第2章粉体粒度分析及测量.ppt
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1、第2章 粉体粒度分析及测量,目录,单个颗粒尺寸的表示方法颗粒的形状粉体的粒度分布颗粒粒度的测量,2.1颗粒大小和形状表征,材料的机械、物理和化学性质描述了组成材料的物质组态的基本特性,当物质被“分割”成为粉体之后,上述三类性质则不能全面描述材料的性质,必须对粉体材料的组成单元颗粒,进行详细描述。颗粒的大小和形状是粉体材料最重要的物性特性表征量。,2.1.1单个颗粒尺寸的表示方法 颗粒的大小是粉体诸多物性中最主要的特性值,用其在空间范围所占据的线性尺寸来表示。颗粒的大小通常用“粒径”和“粒度”来表示。粒径颗粒的尺寸,习惯上表示颗粒大小时用粒径。粒度颗粒的大小,表示颗粒大小的分布时用粒度。,直径D
2、,直径D、高度H,?,三轴径统计平均径当量径,人为规定了粒径的三种表示方法,设一个颗粒以最大稳定度(重心最低)置于一个水平上,其正视和俯视投影图如图2-1所示。这样在两个投影图中,就能定义一组描述颗粒大小的几何量:长、宽、高,定义规则如下:,1、三轴径,高度h:颗粒最低势能态时垂直投 影像的高度宽度b:颗粒俯视投影图中,最小 平行线间的夹距长度l:颗粒俯视投影图中,与宽度 方向垂直的平行线的夹距,图 2-1 颗粒投影图,表2-1三轴径的平均值计算公式,设颗粒投影像的周长和面积分别用L和a表示,颗粒的表面积和体积分别用S和V表示。可以用这些几何量来表示颗粒的各种粒度或当量经。,三轴径,三轴调和平
3、均径的推导:V=lbh S=2lb+2lh+2bh,正方体的比表面积 Sv=6/a,球的比表面积 Sv=6/d,三轴径,2、统计平均径,统计平均径是平行于一定方向(用显微镜)测得的颗粒投影像的线度,又称定向经。,S1,S2,定向最大径,Martin径,Feret径,对于一个不规则的颗粒,定向经与颗粒的取向有关,可取其所有方向的平均值;对取向随机的颗粒群,可沿一个方向测定。,统计平均径,图 2-2 定向径,统计平均径,图2-3,3.当量直径,当量直径是利用测量某些与颗粒大小有关的性质推导而来的,并使之与线性量纲有关。用得最多的是球当量径。,等体积球当量径dV:与颗粒同体积球的直径,等表面积球当量
4、径dS:与颗粒等表面积球的直径,等体积比表面积球当量径dSV 或面积体积直径,与颗粒具有相同的表面积对体积之比,即具有相同的体积比表面积的球的直径,等投影面积直径da 与颗粒投影面积相等的圆的直径,等周长圆当量径dL与颗粒投影外形周长相等的圆的直径,当量直径,表2-2 颗粒当量直径的定义,颗粒的形状与物性之间存在着密切的联系,它对颗粒群的许多性质产生影响,如,粉体的比表面积、流动性、填充性、表面现象、化学活性、涂料的覆盖能力、流体通过粉体层的透过阻力,以及颗粒在流体中的运动阻力等。在工程中根据不同的使用目的,对颗粒形状有着不同的要求,例如,用作砂轮的研磨料:有好的填充结构,故选有棱角;铸造用砂
5、:强度高、孔隙率大以便排气,故以球形颗粒为宜;混凝土集料:强度高、紧密的填充结构,故碎石以正多面体为理想形状。,2.1.2颗粒的形状,1.颗粒的形状系数,人们常常用某些量的数值来表示颗粒的形状,这些量可统称为形状因子。这些形状因子反应着颗粒的体积、表面积乃至在一定方向上的投影面积与某种规定的粒径dj的相应次方的关系,这些次方的比例关系又常称为形状系数。,(1)表面积形状系数:与某种粒径dj相联系的表面积形状系数s,j,与的差别表示颗粒形状对于球形的偏离,(2)体积形状系数:与某种粒径dj相联系的体 积形状系数,与 的差别表示颗粒形状对于球形的偏离。,颗粒的形状系数,(3)比表面积形状系数设 S
6、v为单位体积颗粒的表面积,则,sv,j 称为比表面积形状系数,sv,j与6的差别表征颗粒形状对于球形的偏离。对于球sv,j=6,如以比表面当量径dsv代入,得,颗粒的形状系数,表2-3 一些规则几何体的形状因子,颗粒的形状系数,1、球形度(或卡门形状系数),定义:一个与待测颗粒体积相等的球形颗粒的表面积与该颗粒的表面积之比。,颗粒的形状系数,2.2.2 颗粒的形状指数,形状指数与形状系数不同,它与具体物理现象无关,用各种数学式来表达颗粒外形本身。,可以看出:1.;2.颗粒为球形时,=1,达最大值。,颗粒的形状系数,表2-4 一些规则形状体的球形度,对于形状不规则的颗粒,当测定其表面积困难时,可
7、采用实用球形度,2、扁平度和伸长度,3、丘奇(Church)形状因子,圆形度定义了颗粒的投影与圆的接近程度。,4、圆形度,5、表面粗糙度,2.2 粉体的特性表征,粒度分布 粉体的平均粒径 粒度分布函数,1、粒度分布,颗粒群:指含有许多颗粒的粉体或分散体系中的分散相。颗粒粒度都相等或近似相等,称为单粒度或单分散的体系。实际颗粒群所含颗粒的粒度大都有一个分布范围,常称为多粒度的、多谱的或多分散的体系。颗粒分布范围越窄,其分布的分散程度就越小,集中度也越高。,粒度的频率分布,在粉体样品中,某一粒度大小(用Dp表示)或某一粒度大小范围内(用Dp)的颗粒(与之相对应的颗粒个数为np)在样品中出现的质量分
8、数(),即为频率或频度,用f(Dp)或f(Dp)表示。样品中的颗粒总数用N表示,这样有如下关系:,这种频率与颗粒大小的关系,称为频率或频度分布。,粒度分布,或者,表2-5 颗粒大小的分布数据,最小:1.5 最大:12.2,频率分布曲线与横坐标轴围成的面积为:,累积分布 把颗粒大小的频率分布按一定方式累积,便得到相应的累积分布。一般有两种累积方式,一是按粒径从小到大进行累积,称为筛下累积(用“-”号表示);另一种是从大到小进行累积,称为筛上累积(用“+”号表示)。筛下累积分布常用D(DP)表示;筛上累积分布常用R(DP)表示。,累积分布,累积分布,筛上分布与筛下分布存在着如下的关系:,累积分布,
9、频率分布和累积分布的关系 频率分布称为颗粒粒度分布微分函数,而累积分布称为颗粒粒度分布积分函数。,累积分布,在粉体粒度的测定中,采用各式各样的平均粒径,来定量地表达颗粒群(多分散体)的粒度大小。设颗粒群的粒径分别为d1、d2、d3、dn;相对应的颗粒个数为n1、n2、n3nn;相应的颗粒质量为w1、w2、w3.wn。,2、平均粒径,平均粒径定义:设颗粒群是由粒径d1、d2、d3组合而成的集合体,其物理特性f(d)可由各粒径函数的加成表示:式中:f(d)称为定义函数若将粒径不同的颗粒群想象成由直径 D 组成的均一球形颗粒,那么其物理特性可表示为,上式为平均粒径的基本式,D表示平均粒径,平均粒径,
10、粉末是由粒径d1、d2、d3、dn,相对应的颗粒个数为n1、n2、n3nn,试由上述性质推导平均粒径。若将粒径不同的颗粒群想象成由直径 D 组成的均一球形颗粒,则,以个数为基准的平均径可归纳如下:以质量(体积)为基准的平均径表达如下:,平均粒径,在实际应用中,常用两个系列的平均径,以个数为基准加以说明:(一),Dnl个数长度平均径,简称平均径;Dns个数表面积平均径,简称表面积平均径;Dnv个数体积平均径,简称体积平均径。,平均粒径,以上平均径的共同特征:以颗粒群的个数去均分粒度之和、总表面或总体积所得的平均径。Dnv Dns Dnl,当所有颗粒粒度相等时,等式成立。,(二),平均粒径,Dnl
11、个数长度平均径;Dls长度表面积平均径;Dsv 表面积体积平均径,又称Sauter平均径;DvM体积四次矩平均径。,以上四个平均径的共同特征是,它们分别是以各粒级中颗粒个数、粒度之和、表面积和体积为权,对d进行平均得到的,因此分别是个数分布、长度分布、表面积分布和体积(质量)分布的平均径。,体积(质量)平均径,表征粒度分布的特征参数中位粒径D50:把样品的个数(或质量)分成相等两部分的颗粒粒径。,最频粒径(Dm0):在颗粒群中个数或质量出现概率最大的颗 粒粒径。标准偏差:表示粒度频率分布离散程度的参数,其值越小,说明分布越集中,曲线越瘦(越窄)。为标准偏差,g为几何标准偏差。,正态分布:正态分
12、布的分布函数f(Dp)可用下述数学式表示:,3、粒度分布函数,正态分布的频率分布曲线为:,图2-7,符合累积正态分布的粉体在正态概率纸上呈一直线。先按与粒度Dp成正比的值对坐标均匀刻度,再用上式积分所得的正态概率累积百分数表示。,图2-8,对数正态分布:,对数正态分布的频率分布曲线为:,平均粒径的计算,用对数正态分布,可求平均粒径的计算式。以个数长度平均径为例计算如下:,比表面积计算,质量比表面积:比表面积可用比表面积体积平均径Dsv计算单位质量颗粒个数个数与质量两种基准分布的相互交换关系为:当粒径分布为对数正态分布时,下式成立,平均颗粒的表面积,平均颗粒的体积,【例题2-1】表2-9是根据马
13、铃薯淀粉的光学显微镜照片测定的Feret径的汇总表,试用这些数据在对数概率纸上作图,并求D50和g的值,计算出表2-8中的平均粒径和每千克样品中含有的颗粒个数n和比表面积SW、(设颗粒为球形,已知马铃薯淀粉的密度为1400kg/m3)。,解:如图2-11所示作图,从图中可查出D50和D15.87,即可计算出g 和lng。由D50可计算出D50,将以个数为基准的直线平移到D50处,即得以质量为基准的累计分布直线。同时还可计算出上述的9个平均粒径和每千克样品中含有的颗粒个数n和比表面积SW。,2-11,平均粒径,表2-10,罗辛拉姆勒(Rosin-Rammler)分布累积筛上分布函数表达式为:,其
14、频率分布为:,累计筛余百分数;,特征粒径,表示累积筛余为36.8%时的粒径;n 均匀性系数,表示粒度分布范围的宽窄程度,n值越小,粒度分布范围越宽。,当n=1,Dp=De时,则De为R(Dp)36.8%时的粒径。,将式 的倒数取两次对数得,以lgDp为横坐标,以 为纵坐标作图呈一直线,此图为Rosin-Rammler图。在此图上作某一粉体的累积分布时,如果数据点呈一直线,则说明这一粉体符合R-R分布,该直线的斜率即为n值,由R(Dp)36.8%可求得De,将这一直线平移过P极,可在图上查出n与SVDe的值。,SVDe,图2-12 Rosin-Rammler图,例题2-2:用冲击磨粉碎啤酒瓶,试
15、料全部通过3.36mm的标准筛,用标准筛测定粒度的结果见表2-11,用这些数值在R-R图上作图,并求De、n值,写出R-R分布式。如果取啤酒瓶的密度=2600kg/m3,计算其质量比表面积Sw。解:取mm为粒径单位,由表2-11中的数据在R-R图上作图,如图2-13所示,由图中查得De=1.9mm,n=1.1,SVDe=28.17。,表2-11,图2-13 例题2-2的R-R线图的图解,SVDe=28.17,De=1.9mmn=1.1SVDe=28.17,质量比表面积为:,由此得到分布式为:,1筛分析法,筛分是让粉体通过一系列不同筛孔的标准筛,将其分离成若干个粒级,再分别测量,求得以质量分数表
16、示的粒度分布。,粒度测量方法,套筛,图2-14,粒度测量方法,国际标准筛制:Tyler(泰勒)标准 目数m:为筛网上1英(25.4mm)寸长度内的网孔数,如:200目的筛,网丝直径为0.053mm,筛孔尺寸为0.074mm。,图2-15 筛网尺寸,标准筛系列:32 42 48 60 65 80 100 115 150 170 200 270 325 400 其中最细的是400目,孔径是38m。,(40m 100mm),微孔筛(可至5m,甚至更小),筛分的优缺点,优点统计量大,代表性强便宜原理简单、直观,操作方便,易于实现,缺点下限38微米;人为因素影响大;重复性差;筛分过程振动强烈,某些颗粒极
17、易破损,影响粒度分布;速度慢。,粒度测量方法,基本工作原理:将显微镜放大后的颗粒图像通过CCD摄像头和图形采集卡传输到计算机中,由计算机对这些图像进行边缘识别等处理,计算出每个颗粒的投影的各种粒径,再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量,就可以得到粒度分布了。,2显微镜法,粒度测量方法,光学显微镜:分辨率:0.2m,用于0.2200m 颗粒的测量。透射电子显微镜:分辨率可达0.30.5nm,测量范围:0.0015m扫描电子显微镜:分辨率可达3.0nm,测量范围:0.00550m。显微镜测量的样品量极少,取样和制样时,保证样品有充分的代表性和良好的分散性。,光学显微镜的分辨能力,可以从下式判断:,
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