TOPCon设备专题报告:规模量产PECVD成为主流工艺.docx
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1、一、行业转型,PERC电池到TOPCcm电池,道易且近TOPCon电池技术,是2014年由德国Fraunhofer太阳能研究所提出的一种新型钝化接触太阳能电池。德国FraUnhOfer研究中心在电池背面利用化学方法制备一层超薄氧化硅(15nm),然后再沉积一层掺杂多晶硅,二者共同形成了钝化接触结构,这种技术被称为隧穿氧化层钝化接触(TC)PCon)技术.从电池结构正面看,PERC电池从外及里,依次为SiNx膜、N型发射极(n+)、P型硅片基底;对比,TOPCon电池由外到里,依次为SiNx膜、AI2O3膜、P型发射极(p+)、N型硅片基底。区别在于新增AI2O3膜,以及改成P+发射极、N型硅片
2、基底。从电池结构背面看,PERC电池由外及里,依次为SiNx膜、AI2O3膜;对比,ToPCon电池由外至里,依次为SiNx膜、N型多晶硅薄膜、S22膜。区别在于,去除AI2O3膜、新增N型多晶硅薄膜、Si02膜。各膜层的作用:1.正面SiNx薄膜(约75nm):由于SiNX富含氢原子,可以在热处理过程中对表面和体内的缺陷进行化学钝化,从而降低表面电子的复合。同时由于SiNX的光学特性,还可以实现电池正面和背面减反效果:2.背面SiNx薄膜:为了避免后续金属化烧结过程浆料对膜层的破坏,SiNX依靠其化学稳定性,主要用于背部膜层的保护;同时实现减反效果:3.AI2O3(45nm)由于具备较高的负
3、电荷密度,可以对P型半导体如PERC电池背面和TOPCon电池的正面提供良好的场效应钝化,即在近表面处增加一层具有高度稳定电荷的介质膜在表面附近造一个梯度电场,减少表面电子浓度从而降低表面电子空穴的复合速率。4.超薄隧穿层SiO2(PELPALD20040060080010Temperatrue:尸行场廊影瞬SiO2膜层制备更看重膜层质量,工艺精度要求高。掺杂多晶硅膜厚更高(IoO-20Onm),在电池中起到弯曲能带作用;而SiO2层膜层厚度约2nm,且要起到隧穿作用,阻隔空穴、通过电子。因此,掺杂多晶硅层制备对工艺精度要求不高,更看重工艺精简、工艺产能大、维护成本低。而SiO2的致密性直接影
4、响隧穿效果,影响电池效率,因此更看重Si02膜层质量。当SiO2膜层致密性较差时,即膜层孔隙较大,阻挡空穴通过的能力低,隧穿效果大大降低。LPCVD/PECVD/ALD路线制备的Si02膜层质量对比:从膜层致密度角度看,PECVDLPCVDALD;根据SuMinHwang的实验结果,相同实验条件下,PECVD制备的Si02膜层密度为2.2g/cm3,LPCVD制备的Si02膜层密度为2.15gCm3,不及PEcVDoALD制备的Si02膜层密度与温度影响大,在600C时,制备的SiO2膜层密度为2.15gcm3,与IPCVD相当。与之相对应,从酸刻蚀速度看,LPCVDPECVD热氧化法。从膜层
5、均匀性角度看,ALDPECVDLPCVD;从膜层均匀性角度看,AID法属原子沉积法,膜层由原子沉积一层一层生长的,因此ALD制备的3iO2膜层均匀性最好,膜层粗糙度仅0.12018nm。而LPCVD/PECVD制备的Si02膜层粗糙度分别为1.36nm、1.38nm.(三)总结:TOPCon的工艺路线,PECVD有望成为主流综上,TOPCon电池各膜层制备方法:对于正面AI2O3膜层,主要的制备方法为PECVD.ALD.实际生产中,ALD制备AI2O3,膜层致密性、均匀性最好,为最佳制备方法,代表企业是江苏微导、理想、松煜。正反面SiNx膜的制备方法,工艺成熟,实际生产中主要是用PECVD法,
6、代表企业捷佳伟创、北方华创、红太阳等。对于TOPCon背面,SQ2膜层,LPCVD、PECVD.ALD均可实现。而掺杂多晶硅层的制备方法,PECVD可以容易实现原位掺杂,绕镀、爆膜等问题有有效解决途径,并且维护成本低.而LPCVD法虽然工业应用成熟,但清洗绕镀可能导致电池损伤、非原位掺杂工艺流程不符合精益生产要求,石英管炸裂等导致维护成本较高。图33:TOPCon电池结构中,各类腋二点睨备方法位置膜层LPCVDPECVDPVDALDPEALD,正面AI2O3Best正/背面SiNxBest背面SiO2背面PolySi;二/小7%应仇(J0P8n生-YLPCVD是排该计(正好R2021L,*和是
7、寺以演反相对应,TOPCon主要工艺路线有4条,以多晶硅制备方法,分为LPCVDPECVDPVDLPCVD路线中,主要采取非原位掺杂的方法.其中磷掺杂方式,包括磷扩、离子注入;PECVD路线中,SiO2、掺杂多晶硅层均由PECVD设备完成;在PVD路线中,Si02层由PECVD完成搀杂多晶硅层由PVD完成。LPcVD+离子注入路线、PECVD.PVD路线均需采用退火,完成晶化处理。除了主流的三大工艺路线外,江苏微导提出PEALD设备用于制备隧穿层SQ2和掺杂多晶硅层。公司开发的PEALD二合一平台,集成了PEALD和PECVD两种工艺,分别用于制备隧穿层Si02和多晶硅层,能够弥补LPCVD技
8、术存在的不足。LPCVD/PECVD/PVD各路线对比:LPCVD工艺最成熟,应用最快,且膜层质量较高。但它不足之处体现在:1)原位掺杂难,需分两步走,即先沉积本征多晶硅层,再进行磷扩或离子注入法进行掺杂;2)绕镀严重,LPCVD绕镀是在电池正面、侧面全部镀上Si02膜跟掺杂多晶硅膜,有效产能减半、且清洗可能导致电池损坏;3)石英管维护问题,LPCVD内石英管上全部沉积上所镀的膜层,需要定期停机替换、清洗,带来石英管替换成本、以及机床维护费用;PECVD工艺成熟度仅次于LPCVD路线,其优点明显:1)可以加入磷烷PH3,进行原位掺杂;2)轻微绕镀,清洗容易。PECVD绕镀出现在电池侧面及正面边
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