ICP培训课件.ppt
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1、ICP发射光谱分析,目 录,ICP发射光谱分析原理 ICP发射光谱仪的构成 ICP发射光谱分析方法 样品的前处理,ICP发射光谱分析原 理,ICP-AES(OES)ICP Atomic Emission Spectrometry(Optical Emission Spectrometry)ICP发射光谱分析法元素分析溶液进样,ICP-AES可测定的元素,ICP:Inductively Coupled Plasma电感耦合等离子体,等离子体“高温下电离气体(Ionizedgas)”“离子状态”“阳离子和电子数几乎相等”等离子体的最高温度10000K元素被激发(发光源)ICP发射光谱分析,电感耦合
2、等离子体光源(ICP),等离子体(Plasma)一般指电离度超过0.1%被电离了的气体,这种气体不仅含有中性原子和分子,而且含有大量的电子和离子,且电子和正离子的浓度处于平衡状态,从整体来看是出于中性的。,等离子体光源的分区,NAZ-分析区IRZ-初始辐射区PHZ-预热区尾焰,9,离子发射光谱的产生,在等离子体中元素原子化、离子化在等离子体中元素发射特征波长的光,ICP发射光谱分析的基本原理,ICP发射光谱分析过程主要分为三步,即激发、分光和检测.利用等离子体激发光源(ICP)使试样蒸发汽化,离解或分解为原子状态,原子可能进一步电离成离子状态,原子及离子在光源中激发发光。利用光谱仪器将光源发射
3、的光分解为按波长排列的光谱。利用光电器件检测光谱,按测定得到的光谱波长对试样进行定性分析,按发射光强度进行定量分析,I=Nmh=KNmN0e-Em/kT(1)在一定的实验条件下:I=aC(2)a为常数,C为目的元素的浓度 考虑某些情况下有一定程度的谱线自吸,对(2)加以修正 I=aCb(3)b为自吸系数,一般情况下b1。在ICP光源中多数情况下b1。,谱线强度与浓度的关系,ICP-AES的特长,溶液进样、标准溶液易制备高灵敏度(亚ppb)高精度(CV 1%)化学干扰少线性范围宽(个数量级)可同时进行多元素的定性定量分析,可以分析的样品1:金属(钢铁,有色金属)2:化学,药品,石油,树脂,陶瓷3
4、:生物,医药,食品4:环境(自来水,环境水,土壤,大气粉尘)5:可以分析其他各种各样样品中的金属备注:固体样品必须进行前处理(液化),ICP发射光谱仪的构成,ICP-AES光谱仪结构,溶液-雾化 发光 元素 光-电信号 结果,等离子火炬与频率关系,R.F高频发生器,27.12MHz,40.68MHz高频发生器 输出功率稳定性好、点火容易、发热量小、火焰稳定、有效转换功率高、能对不同样品及不同浓度变化时抗干扰能力强。,ICP-AES 样品导入部,将样品溶液雾化连续导入ICP中,高频线圈,等离子炬管,样品溶液,雾室,雾化器,冷却气(Ar),等离子(辅助)气(Ar),ICP光源的气流,冷却气起冷却作
5、用,保护石英炬管免被高温融化辅助气“点燃”等离子体雾化气形成样品气溶胶 将样品气溶胶引入ICP 对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用,Fassel炬管,等离子炬管,等离子炬管分为输入载气Ar的内层管、输入辅助气Ar的中层管和输入等离子气Ar的外层管。,外层管:外层管通Ar气作为冷却气,沿切线方向引入,并螺旋上升,其作用:第一,将等离子体吹离外层石英管的内壁,可保护石英管不被烧毁;第二,是利用离心作用,在炬管中心产生低气压通道,以利于进样;第三,这部分Ar气流同时也参与放电过程中层管:中层管通人辅助气体Ar气,用于点燃等离子体。内层管:内层石英管内径为12mm左右,以Ar为载气,把经过雾化器的试样
6、溶液以气溶胶形式引入等离子体中。,冷却气(等离子气)(9L/min-20L/min)等离子气(辅助气)(0.2L/min-1.5L/min)载气(注入气)(0.2L/min-1.5L/min),气动雾化器(同心型),气动雾化器,气动雾化器的结构简单,通常分为同轴型雾化器和直角型雾化器。同轴型雾化器结构简单,易于制作,应用较为普遍。直角型雾化器不易被悬浮物质堵塞。但雾化效率较低,喷嘴容易堵塞,进样速度受载气压力的影响。改用蠕动泵驱动雾化器,可避免载气压力对样品提升量的影响。,旋流雾室,双筒雾室,等离子炬观测位置,ICP-AES分光器,选择分辨出目的元素的特征谱线,检测器-光电倍增管,光电倍增管工
7、作原理,阴极,计算机功能,程序控制:仪器各部件的起动、关闭时实控制:时间监控、远程诊断、信息转移数据处理谱线数据库专家系统,ICP发射光谱分析方法,定性分析定量分析半定量分析,需进行使样品溶液化的前处理,ICP发射光谱分析方法,定性分析,定性分析要确认试样中存在某个元素,需要在试样光谱中找出三条或三条以上该元素的灵敏线,并且谱线之间的强度关系是合理的;只要某元素的最灵敏线不存在,就可以肯定试样中无该元素。,定量分析,工作曲线法标准样品的组成与实际样品一致在工作曲线的直线范围内测定使用无干扰的分析线,定量分析,标准加入法测定范围的工作曲线的直线性溶液中干扰物质浓度必须恒定应有1-3个添加样品使用
8、无干扰的分析线进行背景校正,定量分析,内标法在试样和标准样品中加入同样浓度的某一元素(内标元素),利用分析元素和内标元素的谱线强度比与待测元素浓度绘制工作曲线,并进行样品分析。,半定量分析,半定量分析有些样品不要求给出十分准确的分析数据,允许有较大偏差,但需要尽快给出分析数据,这类样品可采用半定量分析法。ICP光源的半定量分析尚无通用方法,因仪器类型和软件功能而异,应用不广泛。,灵敏度、检出限、背景等效浓度,灵敏度:S=dX/dc 单位浓度变化所引起的响应量的变化,它相当于工作曲线的斜率 检出限:ICP光谱分析中,能可靠地检出样品中某元素的最小量或最低浓度.背景等效浓度(BEC):与背景信号相
9、当的浓度。,ICP发射光谱分析中的干扰,物理干扰化学干扰电离干扰光谱干扰,干扰的校正,基体匹配 可消除物理、电离干扰。注意不纯物的混入。内标校正 可消除物理干扰。注意内标元素的选择(电离电位)。背景校正,扣除光谱背景,谱线干扰的校正,选择无干扰的谱线 干扰系数法校正谱线干扰 稀释样品,样品的前处理,待测元素完全进入溶液溶解过程待测元素不损失不引入或尽可能少引入影响测定的成分试样溶剂具有较高的纯度,易于获得操作简便快速,节省经费等,溶解样品的基本要求,45,稀释法用纯水、稀酸、有机溶剂直接稀释样品。只适用于均匀样品例)排放水、电镀液、润滑油等干式灰化分解法在马弗炉中加热样品,使之灰化。可同时处理
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