目视检测：一第8部分：泄漏检测:第9部分：声发射检测：第10部分:衍

4、射时差法超声检测：第11部分:射线数字成像检测；第12部分:洞磁检测;一一第13部分:脉冲涡流检测:第M部分:射我计算机辅助成像检测;第15部分:相控阵超声检测.本文件代替NB/T17013.M2016E承压设备无损检测第14部分：X射线计算机辅助成像检测3,与NB/T47013.142016相比，除题目和结构谢整以及编辑性改动之外，主要技术变化如下：a）增加了引言:b）扩大了文件的使用苑国，增加了IM92和Sc75射线源（见1.4）;C）增加了1日92和舐75射线源应用的规定（见4.2.2、5.8.2、5.9.2、表2、表3、表12、表13）：d）增加了与lrl92和Se75射线源相关引用文

5、件（见第2章）：e）增加了与文件相关的术语和定义（见3.103.12、3.18、3.20.3.223.26）：f）补充了工艺验证内容（见4.4.4、10.1、10.2）：g）补充工艺规程的相关因素（见4.4.2）;h）增加标样的要求（见5.14）;i）更改了图像分辨率要求的部分内容（见6.3,2016版的5.16.2、表8表1D;j）更改了归一化信噪比的部分要求（见6.4,2016版的5.16.3、衣10表13）：k）增加了缺陷的识别与测f的要求（见第7谎）:1）删除了图像尺寸测量（见2016版的5.19）：m）更改了检测结果评定和质研分级（见第9刀,2016版的第6章）。本文件Iil全国拐炉

6、压力容潺标准化技术委员会（SCTC262）提出并归.本文件起尊单位，中国特种设备检测研完院、中广核工程有限公司、立信染整机械（深圳）有限公司、吉特深冷工程系统（常州）有限公司、广东省特种设需检测研究院、江苏省特种设爵安全监督检骁研究院、北京埃彼咨能源科技有限公司、上海冠域检测科技有限公司、北京合聚信达科技有限公司、税阿亚太投资管理（上海）有Rl公司、贝克休斯检测控制技术（上海）有限公司、青岛持恒过程技术有限公M.本文件主要起草人：梁丽红、朱从斌、原可义、林树青、李亚军、盛佩军、王广坤、郑凯、李绪丰、李黎、韩向文、谢佳军、朱彦、市毅本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：2016年百次发布为N

7、B/TI7013.14-20164承压设备无损检测第14部分：X射战计炼机辅助成像检测8；一一本次为第一次修订。IV射线计算机辅助成像检测（ComputedRadiographicTeSIing.筒你CR检测）是一种利用瞌光成像板（IP）在射线辐照下曝光获取检测对象信息，通过专用扫描仪获取成像板中存储的信息，并通过计算机软件形成数字图像的数字化射线检测技术。马传统的射线胶片照相检测技术相比，该技术具有图像质量高、动态能因大、绿色环保、易于携带等优点。为规范和指导该检测技术在特种设备行业的应用,全国锅炉压力容器标准化技术委员会组织相关单位制定了相应的检测方法标准,并列为NB/T47013S承压设

8、备无损检测B的第M部分。本文件严格执行XB/T47013,第I部分：通用要求”的规定，并与NB/T47013“笫2部分：射线检测”和NB/T47013”第II部分:射线数字成像检测”相呼应。由于胶片照相检测技术、射线计算机辅助成像技术和射线数字成像信测技术所采用的成像器件和图像处理方法不同，有必要针对三种检测技术分别作出相应的规定。本文件已于2016年首次颁布实施，经过几年的应用，检测技术不断进步，新的需求不断产生，标准的不完善之处开始显现。同时，为适应国内外和关标准的变化，进一步拓展射线计辑机辅助成像梭刈技术在特种设名行业的应用，全国锅炉压力容涔标准化技术委员会于2021年组织相关单位和专家

9、对本文件进行适应性的修订承压设备无损检测第14部分：射线计算机辅助成像检测1 M1.1 本文件规定了承压设备金属材料受压元件的熔化焊焊接接头的射赛计算机辅助成像检测技术和侦量分级要求”用于制作焊接接头的金属材料包括钢、铜及铜合金、铝及稻合金、钛及钛合金、锲及集合金。1.2 本文件适用于承压设备受压元件的制造、安装、在用检测中板及管的对接接头对接焊缝（以下简称“对接焊缝”）的射线计算机辅助成像检测：1.3 本文件适用的成像器件为成像板.1.4 本文件适用的射线源为X射线源和Irl92、Sc75y射战源，其中X射线机最高管电压不超过600kV.1.5 承压设备支承件和结构件以及插入式和安放式接管的

10、焊接接头的射线计算机辅助成像校测，可参照使用。2泗S性引用文件卜列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中注日期的引用文件，仅该口期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件.CB/T14058射线探伤机GB/T21356无损检测计口机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法GB/T23901.1无损检测射税照相检测图像质口第1部分：丝型像质计像顺值的测定GBZT23901.5无损检测射线照相检测图像质做第5部分：双丝型像质计图像不清晰废的测定GB/T23910无损检测射线照相检测用金属增覆屏JB7902无损检测线型像质计通用规范J

11、B,/T11608无损检测仪器工业用X射线探伤装置NB/T47013.1承压设备无损检测第I部分：通用要求NB/T47013.2承压设备无损检测笫2部分：射线检测3*WWXNB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件.3.1成像板IPimagingplalc一种涂有稀土.元素钠、领、（化合物,曝光后能以潜影形式储存信息的柔性板.3.2射线MK机Ittt成馋刎KCOmPUtedradijrapliesystem由成像板、专用激光扫描仪（以下简称“扫描仪”）、计算机硬件和专用软件等组成，能将成像板上的信息转焕成数字图像的系统.前称CR系统.3.3被检工件-成像板距ihObjectTo

12、-IPdistance沿射线束中心线方向上测量的被检工件表面（射线源恻）至成像板之间的距离.&4Ml*成像根距Msource-to-lPdistance沿射线束中心线方向上测量的射线源至成像板之间的距离，即焦距.3.5MlftX件JEXfSoiiraMoobjectdistance沿射线束中心领方向上测量的射线源至被检工件表面（射线源侧）之间的距离，3.6成像板的结构麋声StnicturenoiseoflP成像板感光层和表面的结构不均匀导致的数字图像的固有噪声。3.7像素pixel射践数字图像的范本蛆成单元。射筏数字图像由点组成，组成图像的点称为像素，X8灰度值greyvalue表征数字图像中

13、像素明暗程度的数值3.9线性灰度值IinCariZedgreyvalue与成像板的曝光量成正比的灰度假.3.10图像灵敏度imagesensitivity检测系统发现被检工件图像中蚣小细节的能力。3.11分辨率resolutionra（k球位K度上分辨两个相邻细节间最小距离的能力，取位为税对每奈米（IPfmm）。X12分洲力resolution分册两个相邻细节间蚣小他离的能力，单位为米（mm）oX13系块分好率systemresolutionrati*单位长度上CR系统分辨两个相邻细节间最小距点的链力.也称为系统基本空间分辨率，单位为跋对每厘米（IP1mm）.3.14图像分Wl率imagere

14、solutionratin桧测系统分辨被检工件图像中单位长度上两个相邻细节间地小用离的能力，也称图像空f可分辨率，单位为线对每亳米(lpnm).3.15扫描分解率scanningresolutionratio由扫描决定的数字图像的像索几何尺寸，取决于激光扫描仪扫描成像板的行间距，以及激光点扫描行走速度与模数转换器工作频率之比.3.16比SNRsignaltonoiseratio在数字图像中选定区域的线性灰度平均值与标准差的比值。3.17归一化信噪比SNRarTOrnHliZedsignal-to-11oiseratio基干分辨率,经归一化处理后的信噪比.3.18选照度Wpenetratedth

15、ickness射线透照方向上材料的公称厚度.多层透照时，透照厚度为通过各层材料的公称M度之和。3.19一次透照长度effectivelengthofasingleexposure符合标准规定的单次咻光最大有效检测长度，3.20透照厚度比Kratiobetweenmax.andmin.penetratedthicknesses一次透照尺度愈国内，射线束穿过母材的最大必度和最小熔度之比，也称为穿透厚度比，3.21数字图像处理digitalimageprocessing利用计算机时数字图像进行处理的方法和技术。3.22标样standardSamPIe用T标定图像中特征大小的己知尺寸的试样。3.23原

16、始图像rawimage成像板形成的潜影经扫描仪扫描后的图像。3.24roundfl三长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钓等体积型块陷。3.25条形缺Iestripy11aw长宽比大于3的气孔、夹渣和夹管等体积型缺陷.3 .26小径管smalldiametertube外直径D.小于或等于100mm的管子。4 0*4.1 4HHAfl4.1.1 从事射线计算机辅助成像检测人员（以下简称“检测人员”）的般要求应符合NB/T47013.1的有关规定.4.1.2 检测人员应了解与射线计并机辅助成像技术相关的计像机知识、数字图像处理知识,掌握相应的计第机及检测软件的蓦本操作方法.4.1.3 检测人员应按相关法

17、规的要求，在上岗前接受辐射安全与防护知识培训,并取得相应射线源的考核合格证书.4.2 检潴系统和材4.2.1 xima4.2.1.1 应根据豉检工件的厚度、材质和焦距,选择X射线机的能量范围，4.21.2果用的X射线机,其性能指标应符合JB/T11608的规定,使用性能测试条件及测试方法参考GB/T26592和GB/T26594的规定.4.2.1.3供应商应提供X射战管的焦点尺寸和辐射角度，422Y射线机4.2.2.1 应根据被检工件的厚度、材蜕和焦距,选择丫射线源类型及活度。4.2.2.2 采用的丫射战机，其性能指标应符合GB/TM058的规定，4.2.3CR系统应根据检测对象和技术要求选择

18、适用的CR系统.系统性能测试条件及测试方法按GB/T21356的规定执行。系统至少应满足以下性能指标：a）图像几何畸变率应小于士茂；b）扫描仪和成像板之间不应存在抖动、滑动，或抖动低丁系统噪声水平；O图像同一水平线上，中心区域与边缘背景灰度变化率不应超过10S;d）其他性能指标包括信噪比、激光束功能、阴影、影像擦除、伪影等。42.3.1AWR供应商应提供成像板的质量证明文件，至少应包括成像板的类型和规格、激发响应时间、化学成分等主要性能参数。用户应按制造商推荐的温度和湿度条件予以使用和保存，并避免不必要的照射，42.3.2供应商应提供扫描仪质量证明文件，内容至少包括规格、扫描尺寸、光电倍埒管电

19、压或增战、扫描分辨率、激光束焦点尺寸等主要性能参数.且其功能和性旄至少满足以下要求：a）扫描仪应具有扫描和擦除功能，擦除后残印潜影灰质值不得高于系统最大灰度的5%：b）扫描激光功率应满足信号采集的要求：C）扫描仪的光电倍增管电压或烟益、扫描分辨率应可避：d）激光束应无质动，且不存在伪影和扫描线丢失现象。4.2.4计算机系统计算机系统的基本配应依据采用的CR系统对性能和扫描速度的要求而确定。宜配饴容量不低于512MB的内存、不低于40GB的硬盘及而亮度而分辨率显示器、刻录机、网卡等。显示器应满足以下最低要求：a）坡低亮度250cdm”b）显示器至少256灰度等皴：c）可显示的最低光强比1:250

20、：d）显示至少IM像素,像素尺寸小于0.3mm.4.2.5系统专用软件4. 2.5.1系统软件是射践计算机辅助成像检测系统的核心单元，控制扫描仪完成成像板采集佶息到数字图像的转换以及潜影擦除、图像存储、辅助评定、标注等功般.5. 2.5.2宜具备多种图像格式的转换功能。-12.5.3应具备灰度、分辨率信噪比、几何尺寸等测i功能.1. 2.5.4应具备灰度变换、对比度和亮度调节、图像缩放等功能，4. 2,5.5应具符采集图像相关信息的浏览和查找功能5. 2.5.6可自动生成检测报告.4.2.6 像质计4.2.6.1 2.6.1本文件采用的像质计包括线型像质计和双线鞭像质计。像所计供货商应提供相应

21、所量证明文件。4.2.6.2 线型像质计a）线型像痂计用于测定图像灵敏度，包括通用税型像质计和等径线岁像侦计两种，其型号和规格应分别符合GBZT23901.1和JB/T7902的规定：b）线型像皮计的材料代号、材料和不同材料的线型像质计适用的被桢工件材料范围见表1的规定执行，线坐像侦计的吸收系数应与被l材料的吸收系数相同或相近，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数.1不同材料三WfflWRW6fflBW（科苑Bl线型像版计材料代号lTiFeNiCu线型像质计材料工业纯铝工业纯钛碳素钢怏-珞介金3*触倒适用材料范国铝、铝合金钛、钛分金钢1、慷合金铜、铜合金4.2.6.3 双线型像质计a）双税审像

22、侦计用于测6系统分辨率和图像分训率：b）双线型像质计的型号和规格应符合GB/T23901.5的要求。4.2.7 功能及性能检测系统和器材的功能及性能应符合上述要求，尺应提供相应的证明文件；检测系统的使用性能应符合本文件规定的图像质最要求，4.284.2.8.1 每年至少对CR系统性能中的几何的变、抖动、均匀性、激光束功能、阳影、伪影等进行1次校准或核查并记录。4.2.8.2 惊年至少应对使用中的曝光曲线进行1次核查.当射线机重要部件更换或经过馆评后，应近新制作噬光曲线。4.2.8.3 运行核咨存在如下情况应进行系统核查并记录，核杳按照GB/T21356描述的方法实施。a）系统改变时（包括各部件

23、的维修、更换、软件升级等）；b）系统停止使用3个月以上，更新使用时：C）正常使用条件下，用户可根据产M说明书和使用频率，在工艺文件中规定核杳豚次，井按规定实施核查。4.3tt三技和皴4.3.1 本文件规定的射线计算机辅助成像检测技术等级从低到高分为三级：A级、AB级和B级。4.3.2 检测技术等级选择应符合相关法规、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。刻承压设备对接焊缝，一般推荐采用AB级检测技术进行检测，对重要设备和结构以及特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊缝,宜采用B级检测技术进行检测.1.3.3当某些检测条件不能满足AB级（或B级）检测技术的要求时,经合同双

24、方商定，在采取有效补偿措俺（例如1增加曝光量或选用信噪比更高的CR系统等）的前提下，若图像质量达到了AB级（或B级）信测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）检测技术进行了检测。4.3.4如果检测中射税源至被检工件表面的距离f不满足5.6的要求，则1.3.3的规定不适用4.3.5如果在用承压设备检测的某些条件不能满足AB级检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措旅（例如增加曝光仪或选用信哄比更高的系统等）前提下可采用A级检测技术进行检测，宜同时采用其他无损检测方法进行补充检测。4.44.4.1 校测工艺文件包括工艺规程和操作指SH.4.4.2 工艺规程除应满足MVT47013.1的要

25、求外，还应规定下列相关因素的具体范困或要求，如相关因素的变化超出规定时，应重新编制或修订工艺规程,a）适用的结构、材料类别及厚度：b）射线源能*范围及焦点尺寸；c）检测技术等级：d）检测工艺（透照方式、透照参数、几何参数）；C）检测设备器材（种类、规格、主要技术参数）；0图像质Ift要求.4.4.3 应根据工艺规程的内容以及被检工件的检测要求编写操作指导书，其内容除满足NB/T47013.1的要求外.至少还应包括：a）检测设备器材：射线海（种类、规格、焦点或源尺寸）成像板和扫描仪（种类、规格）、检测软件、金属屏（种类和瞋度）、像质计（种类和型号）、背敝射屏蔽铅板、标记、标样等.b）检测技术等级

26、。C）检测工艺：透照方式、透照参数（包括省电压、曝光盘）、几何参数、扫描仪参数.d）检测标识。c）图像质量要求：灰度范围、图像分辨率、图像灵敏度归一化信噪比.0验收标准。g）工艺验证图像编号.4.4.4 工艺险证4.4.4.1 首次使用的操作指导书应进行工艺验证，以验证图像质量是否熊达到标准规定的要求.4.4.4.2 工艺验证可采用对比试件通过专门的透照试验进行,或以产品的第一批图像作为脸证依拉;.在这两种情况下，作为依据的验证图像均应做出标识.4.4.4.3 应保证射线源的摆放与实际检测保持一致.4.4.4.4 应拱放线型和双线里像质计，线型像质计的放置应与实际检测一致.4.4.4.5 双镂

27、型像质计应放于被检工件靠近焊缝的母材上，长度方向与探测器行或列的夹角为2。5。，且b值校大的部位：当焊缝的材料类型不同时,应放置于衰减系数最大的材料的被检工件表面.放置方位见图1示例（正片）,成像中心区域上下和左右四个方位的图像分辨率均应满足要求。采用中心躁光方式时，宜间隔120进行上述工艺验证.a）对接价缝示例b）母材示例BBI工艺同蜘HMt计放置示例图4.4.4.6 对于小径管检测,双线型像质计（长度方向）应沿小径管轴向放置在灯缝两侧的母材上，两个方位的图像分辨率均应满足要求。4.5 安全要求4.5.1 检测环境应满足系统运行对环境（温度、湿度、接地、电磁物射振动等）的要求.4.5.2 辐

28、射防护应符合GB18871.GBZll7的有关规定.4.5.3 现场进行CR检测时，应按GBZ117的规定划定控制区和监督区，议黄警告标志：检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水.检测人员应佩嵌个人剂量计，并携带剂盘报警仪.5ttWT2AX邮5.15.1.1 桧测时机应满足相关法规、标准和设计技术文件的要求，同时还应涌足合同双方商定的其他技术要求。5.1.2 除非另有规定,检测应在焊接完成后进行,对有汽退裂纹慎向的材料,至少应在焊接完成24h后进行检测。5.2 检涌区5.2.1检测区宽度应满足相关法规、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求，检测区包括焊缝金属及相对丁

29、焊缝边缘至少为5m的相邻母材区域，5.2.2对于电渣焊对接焊缝，其检测区宽度应由合同双方商定或通过实际测证热影响区确定。8MRM-双单影或就双的SM1.置于成母横儡府识别线号(ttm)遗照A嫉ABiftB级W19(0.050)1.SW8(0,063)1.21.5,2.5WJ7(0.080)1.21.2V2.02.5W6(0,100)l.2,2.02.0W3.54.0V6.0W15(0.125)1(KI3.53.5WS.06.DeWI2WH(0.160)5.0U1012IF18V13(0.20)5.(KW101OV1518IF30V12(0.25)1(K1S15V223(XF5VlKO.32)1

30、5三2222W3845W55V10(0.40)22W3838W4855W70*9(0.50)38V448W607(KW1(X1*8(0.63)48V6060W85100CwlMl*7(0.80)60W8585V12SIS(KWW300*6(1.(IO)85d25J253005(1.25)125WW2252253753(2.00)3756.3分解率要求6.3.1 不同检测技术等级的图像分辨率应分别符合衣9表11的规定。使用双线型像质计测葩分辨率的方法见附录B.时于双联单影透照方式，透照厚度W应取公称厚度T,对于小径管双雌双影透照方式,透照厚度可取管径。9A皴检涌技术应达到的低分解率(力)选股P?

31、度Wnn战对号分种率“lp0)分矫加E1.0D1310.000.05.o.5D127.M0.0631.5V2Dll6.250.082C&5DlO5.000.105IIOD93.850.131(XM2S083.1250.1625W55072.500.20WlkWl501)62.000.2515Of250Dl1.250.40NB/T47013.14202312允许的小SNRaM、及帚合金、及集合金（Ir射姣倭后透照材WN度*n最小SNRA级AB级呦350M50100100100Se75100120140Irl92100120ItO50100100100注：若布煤缝上测郎NRa,则上中的数值应除以I

32、.1,除非烂缝无余就吐蝌根部与母材齐平.13允许的小SNReIB及铝合金、社及处合金射歧能录44小SNR.A级AB级B级情电IEW150kV120140170150kV4管电iW25OkV!00120MO250kV管电压WCOOkV100120140Sc75100120140在若在焊缝EiMStSNRn,则表中的数值应除以1.4.除非解箍无余胃且焊8根部与母材齐平.77.17.1.1 块陷的识别可采用人工识别或计算机辅助识别方法，7.1.2缺陷人工识别时,图像的显示比例应不低于10改.7.1.3人工识别采用图像处理技术，调节图像的显示效果，以提高人眼时缺陷的识别能力.7.2缺陪的7.2.1 在

33、缺陷测量前，应按实际检测工艺,采集含标样的检测图像,并进行几何尺寸标定.7. 2.2利用标样的实际尺寸对应在图像中的像索个数.得到每个像素对应的实际长度（标定因子）.通过测量得到缺陷的像索个数乘标定因子,得到实际缺陷尺寸，7.2.3当系统及透照参数改变时应更新进行标定。88.1 SBM8.1.1 图像存储格式宜按DlCONDE格式执行。8.1.2 应保存晚始图像.8.1.3 当采用图像处理技术时，处理后的图像应迸行标识，并与原始数字图像起保存，8.1.4 图像编号应与焊f编号相对应，8.1.5单位代码、工件编号、焊缝编号、透照参数、检测人员代码、识别标记等信息应写入图像文件的描述字段中，上述信

34、息应具备不可更改性.8.2EB像保存8.2.1 图像应存储在数字存储介质中并存档8.2.2 图像应笛份不少于2份,相应的原始记录和检测报告也应同期保存.8.2.3 图像的保存期限应按照相关的法规和规范执行。在布效保存期内，图像数据不御丢失和更改。9检潮第累评定和员锻9.1 缺陷的评定Ur采用人工评定或计算机辅助评定方法.9.2 缺陷评定时若对原始图像采用消波等图像处理,应经合同双方协商同意,并有相关文档id录，9. 3承压设备熔化焊焊接接头、承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线计算机辅助成像检测结果评定和质量分级按照NB/T47013.2的规定执行.1010. 1应按现场操作的实际情况

35、详细记录检测过程的有关信息和数据.检测记录除符合NB/T47013.1的规定外,还至少应包括卜列内容：a）委托单位或制造单位.b）被检工件：名称、检测部位、焊缝坡口组式、焊接方法.C）检测设翁涔材：射线源（种类、焦点或源尺、八成像板、扫描仪、金届屏（类型、数量和厚度）、像质计（种类和型号）、背散射屏融铅板、标识、标样等。d）工艺验证结果（需要时）。注：此项针对无法放置像场il%曰对比试件的检测,应说明对比试件的1：艺险证情况并作为检测id的附件.e）检测工艺参数：信测技术等级、透照方式、透照参数、扫描参数，0图像质量：灵极度、分辨率、归一化信噪比、灰度范围.g）缺陷位置、性质和大小.h）其他需

36、要说明或记录的事项.10.2应依据检测记录出具检测报告。检测报告除符合NB/T47013.1的规定外，还至少应包括下列内容:a）委托单位或制造单位。b）被检工件：名称、检测部位、焊缝坡口型式、焊接方法.C）检测设备器材：射或源（种类、焦点或源尺寸）、成像板、金属屏（类型、数量和厚度八像质计（种类和型号）、扫描和观察设备、标样（若有）.d）检测工艺参数：检测技术等级、透照方式、透照参数、扫描参数.e）数字图像侦量：灵敏度、分辨率、归一化信噪比、灰度范困。D检测工艺验证情况（需要时）。注：此项针对无法放置像质计采对比试件的桧测，应说明对比试件的工艺般证情况.g）缺陷位置、性质和等级.附录A（资料性

37、）最小灰度值测试方法A.1.小灰度值窝试IM当检测厚度不均匀的试件时，可以采用小灰度做代杵最小SNR,灰度和SNRX之间的关系适用于特定的设置，包括扫描类型、扫描参数和相同品牌、型号的成像板,任何扫描参数（扫描分辨率、光电倍增管的电压或增益）的改变，均要求重新测试与SNR等价的最小灰度值。A.2小灰度值海试方法A.2.1线性灰变是正检测量SNR和等价灰度的前提，即扫描成像板上给定区域的灰度应宜接与曝光量成正比（无的移）,线性灰度应由制造商配备的软件提供支持.A.2.2最小灰度测试可按附录B中B21的曝光条件或由检测单位根据具体的透照情况确定。A23与表12、表13规定的最小SNR。等价的岐小灰

38、度值测定步骤如下：a）按图A.I透照阶悌试块，阶梯试块应完全覆靛成像板：b）测限每一阶梯的平均灰度和SNRn;c）绘制以平均灰度为变属的SNRl函数佃线：d）确定表12、表13规定的最小SNRCI对应的等价最小灰衣值.标引序号说明；IXm管：2-铜沙板：3一液直器：，1-铜阶梯试如5暗盒中的成像板.图A测定与最小SNK等价的最小灰度值的透照示意图A.2.4除上述方法外，也可采用时成像板以不同曝光量逐次曝光的方法，曝光条件与A.2.2的条件保持一致。附录B分斛率（力）的焉定B.1双线中像质计影像应与图像行或列的夹用为25,成像结果见图B.la）。B28.2.1 系统分辨率的测试可使用卜列相应的曝

39、光条件：将双线型像成计宜接放置住成像板上，射线源到成像板的距离应为100omm50mm.a）使用X射畿源时，不同材料的曝光参数：1）对于轻合金材料：管电压90kV.lmm铝建波板.2）对于铜、铜、保及其合金材料：印度W20mm时,管电压160kV,Imm铜源波板.3）对于钢、银、镶及其合金材料：厚度20mm时，管电压220kV,2mm铜港波板.b）使用丫射跳源时，采用不同灌波板：1） 对FSc752mm铜或Imm姻泄波板.2）对TkI92:4inm铜或8mm钢/波板。8.2.2 图像的平均灰度应大于最大灰度的50a）对于扫描分辨力，80Um的成像系统,测量信噪比SNRm100:b）对于扫描分辨

40、力70t8.2.3 最低系统分辨率要求见表9表11.应按照实际检测技术等级和透照厚度,判定系统分辨率是否符合要求.8.2.4 当成像系统用于检测小径管时，表9表11对应的透照厚度应取2倍管了壁原.B3s分m试条件应将双线型像质计放在射线源侧被检工件表面，且在工艺验证图像分辨率最差的方位.透照条件应与实际检测条件一致,最低图像分辨率要求见表9表11.B.4分，率（力）的换尊分辨率与分辨力在数值上互为2倍的倒数，BS1在双线空像侦计影像上，应使用不少于21行或列在加平均（见图B.I）,根据式（B.I）计算线对的可识别率R,见图B.1中b）、c）、d）.图像中R20%的第一组线对，即为表9一表Il要

41、求的此低分辨率，如图B.I0中所示的D8。R=lOO%0MOIn2202MWMOWO4201IM212402R0VOUO400Xb）双线型像质计轮渊图（不少于21行或列免加平均结果）d）可识别率计或图例SB.I分婶率（力）弱定示意图NB1T47013.14-2023附录C(规范性)归一化信城比的测定C.1信噪比测埴是指在图像有效评定区内，选定不小于20像素X55像索的矩形区(短边不超过20像素)测况信噪比，通过式(Cl)计算得到：(Cl)ZT式中：SNRm一一测盘信噪比：Gp一一测量:区域所有像我线性灰度的平均假：。一一测量区域所有像素线性灰度的标准差。C2归一化信噪比SNR.通过式(C2)计比得到：SN人SN1.x黑(C.2)式中：SR.分辨力值，单位为微米(Um)。C.3归一化信噪比测用所需要的分辨力值按附录B测定。C.4如果扫描参数(如扫描分辨率、成像板等)改变，则应重新泅埴分辨力。考文1GB26592无损检测仪器工业X射线探伤机性能测试方法2GB26594无损检测仪器工业用X射线管性能测试方法