GBT 11345-1989 钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级.docx
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1、/dtUDC621.790.05:2.17B.6HZ4中华人民共和El1l-l旦家标准G胞134589中俨避20九毕9也褥钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级Methodformanualultrasonictestingandclassificationoftestingresultsforferriticsteelwelds阻1990-01 -01 实施丁吊2281989-05-08发布国家技术监督局发布目次1主题内容与适用范围:(1)2弓I用标准1*.*(1)3术语八二.:(14检验人员*(4)5探伤仪、探头及系统性能:“30dB】b.斜探头:Z6dB。5探伤仪、探头及系统性能和周期检
2、查.5.4.1探伤仪、探头及系统性能,除灵敏度余量外,均应按2BJ04001的规定方法进行测试。5.4.2探伤仪的水平线性和垂直线性,在设备首次使用及每隔3个月应检查一次。5.4.3斜探头及系统性能,在表规定的时间内必须检查一次。表1斜探头及系统性能检查周期检Jfe项目检查押期前沿距离折射角或K值保高角开始使用及每隔6个工作日灵敏度余国分辨力开始便用、修朴后及每隔1个月6试块6.1杯唯试块的形状和尺寸见附录A,试块制造的技术要求应符合ZB232的规定,读试块主要用于测定探伤仪、探头及系统性能。6.2耳比试块的形状和尺寸见附录B。6.2.1对比试块采用与被捡验材料相同或声学性能相近的钢材制成。试
3、块的探测面及假:面,在以2.5MHZ以上频率及高灵敏条件下进行检验时,不得出现大于距探测面20mm处的d2mm平底孔反射回来耐回波幅度1/4的缺陷回波,6.2.2试块上的标准孔,根据探伤需要,可以采取其他形式布置或添加标准孔,但应注意不应与试块端角前相邻标准孔的反射发生混淆。.6.2.3检验曲面工件时,如探伤面曲率半径R小于等于,时,应采用与探伤面曲率相同的对比试块。反射体的布置可参照对比试块确定,试块宽度应满足式(1),式中:匕一一试块宽度,mm:4波,mm.S声程,m;Dt声源有数直径.mm。$.3现场检验,为校验灵敏度和时基线,可以采用其他型式的等效试块。7检验等级7.1检跪等级的分级.
4、根据质量:要求检验等级分为A、B、C三级,检验的完善程度A级最低,B级一般,C级最高,检验工作的堆度系数按A、B,C顺序逐级增高。应按照工件的材质、结构、焊接方法、使比条件及承受载荷的不同,合理的选用检验级别.检验等级应按产品技术条件和有关规定选择或经合同双方协商选定。-*注1A级难度系敷为1IB级为56tC级为10L2.本标准给出了三个检验等级的检验条件,为避免焊件的几何形状限制相应等级检照的有效性,设计、工艺人员应在考虑超声检验可行性的基础上进行结构设计和工艺安排。-7.2检验等级的检验范因7.2.1A级检验采用一种角度的探头在焊缝的单面单侧进行检验,只对允许扫查到的焊缝截面进行探测。一般
5、不要求作横向缺陷的检验。母材厚度大于50mm时,不得采用A级检验。7,2.2B级检验原则上采用一种角度探头在焊缝的单面双侧进行检验,对整个埠缝威面进行探测。母材厚度大于100mnI时,采用双面双侧检0。受几何条件的限制,可在捏健的双面单侧采用两种角度探头进行探伤。条件允许时应作横向缺陷的检验。7.2.3C级检跪至少要采用两种角度探头在焊雄的单面双(01进行检骏。同时要作两个扫查方向和两种探头角度的横向缺陷检验。母材厚度大于l。6mm时,采用双面双侧检验。其他附加要求是La.对接焊缝余高要磨平,以便探头在焊缝上作平行扫查Ib.焊缝两侧斜探头扫查经过的母材部分要用直探头作检查I*c.焊缝母材厚度大
6、于等于100m,窄间隙焊缝母材厚度大于等于40mm时,一般要增加串列式扫查,扫查方法见附录C。8检验准备8,1探伤面8,1.1按不同检验等级要求选择探伤面O推养的探伤面如图5和表2所示。图5侧和面.表2探伤面及使用折射角板厚,mm探伤面探伤法使用折射角或K值ABC50*100直射法4560rl45和60,4旷和70;井用(Kl或Ki.5$Kl和Kl3.Kl和K2.Q并用)100双面双Mi45和60:井用(Kl和Ki5或K2并用)8.EZ检验区域的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域,这个区域最小IOmm,最大20mm见图6。8J.3探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢
7、及其他外孤杂质。探伤表面应平整光滑,便于探头的自由扫查,其表面粗糙度不应超过6.3um,必要时应进行打磨。a.采用,次反射法或串列式扫查探伤时,探头移动区应大于】.25PFF=26tg万(2)或P=2dK(3)式中:P跨距,mmI6母材厚度,mm。b采用直射去探伤时,探头移动区应大于0.75户。8.1-4去除余高的焊缝,应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝,如焊缝表面有咬边,较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,井作国)滑过渡以免影响检验结果的评定。8,1.5焊缝检鉴前,应划好检鳖区段,标记出检验区段编号。8检验频率检验频率/一般在25MHz范围内选择,推荐选用22.5MHz公称频率检
8、验.特殊情况下,可选用低于2MHz或高于2.5MHZ的检验频率,但必须保证系统灵敏度的要求。8.3探头角度83.1斜探头的折射角H或A值应依据材料厚度,焊缝坡口型式及预期探测的主要缺陷种类来选择。对不同板厚推荐的探头角度和探头数量见表2。8.3.2串列式扫查,推荐选用公称折射角均为45的两个探头,两个探头实际折射角相差不应黜过2,探头前沿长度相差应小于2mm。为便于探测厚焊缝坡口边缘未熔合缺陷,亦可选用两个不同角度的探头,但两个探头角度均应在3555。范围内。*4耦合剂机4.1应选用适当的液体或糊状物作为耦合剂,耦合剂应具有良好透声性和适宜流动性,不应对材料和人体有损伤作用,同时应便于检验后清
9、理。8.4.2典型的耦合剂为水,机油、甘油和浆糊,耦合剂中可加入适量的润湿剂或活性剂以便改善蠲合性能68.4.3在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的耦合剂。8.5母材的检查采用C级检验时,斜探头扫杳声束通过的母材区域应用直探头作检查,以便探测是否有影响斜角探伤结果解释的分层性或其他种类缺陪存在。该项检杳仅作记录,不属于对母材的验收检验。母材捡查的规程要点如下,.方法:接触式脉冲反射法一采用频率25MHz的直探头,晶片直径1025mm,b.灵敏度:将无缺陷怀二次底波调节为荧光屏满幅的100%I:记录:凡缺陷信号幅度超过荧光屏满幅20%的部位,应在工件表面作出标记,并予以记录。9仪器调整和校险.
10、8.1时基线扫描的调节荧光屏时基线刻度可按比例调节为代表缺陷的水平距离I(简化水平距离厂):深度Al或声程S见图7.图7时基线扫描调节示意图8.11探饬面为平面时,可在对比试块上进行时基线扫描调节,扫描比例依据工件厚度和选用的探头角度来确定,最大检范围应调至荧光屏时基线满刻度的2/3以上。u,n9.1.2探饬面曲率半径R大于三一时,可在平面对比试块上或与探伤面曲率相近的曲面对比试块上,进行时基线扫描调节s9.1-3探饬面曲率半径R小于等于丁时,探头楔块应磨成与工件曲面相吻合,在6.2.3条规定的对比试块上作时基线扫描调节。g.2距离波幅(DAC)曲线的绘制9.2.1距离波幅曲线由选用的仪器、探
11、头系统在对比试块上的实测数据绘制见图8,其绘制方法见附录D,曲线由判废城RL,定晟线SL和评定线EL组成,不同验收级别的各线灵敏度见表3。表中的DAC是以d3tnm标准反射体绘制的距离-波幅曲线即DAC基准线.评定线以上至定量线以下为I区(弱信号评定区K定量饯至判废线以下为口区(长度评定区力判废线及以上区域为In区(判废区$sm表3距离-波幅曲线的灵敏度ABC板厚,mmDAC8-508*308300判废线DACDACrdBDACTdB定量线DAC-IOdB.DAC-IOdBDAC-8dBi定线DAlCTSdBDAC-16dBDAC-MdB9.2.2探测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB。9
12、.2.3探伤面曲率半径R小于等于牛时,距离波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。9.2.4受检工件的表面耦合损失及材质衰减应与试块相同,否则应进行传输损失修整见附录E,在1跨距声程内最大传输损失差在2dH以内可不进行修整。9.2.5距离-波幅曲线可绘制在坐标纸上也可直接绘制在荧光屏刻度板上,但在整个检验范围内,曲线应处于荧光屏满幅度的20%以上,见图9,如果作不到,可采用分段绘制的方法见图10。C .9.3仪器圈整的校照9.3.1每次检验前应在对比试块上,对时彭扫描比例和距离波幅曲线(灵敏度)进行调节或校验。校验点不少于两点。9.3.2检验过程中每4h之内或检验工作结束后应对时基线扫描和灵敏度
13、进行校验,校验可在对比试块或其他等敕试块上进行.9.3.3扫描调节校验时,如发现校播点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10%或满刻度的5%(两者取较小值),则扫描比例应重新调整,前次校验后已经记录的缺陷,位置参数应重新抑定,并予以更正。93.4灵敏度校验时,如校验点的反射波幅比距离一波幅曲线降低20%或2dB以上,则仪器灵敏度应重新调整,并对前次校验后检查的全部焊缝应重新检验。如校验点的反射波幅比距离波幅曲线增加20%或2dB以上,仪器灵敏度应重新调整,而前次校验后,已经记录的缺陷,应对缺陷尺寸参数重新溯定井予以评定。10初始检验to.一般要求W.1.1超声检验应在焊缝及探伤表面经外
14、观检查合崔并满足81.3条的要求后进行.10.1.2检验前,探伤人员应了解受检工件的材质、结构、曲率、厚度、焊接方法,焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。10.1.3探伤灵敏度应不低于评定线灵敏度。WJ.4扫查速度不应大于15Omm/,相邻两次探头移动间隔保证至少有探头宽度10%的重叠。W15对波幅超过评定线的反射波,应根据探头位置,方向.反射波的位置及10.1.2条了解的焊缝情况,判断其是否为缺谄。判断为缺陷的部位应在焊缝表面作出标记。10.2平板对接焊缝的检险10.2.1为探副纵向缺陷,斜探头垂直于焊缝中心线放置在探伤面上,作锯齿型扫杳见图U。探头前后移动的范围应保证扫在到
15、全部焊缝截面及热影响区。在保持探头垂直焊缝作前后移动的同肘,还应作1015的左右转动。图U锯出形扫查10.2.2为探测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。a.B级检验时,可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心线成10。20”作斜平行扫查(图】2):Ifi图12斜平行扫查bC级检验时,可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查(图13),煽缝母材厚度超过100mm时,应在焊缝的两面作平行扫查或者采用两种角度探头(45。和60或45。和70并用)作单面两个方向的平行扫查;亦可用两个45。探头作串列式平行扫查:c.对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成45的斜向扫查。102.3为确定缺陷的位置
16、,方向、形状、观察缺隐动态波形或区分缺陷讯号与伪讯号,可美用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式(图14)。KWB1Sfi0上、前后左右曜角环SJ图1.4四种基本扫查方法10.3曲面:件对接焊缝的检验10.3.1探伤面为曲面时,应按623和9.1.3条的痂定选用对比试块,并采用10.2条的方法进行检验.C级检验时,受工件几何形状限制,横向缺陷探测无法实施时,应在检验记录中予以注明。10.3.2环缝检验时,对比试块的曲率半径为探伤面曲率半径0.9L5倍的对比试块均可采用。探测横向缺陷时按10.3.3条的方法进行。10.3.3纵缝检验时,对比试块的曲重半径与探伤面曲室半径之差应小于10%。
17、10.3.3.1根据工件的曲率和材料厚度选择探头角度,并考虑几何临界角的限制,确保声束能扫查到整个焊缝厚度。条件允许时,声束在曲底面的人射角度不应超过70。W.3.8.2探头接触面修磨后,应注意探头人射点和折射角或K值的变化,并用曲面试块作实际测定.W.3.3.3当R大于今采用平面对比试块调节仪器时,检骏中应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离孤长的整异,必要时应进行修正。W.4其他结构焊缝的检验10.4.1一般原则a.尽可能采用平板焊缝检验中已经行之有效的各种方法Ib.在选择探伤面和探头时应考虑到检测各种类型缺陷的可能性,并使声束尽可能垂直于该结构焊缝中的主
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