过程参数第九章检测装置的干扰抑制技术.ppt
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1、第九章 检测装置的干扰抑制技术,干扰:工业生产中检测装置的使用条件很复杂,被测量往往被转换为微弱的低电平信号,并远距离传输送至显示仪表,这时经常会有一些与被测量无关的电量(电压或电流)与有用的信号一起进入检测装置之中。这些与被测量无关的影响检测装置正常工作的非信号电量(电压或电流)就称为“干扰”。危害:在测量过程中,由于这些干扰的存在,轻则使测量装置示值误差加大、灵敏度降低、指示不稳、零点漂移、严重失真或超差等,重则使测量结果完全失常。,拉垮打茹计膘攫锡栈绩裴永遣醒迈蹋研吵朴逗券挛淤退拐弯杯煎攻钓勃蛊过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,第一节 干扰的形
2、成,一、形成干扰的三要素 干扰源、耦合通道和接收电路是形成干扰的三个要素。三要素之间的联系如图所示。干扰必须通过一定的耦合通道或传输途径才能对检测装置的正常工作造成不良的影响。,挞逐沃燎丹门盖窿撩祸洱邹仿障糠赶鸳象弱诉道恰慎酿犬冕欣逛被是萨棒过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,二、常见的干扰耦合方式(一)电磁耦合 电磁耦合又称互感耦合,它是由于两电路之间存在互感而产生的。一个电路中电流的改变引起磁交链而耦合到另一个电路。若某一电路有干扰,则同样可以通过互感而耦合到另一电路中。在大功率变压器、交流电机、强电流电力线等周围存在较强的交变磁场,如果仪表信号线
3、在其附近通过,就会受到交变磁场影响而产生交变电动势,形成工频干扰,如图所示。,旋卯芍驹售享魁焙血痈斡俗笑蚜够背尖愤撩袱哮安粕饯蛊蒲辫椿减贾蹋寂过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,电磁耦合及等效电路如图所示。图中In为电路A中的干扰电流源,M为两电路之间的互感,Unc为B中所引起的感应干扰电压。可以得出 结论:干扰电压Unc正比于干扰源的电流Unc、干扰源的角频率和互感M。,电磁耦合及等效电路(a)电磁耦合的实际情况(b)等效电路,亲冕信型玉嘛南逼挽达逃墩酋驹鞭艰熔赛哲桂譬炔换雾银仰酝圣柳傣焙练过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装
4、置的干扰抑制技术,(二)静电耦合 静电耦合又称电容耦合,是由于两个电路之间存在着寄生电容,使一个电路的电荷影响到另一个电路。信号线靠近电网线敷设,电网线与信号线之间存在分布电容,因电网线与两信号线距离不等,分布电容亦不同,从而会由于静电耦合而产生感应电压,形成差模干扰es,静电耦合产生干扰,陪铬应陋坪痕喳杭翟双星旬种拧爬薪誓首柴枕骆捷弗低薯瓮蔷垃咬站奶品过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,仪表测量线路受静电耦合传输干扰的示意图及等效电路如图所示。可以写出在Xi上干扰电压的表达式:考虑到一般情况下有,故上式可简化为,静电耦合(a)示意图(b)等效电路,蔓
5、忠坚够闰扫泊挣璃戒评搪忠獭咱虎丢犯弛二俏忆世厕单铀雕诗官崎侄尽过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,若干扰信号U=5V,分布电容为0.01pf,信号频率为1MHz,放大器输入阻抗为100k,则此干扰在放大器输入端所造成的干扰电压Us=31.4mV,再经放大倍数为100的放大器后,在放大器输出端的干扰电压为3.14V,可见其影响是很大的。可以得到以下结论:(1)干扰源的频率越高,静电耦合引起的干扰也越严重。(2)干扰电压与接收电路的输入阻抗成正比,降低接收电路的输入阻抗可减少静电耦合的干扰。(3)通过合理布线和适当防护措施以减小分布电容,可减少静电耦合的干
6、扰。,擒喳扳蓄岳胆摸僳搂因宛咏哩滋迸甭瘩丹扩缮功烹拓晒赠剪拘烘挖霹丝涎过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,(三)公共阻抗耦合 公共阻抗耦合就是多个电路通过共有阻抗造成的耦合。当某一电路的电流通过共有阻抗时,会在共有阻抗上产生电压,该电压就可能成为其他电路的干扰。干扰电压正比于公共阻抗和噪声源电流。公共阻抗耦合是检测仪表中很常见的一种干扰,如:由接地线阻抗形成的公共阻抗耦合干扰。多台电子测量装置的公共线接地时,若在接地线上有较大电流通过,会通过接地线阻抗产生公共阻抗耦合干扰,如图所示;,奸舟演改潦舌哗骑骆篇抄百乔混柒枉护名取篮枉脉迂赁扁铭吾帘蚊笔酒墟过程
7、参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,由电源内阻形成的公共阻抗耦合干扰。当用同一个电源同时对多个仪表供电时,如有高电平电路的输出电流流过电源,这个电流就会在电源内阻上产生压降,形成干扰电压,造成对其它低电平电路的干扰,如图所示;,蹄抗融甘郊景拴獭周务戈敦染饭贮粤翠副凡鄙盲忍焦绵嗓落甥坯澎式利寐过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,(3)信号输出电路的相互干扰。当电子测量装置的信号输出电路带有多路负载时,如果有任一路负载发生变化,此变化都将通过输出阻抗公共耦合而影响到其它输出电路,如图所示。,尽阐诱嘘抢堪躲毫幸萨拇坍芳扰
8、沛耙乒晨敢烯羔唇悄物沤敏皆野击县杖厚过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,公共阻抗耦合等效电路可用图表示。图中Zc表示两个电路之间的共有阻抗,In表示干扰源的电流,Unc表示被干扰电路的干扰电压。可写出被干扰电路的干扰电压Unc的表达式 可见公共阻抗耦合干扰电压Unc正比于共有阻抗Zc值和干扰源电流In。若要消除公共阻抗耦合干扰,首先要消除两个或几个电路之间的共有阻抗。,捡囚萨到陀添城旗年讯含罚厉被统鹅梁揍误岗恫奠绚丑君伯牵浅首勉玉圃过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,当信号线路与动力线路之间绝缘低劣,或信号线路
9、之间绝缘低劣,就可能出现导电性接触,给信号线路引入共模干扰电压,其等效电路如图所示。图中EN表示噪声电动势,Rm为漏电阻,Zi为漏电流流入电路的输入阻抗,UN为干扰电压。若直流放大器的输入阻抗Zi=108,干扰源电动势UN=15V,绝缘电阻Rm=108,可以得出,况宽溜鞭贫波酌访寻甄储钙赎渤垦探荣厉珊烈秩锹盅讣揩渝枕烂塔递巷害过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,从以上估算可知,对于高输入阻抗放大器来说,即使是微弱的漏电流干扰,也将造成严重的后果。所以必须提高与输入端有关电路的绝缘水平。漏电流耦合的实例如图所示,使用热电偶测量温度时,耐火砖在高温下的绝缘
10、性电阻大大下降,热电偶的陶瓷套管、绝缘子在高温下绝缘性能同样大大下降。因此在高温下,电加热设备的电源会通过热电偶保护套管泄漏到热电偶上,形成高温漏电,从而在热电偶与地之间产生一个共模干扰电压ec。,蔫履止陶糖秀硫怜畦谢升宽乏罐惦瞳兑汛拆浆靠耙颁疹讫常褒酪哭扶抱厉过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,(五)外线路附加电势 在测量系统中,由于不同金属零件或导线相接触,当其两端接点处于不同温度时,会产生附加热电势;两种金属因某种原因进入酸、碱、盐溶液,产生化学电势。这种电势均为直流,在接线端子板或是干簧继电器等处容易产生,对仪表影响极重,应尽量避免这种干扰出现
11、。(六)不等电位接地 同一信号回路多点接地,“大地”成为信号回路的一部分。由于实际大地电阻不为零,因此当大地中流过电流时,在不同点上就会产生不等电位的现象。如果仪表输入回路中存在两个或多个接地点,就可能出现因接地点不等电位而产生共模干扰ec。特别是出现接地故障电流或有直接雷击电流时,将出现强大的大地杂散电流,大地上不同接地点可能出现明显的电位差ec。,梳碰岸冲玲泳醉刑雌串啼潮淳星嗜晨萤铱叮锌恿抢唱乓彦宪只氟悄秀泪尝过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,第二节 差模干扰与共模干扰,根据干扰进入信号测量电路的方式以及与有用信号的关系,可将干扰分为差模干扰与共
12、模干扰。一、差模干扰 差模干扰又称横向干扰、正态干扰或串模干扰等。它使测量装置的两个信号输入端子的电位差发生变化,即干扰信号与有用信号是按电压源形式串联起来作用于输入端的。由于它和有用信号叠加起来直接作用于输入端,因此它直接影响测量结果。差模干扰可用图所示的两种方式表示。,差模干扰等效电路(a)串联电压源形式(b)并联电流源形式,戎吏拔哗顷好佃场渭器伤聚吁碗釜源褐鸵诉琶菱辈邦扬浑宅疮刊鸽转蜗蚁过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,造成差模干扰的原因很多。,差模干扰产生的原因(a)温度测量系统的差模干扰(b)热电偶焊在通过电流的导体上引进差模干扰(c)动圈
13、式检流计的差模干扰,(a),(b),(c),谣凑闭极纬螟辣千蝉纳峨超蹲减嗜萨延键凸墟妙绝侍亭辐瘪兹建铸克谷晾过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,常用的消除差模干扰的方法有:用低通输入滤波器滤除交流干扰;尽可能早地对被测信号进行前置放大,以提高回路中的信噪比;在选取组成检测系统的元器件时,可以采用高抗扰度的逻辑器件,通过提高阈值电平来抑制低噪声的干扰,或采用低速逻辑部件来抑制高频干扰;信号线应选用带屏蔽层的双绞线或电缆线,并有良好的接地系统。,侵大役届抽樟怜裸押嚏跨张阜扮衣莽竣僵掘分嵌蔚谬身尼塞提诊射售蓉真过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第
14、九章 检测装置的干扰抑制技术,二、共模干扰 共模干扰又称纵向干扰、对地干扰、同相干扰、共态干扰等。它是相对于公共的基准地(接地点),在测量系统的两个输入端子上同时出现的干扰,如图所示。这种干扰可以是直流电压,也可以是交流电压,其幅值可达几伏甚至更高。造成共模干扰的主要原因是被测信号的参考接地点和检测装置输入信号的参考接地点不同。虽然它不直接影响测量结果,但当信号输入电路参数不对称时,它会转化为差模干扰,对测量产生影响。共模干扰通常用等效电压源表示。,共模干扰 共模干扰等效电路,惑杖心烬抄动奏佣浅共我俱蚕罗刚筑激折倍篆聚易烹吟惺比剧足姆骄葬嫌过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章
15、检测装置的干扰抑制技术,共模干扰电流的通路只是部分与信号电路共有,且共模干扰会通过干扰电流通路和信号电流通路的不对称性转化为差模干扰,从而影响测量结果。常见的共模干扰耦合有下面几种:(1)在测量系统附近有大功率电气设备,因绝缘不良漏电,或三相动力电网负载不平衡,零线有较大电流时,都存在着较大的地电流和地电位差。这时,若测量系统有两个以上接地点,则地电位差就会造成共模干扰。(2)当电气设备的绝缘性能不良时,动力电源会通过漏电阻耦合到测量系统的信号回路,形成干扰。(3)在交流供电的电子测量仪表中,动力电源会通过电源变压器的原边、副边绕组间的杂散电容、整流滤波电路、信号电路与地之间的杂散电容与地构成
16、回路,形成工频共模干扰。,矾寅魏访法循赎坊稍谚庞稍背畴余惯牙烂睁翟恨负择崇钵嗣尧踪慕又放醚过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,三、共模干扰向差模干扰的转化 共模干扰对仪表的影响比差模干扰小,但在一定条件下,共模干扰会转化为差模干扰,其对仪表的影响大大加强。如果组成信号传输外线路的桥路不平衡,共模干扰可以转化为差模干扰,转化原理如图所示。,冶豢宽藉亢捏铰沙戳晚醉项介眼白框垛犁畦竟铁重墨及抒令枢宁咎鬃皱添过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,由于共模干扰只有转换成差模干扰才能对检测仪表产生干扰作用,所以共模干扰对测量
17、系统的影响大小取决于共模干扰转换成差模干扰的大小。可以利用“共模干扰抑制比”值的大小来衡量测量系统对共模干扰的抑制能力。共模干扰抑制比定义为作用于测量系统的共模干扰信号与使测量系统产生同样输出所需的差模信号之比。通常以对数形式表示为 式中 Ucm为作用于测量系统的共模干扰信号;Ucd为使测量系统产生同样输出所需的差模信号。共模干扰抑制比也可定义为检测仪表的差模增益Kd与共模增益Kc之比,即值越高,说明系统对共模干扰的抑制能力越强。,暂誊蒸陕姿偿哟级箩志翟赶飞京翔箕汞蓑类戈博驯峭窗剁岛吻寺恋卵脑堑过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术过程参数第九章 检测装置的干扰抑制技术,共模干扰是一种常见的干
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- 过程 参数 第九 检测 装置 干扰 抑制 技术
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