spc品质可靠性测试标准.docx
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1、品质牢靠性调试标准文件编号:ZQ-OIl001版本/状态:A/01制定:SPC办事处审H:枇发行日期;会审铸n签字会-一n卷字spc工程修sc总S1H的22执行原则33适用范用34主要职责35牢靠性测试程序35.1 环境测试35.2 静电测试35.3 结构耐久测试3O.J芋WItii-1(af(ttt(at(a(t(a35.5 元器件牢靠性测试35.6 平安器件测试31目的1.1在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲惫度,评估产品的质量和牢靠性;1.2规范牢靠性试脸作业方法。1.3作为spc品质对SPC产品放行的指导标准2执行原则Spc产品牢靠性试验程序及推断标准,严格遵守此程序。3适
2、用范围适用干品质对印C产品的出货标准.5牢靠性测试程序5.1环境测试样机标准数量:16台试验周期:10天测试目的:通过连续的施加各种测试条件,加速产品的失效,提前暴蹄潜在问题。试哙流程:见下图,其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时.B环境费试产品平均失效寿命窝试坦合Ai产品平均失效寿命测试组合:样机数量:16台5.1.1功能外观检查测试目的:测试预检查测试方法:OQC功能外观检验标准进行检查测忒标准:符合成品检验指导书中全部的指标。5.1.2射频测量测试目的:测试预检查测试方法:运用8960/CMU200测试仪,参照6射频测试记录表中项目列表,对全部样品进行参数指标预料试并保存测试
3、结果测试标准:射频指标记录表中全部参数指标正常。5.1.3跌落试验测试条件:6cm厚水泥地板,2.4寸及以下1.CD跌落高度为1.2m寸1.CD为1m:3.0-3.4寸1.CD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上1.CD践0.5m。测试目的:跌落冲击试验样机数属:16台试脸方法:将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落试脸,每个面的跌落次数为I次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面):对于滑蛊手机,应将一半样品滑开到上限位置,跌正面和背面(即跌8个面)跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。检验标准:手机外观,结构和功能符合要
4、求。每跌完个面进行拔号,应无掉网、美机等不良现象:拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按健功能,显示功能,触摸屏功能及灵极度,拍照功能,SPK听筒声音应无异样。间隙张开,其它部件松脱后不借用其它工具用手可以兔原的可接受,受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、他裂,掉电及掉SDl卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项,以手感拆装为准。5.1.4温度冲击测试测谎环境:低混箱:-40C:高温箱:+80C样机数量:16台测试目的:通过凹凸温冲击进行样品应力筛选试验方法:运用凹凸温冲击箱,手机带电池,设置成关机状态先放置于高温箱内持续30分钟后,在.15秒内
5、快速移入低温箱并持续30分钟后,再15杪内快速【可到高温箱为个循环,共循环24次。试脸结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出,复原2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。试验标准:手机电性能指标满意要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氧化,麻点,脱层,缝隙断差变大(断差和间隙在OJmm以下可接受),装饰片及镜片起也不匀称。IM1.材料高温存储温度为60*C作为允收标准。5.1.5高温高湿参数测试测试环境:60,C,93%RH测试目的:高温高湿应用性能测试试验方法:将手机电池充溢电,手机处于开机状态,放入温度
6、试验箱内的架子上。持续48H,在此环境下进行电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻蛊,一半样品打开翻盖:时J滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置.检验标准:手机电性能参数指标满意要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象:拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和1.CD内部、TOUChIQnS内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形.B.环境测试样机数量:10台5.1.6低温参数测试测试环境:-20C测试目的:高温/低温应用性能测试试脸方法:将手机电池充溢电,手机处于开机状态,放入温
7、度试验箱内的架子上,调整温度限制器到-20C持续4个小时,在此环境下进行电性能参数和功能检杳.对于翻盖手机,应将一半样品合上潮盖,一半样品打开翻盖:对丁滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。检验标准:手机电性能参数指标满意要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象:拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音变小,功能正常,外壳无变形。5.1.7高温/低温存储测试环境:-40C/+80,C测试目的:高温/低温应用性功能测试试脸方法:将手机处于关机状态,放入温度试验箱内的架子上。持续48个小时之后,身
8、原至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖:对于滑蛊手机,应将一半样品滑开到上限位置。检验标准:手机电性能指标满意要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氟化,麻点,脱层,缝隙断差变大(间隙断差OIm可接受),装饰片及镜片无起题不匀称。IM1.材料高温存储温度为60C作为允收标准。5.1.8湿热循环测试测试环境:+40,C,93RH:-10,C测试目的:高湿低温循环应用性能测试试验方法:温度限制器设到+KC,93%RH持续1个小时之后,以1小时的速率改变到-I(TC持续1小时后,以1小时的速度改变到+40C,93%RH.循环13次.在
9、此环境下进行电性能参数和功能检查.对丁翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻前:对于滑盖手机,应将半样品滑开到上限位宜。检验标准:手机电性能参数指标满意要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象:拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵锹度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和1.CD内部、ToUCh1.enS内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形。5.1.9灰尘测忒测试环境:室温测试目的:测试样机结构密闭性样机数量:2台试骐方法:将手机关机后放入灰尘试验箱内。其体枳综合不得超过忒验箱的有效空间的1/3,底面积不超过有效
10、水平面枳的1/2,试验样品与试脸箱内壁距高应不小于100mI。试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘匀称缓慢降在试脸样品上,风速最大不超过2ms。持续8个小时之后,将手机从试验箱中取出,用布和离子风枪清洁后进行检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖:对于滑盖手机,应将一半样品滑开到限位置。试脸标准:手机各项功能正常,全部活动元器件运转自如,每个按键按10次不能有INT,声音正常,显示区域没有明显灰尘(距离22.5cm,点WO.1511un,数量W3个的灰尘数可接。5.1.10盐雾测试测试环境:35C5%NaC1.测试目的:测试样机抗盐雾腐蚀实力样机数量:2台试的方法:用氯化钠
11、含量为51%的盐溶液,PH值为6.5、7.2。允许用稀择后的化学纯盐酸或城氧化钠调整PH值.试脸有效空间温度为35C;连续喷雾的试验时间为24H;持续期满后在箱内究原到正常大气条件,稳定后保持2H,检查。检验标准:外壳表面及装饰件无明显腐蚀,(脱层,氧化5、可接受,麻点22.5cm,点W0.15mm,数量W3个可接受)等异样现象。5.1.11淋雨测试(无仪器短哲可不作要求)测试环境:室温(2025C):样机数量:2台测试Fl的:整机抗雨淋实力试脸方法:手机关机状态下,正面朝上平放在转动平台上,以1分/转的速度通过25mm喷雨矩阵,持续10分钟。检脸标准:用干抹布将雨水擦拭干净后开机,检查手机全
12、部功能应正常。7.2等电测试电测试测试条件:+/-6kV;+/-IOkV测试Fl的:测试样机抗静电干扰性能样机数比:8台试验方法:将样机设置为开机状态,检查样机内存和功能(内存10条短信息和10个电话号码:运用功能正常)。将样机放于静电测试台的绝缘垫上,分两种状态:加充电器和不加充电器(样机与绝缘垫边缘距掰至少2英寸)。打开静电模拟器,调整放电方式,分别选择+/-6kV(接触放电),+/TOkY(空气放电),对手机指定部位连续放电10次,并对地放电。每做完个部位的测试,检查手机功能,并视察手机在测试过程中有无死机,通信徒路中断,1.CD显示异样,自动关机及其他异样现象。样机需在与8960/CM
13、U200测试仪起或10086建立呼叫连接的状态与及其它信号联接(电视,收音),MP3播放状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试.检验标准:不作任何操作可自己宏原的软故障为可接受,不行匆原故障与及用户极简单查觉到的现象不行接受,详见牢辨性测试操作细则第备注:静电择放位置.的确定要依据中试及PQE发布的测试点。5.3结构耐久测试样机标准数量:36试验周期:3天测试目的:通过连续的施加各种测试条件,加速产品的失效,提前暴露潜在问题.试验流程:结构耐久潴试钢球冲击螺母拉力翔藤测试8万次5. 3.1定向跌落试验测试条件:6cm厚水泥地板,2.4寸及以下1.CD跌落高度为1.2n寸1.CD为1m:3.0
14、-3.4寸1.CD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上屏跌0.5m.测试目的:帙落冲击试验样机数地:16台试脸方法:将手机处丁开机状态进行跌落“进行6个面的自由跌落试缝,每个面的跌落次数为2次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,其中-半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面):对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位附,跌正面和背面(即跌8个面八跌落结束后对外观、结构和功能进行检杳。检监标准:手机外观,结构和功能符合要求.每跌完一个面进行拨号,应无掠网、关机等不良现象:拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK,听
15、筒声音应无异样。间隙张开,其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受,受力点有水泥沙大小的凹陷和掉涂必与及划伤可接受。但涂U不允许有片状脱落、龟裂掉电及擦SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合项,以手感拆装为准。拆机无螺母松脱,元器件移位。5. 3.2滑盖测试测试环境:室温(2025C):测试目的:滑盖寿命测试测试数量:4台手机。测忒方法:将手机设置成开机状态,固定在测忒夹具上以10次/分钟速率滑盖,进行8万次滑盖测试。进行到每5000次时,进行检杳手机滑盖手感及功能一次。试验标准:手机外观,结构,及功能正常.滑盖过程无关机,显示,拍照,MlC功能不良,滑干涉晃动异响,滑机弹性弱,弹簧断
16、,拆机FPC无磨痕,FPCRl值小于0.8欧母,滑盖不能有松动。6. 3.3翻盖测试测武环境:室温(2025C);测试目的:翻盖寿命测试测试数量:4台手机。测试方.法:以30+/70次/分钟的速度翻动翻盖,来回为1次,要求翻蛊达到最大转动位置。5万次后,每5000次检查1次无功能外观不乩.要求睡盖最少测试8万次。需醐开后等显示正常,关闭后等屏熄灭才起先下次.试验标准:手机外观,结构,及功能正常。翻盖过程无关机,显示,拍照,MIC功能不良,翻盖四周无掉漆,无晃动,按键无刮伤;耳边压上盖,无异响,觎盖干涉晃动异响,翻盖弹性弱,拆机FPC无磨痕,FPC阻值小于0.8欧母。5.3.4重纪跌落测试测试环
17、境:室温(20-25,0;7cm高度,1OmPVC板或铅板。测试目的:样机跌落疲惫测试测试数fit:4台。测试方法:手机处于开机状态,做手机正面及背面的重灾趺落试验,每个面的跌落次数为10,(MK)次。进行到每500次时,对手机进行外观、机械和电性能检查。检验标准:手机各项功能正常,无掉电、不识T卡/SIM卡、外壳无变形、裂开、掉漆,显示屏无裂开,晃动无异响.壳体划花可接受.单面测试100OO次间允许有3次掉电。5.3.5扭曲测忒测试环境:室温(2025C):样机数比:4台测试目的:验证结构对电子器件,如PCBA/1.CD/电池等的爱护;模拟用户的些日常生活遇到的挤压等稍微变形问题.试验方法:
18、将手机处于开机状态,固定在扭曲试脸机上,用INm力矩反豆扭曲手机100oO次。对于滑盖/翻盖手机,将样品滑开到下限位置及合上盖。检验标准:手机没有关机,不识SIM卡,变形,外观,装配,各项功能正常。PCBA无裂锡,不掉电,电池功能无异样。5.3.6软压测试测试环境:空温(2025C):测试目的:抗挤压测试样机数量:2台试脸方法:将手机处于开机状态,锁上键盘。分别将正面(反面)垂直压头放置在软压试验机上,用25Kg力以25次/分钟反史挤压手机,手机正/反面各压2500次。对于滑盖/翻盖手机,应将样品滑上盖或合上盖。检验标准:手机没有变形,关机,不识SIM卡,外观无异样,各项功能正常。5.3.7钢
19、球冲击测试测试环境:室温(2025C):弹簧锤测试目的:镜盖而强度测试样机数量:2台试脸方法:以0.2J弹簧锤冲击镜面不同位以5个点。(翻盖手机内屏钢球冲击只作参考)检验标准:手机镀盖无变形,无裂缝,无破损(允许有白点),1.CD功能正常“5.3.8螺母拉力测试测试环境:室温(2025,C)s测试目的:螺母结构强度测试样机数量:2台试购方法:将带有挂绳的螺竺锁入螺母,然后绶慢拉至6kgf。检验标准:螺母无松脱。5.3.9螺母扭力测试测试环境:室温(2025,C):测试目的:螺母结构强度测试样机数量:2台试收方法:将螺丝锁入螺母,扭力测试仪,以扭力1.Okgf不行转动螺母检5佥标准:螺母无松脱。
20、5.4表面装饰涂层测试样机标准数量:12PCS试脸周期:4小时测试目的:通过连续的施加各种测试条件,加速产品的失效,提前暴露潜在问题。试验流程:表面装饰涂层测试5.4. 1纸带耐磨测试测试环境:室温(2025,C)s测试目的:抗摩擦测试测试数砥:4PCS试脸方法:将最终喷涂样品固定在RCA试验机上,用175g力对同点进行摩擦试验。每隔50次检查样品的表面喷涂。对于表面摩擦对UV漆亚光/UY漆高光/PU高光(金属烤漆)AMandNCVM(真空电镀)/水镀表面300圈:PU亚漆表面200圈:橡胶漆50IS1.特别形态的手机摩擦点的确定由PQE工程师和测试工程师共同确定.(丝印60圈,金属滑轨涂层1
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- spc 品质 可靠性 测试 标准
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