同步辐射XAFS基础知识和案例分析.docx
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1、【实用干货】同步辐射XAFS基础知识及经典案例分析!1引言同步辐射是速度接近光速的带电粒子在磁场中沿弧形轨道运动时放出的电磁辐射,由于它最初是在同步加速器上观察到的,便又被称为“同步加速器辐射”o虽然起源于高能物理学,但同步辐射的发现消耗了加速器的能量,阻碍了粒子能量的提高。但是,人们很快便了解到同步辐射是具有从远红外到X光范围内的连续光谱、是一种具有高强度、高准直、高极化和可精准控制等优异性能的脉冲光源,可以用以开展其它光源无法实现的许多前沿科学技术研究。同步辐射装置的建造及在其上的研究、应用,经历了四代的发展(图1)。第一代是以高能物理实验为主的兼用光源,可以是储存环或同步加速器。如美国康
2、奈尔大学CHESS光源,北京同步辐射装置BSRF。BSRF依托于北京正负电子对撞机,部分时间按同步辐射专用模式运行,在专用模式下,总体性能大体达到第二代光源水平。第二代是同步辐射专用光源,典型设计为利用弯转磁铁产生同步辐射,它们都是电子储存环,通常能量较低。如美国布鲁克海文国家实验室NSLS光源(800MeV),巴西国家同步辐射实验室LNLS光源(1.37GeV),合肥国家同步辐射实验室NSRL光源(800MeV)。NSRL适于开展软X射线和真空紫外波段的研究,可向波长更长的红外、远红外波段扩展。第一代和第二代是按照加速器装置的首要目的进行分类的。第三代也是同步辐射专用光源,与第二代光源的区别
3、在于光源能量更高。比如美国阿贡国家实验室的APS光源(7GeV),劳伦斯伯克利国家实验室的ALS光源(1.9GeV),欧洲同步辐射装置ESRF(6GeV),德国的BESSYn光源(L7GeV),英国的Diamond光源(3GeV),法国的SOLElL光源,日本的SPring-8光源(8GeV),上海同步辐射装置SSRF(3.5GeV)。SSRF建成后,中国大陆有三台同步辐射光源同时运行,布局更趋合理。目前在世界范围内,第三代是同步辐射光源的主流。第四代则被认为是自由电子激光(FEL)光源。X射线自由电子激光不仅能产生无与伦比的高亮度辐射,而且辐射具有完全的横向相干性,并且是脉冲式的。比较有代表
4、性的FEL光源有美国的LCLS光源,德国的EuroXFEL光源等。中国在近期也提出了兴建软XFEL和硬XFEL装置的计划。BIOkeVSpot Size10005005 3 1 9 7 S 31 1021 O21O21O110,10,10,Io1 %quvtwwM8%L0Muoloqd1501 s-3BEoUeNA Time-average 10 keV X-ray Brilliance2nd Generation3rd GenerationZone PlatesMultilayer Laue Lenses图1同步辐射装置的发展历程结合同步辐射自身的特点,科研人员开发了许多实用的同步辐射实验方
5、法(特别是X射线技术),并通过这些实验方法,在诸多领域开展了广泛的研究。目前比较典型的应用同步辐射光源的表征手段包括:X射线衍射(XRD)、X射线吸收精细结构(XAFS)、X射线生物大分子结构分析、X射线磁圆二色技术(XMCD)X射线荧光分析(XRF)、X射线成像技术、角分辨光电子能谱(ARPES)材料结构分析高压技术和同步辐射微纳加工技术(LIGA)等。本期,笔者重点介绍同步辐射XAFS技术。X射线吸收精细结构(X-rayabsorptionfinestructure,XAFS),也叫X射线吸收谱(X-rayabsorptionspectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源、研究
6、材料局域原子或电子结构的一种有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域,主要有以下优点:1 .不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;2 .不受其它元素干扰,可对同一材料中不同元素分别研究;3 .不受样品状态影响,可测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;4 .对样品无破坏,可进行原位测试;5 .能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数,一般认为原子间距精确度可达0.01Ao在顶级研究中,XAFS越来越成为“标配”,国内越来越多的课题组力图通过该技术进行深入表征,提升研究档次。后期我们就从同步辐射装置、XAFS的基础知识、常用的实验方法、数据处理以及典型应
7、用举例几个方面对XAFS进行简要的介绍,希望大家持续关注我们。XAFS数据解析可提供以下数据及服务:LXANES部分图谱,提供价态、初步结构的定性分析;6 .EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析;7 .wavelet图谱,作为EXAFS拟合的进一步证据,同时用小波炫图来提高数据分析“逼格”;8 .帮答复审稿意见中关于XAFS的问题,提供中文回答,但不包括论文写作;9 .同步辐射不参与论文致谢活动,且致谢半价活动于2020年1月1日结束,所有优惠政策不可叠加。制样要求:L粉末样品至少80TOOmg(0.8T.Oml体积量最好),越细越好,最好能过2
8、00目筛子,400目更好,一般研磨20min左右;2 .粉末压片尺寸要求:直径大于6mm的圆形,厚度Imm左右;3 .块体样品要求测试面光滑,大小不超过5*5*5mm;4 .提前用ICP测得样品真实元素含量,若样品信息真实但图谱质量不佳可免费重测;5 .原则上测试样品不回收,线站回收样品安排两到三个月一次,若样品有剩余可安排回收;6 .同步辐射XAFS测试拟合需求表下载链接:http:CIoUd.ceshigo.Comslo9cepyq0X-rayAbsorptionEdgesoftheElements1H214He可提供酒试1 SymbolAtomic NUmb*不提供测试1 LlWMc一4
9、4,:IlMO注I未展示均不可 测i3eo 1x2n 115MB0725UWJ “734 ”9195 Ba 3744113419128241121S47 Ag2561476 OSJ 73971 12m 123M1087178 Pt78395138801327311S64Hfl73 TalEnergies are in eV24350I96730 V43 176U214H7MJ,IJ Q2同步辐射XAFS分析当X射线穿过样品时,由于样品对X射线的吸收,光的强度会发生衰减,这种衰减与样品的组成及结构密切相关。XAFS就是利用X射线入射前后信号变化来分析材料元素组成、电子态及微观结构等信息的光谱学手
10、段(图2)oXAFS方法通常具有元素分辨性,几乎对所有原子都具有相应性,对固体(晶体或非晶)、液体、气体等各类样品都可以进行相关测试。图2XAFS原理示意图众所周知,通过同步辐射XAFS表征技术可用获得及其丰富的材料电子结构和配位结构信息,可以发现在许多顶刊发表的研究中XAFS都起到了至关重要的作用。近年来,XAFS在国内外各大小课题组研究过程中有着越来越普及的趋势,尤其是越来越多此前在XAFS表征方面没有太多经验的新用户也逐渐通过多种渠道借力该技术进行深入的表征,提升研究档次。如同其他多种表征一样,同样的数据在不同人的手里可以得到不同层次的结果,经验越丰富的人越有可能获得更多的信息。然而经验
11、的获得并非一蹴而就,尤其是对于像同步辐射XAFS这样相对比较复杂的技术而言。那么,同步辐射XAFS到底能为我们做什么呢?经笔者分析总结,主要有以下几点:(1)扩展边X射线吸收精细结构分析:XAFS原始数据可以分为扩展边X射线吸收精细结构(EXAFS)和近边X射线吸收精细结构(XANES)两部分(图3)通过EXAFS分析可以得到丰富的结构信息,也是最常见的一种数据解析内容。EXAFS可以看作是中心元素内层电子吸收X射线跃迁到外层形成光电子,光电子以波的形式发射出去并受到周围原子的散射,散射波与发射波产生干涉就得到了震荡波谱。EXAFS的数据处理需要将能量空间的震荡转换为波长k空间的震荡。而k空间
12、的数据可以进一步通过傅里叶变换得到R空间的数据。至此,我们可以获得有关结构信息的“直观”数据。W-UrsqvXANESEXAFSXAFS=XANES+EXAFS图3XAFS原始数据组成(2)小波分析:EXAFS的拟合非常依赖对于样品成分和结构的了解,在此情况下可以大概推测R空间中的峰对应于某种配位元素,然后进一步对各参数进行拟合。但是实际上,对于未知样品我们很难确定其配位元素有哪些,尤其是对于R空间中键长比较接近的峰。因此,EXAFS的拟合很多情况下都需要结合EXAFS小波分析,才能有效地进行数据分析,得到更加可信的结果。与傅里叶变换得到的R空间中的二维信息不同,小波分析可以将R空间与k空间结
13、合,得到的是三维信息(图4)。图4小波分析得到的三维结果(3)价态分析/XANES近边分析:对于许多XAFS数据,可能其扩展边数据质量较差,使得拟合的可信度有时候值得商榷。而XANES一般有足够高的信号质量,并且具有许多指纹信息,可以给出更加丰富的信息。其中最简单也最常见的要数价态分析。对于某未知样品,只需将对应吸收边的位置代入由标准样得到的相关关系中便可以得知未知样品中对应元素的平均价态。除吸收边位置外,还可以通过吸收边高度或者对应区间的面积进行归一化处理。一般而言,K边吸收对于吸收边未知更为敏感,而边吸收谱则对白边高度或者吸收面积相关性更高。如图5可以看到,不同的样品存在明显不同的XANE
14、S图谱,表明其存在价态差异。3.5-(TrE) B(5p Pa-BE-ON3.02.5-2.01.5-1.00.5-0J.10,20010,24010,280Energy(eV)图5不同样品的XANES图谱(4)组分分析:顾名思义就是分析混合样品中各组分的占比,也是基于XANES的分析方法,常见于原位XAFS实验数据处理,当然也适用于其他混合样品的组分分析。前述的价态分析常常得到非整数价态,有时候可以认为是由结构相近的但是价态不同的两种组分混合构成的,在此基础上可以经组分分析确定不同组分的占比。组分分析的前提是对于含有的物质种类有相对清楚的认识。常见问题QI、XAFS能获得什么信息?X射线吸收
15、精细结构(X-rayabsorptionfineSlniclure,XAFS)也叫做X射线吸收谱(X-rayabsorptionspectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源的,研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数。通过XANES部分图谱,提供原子价态、初步结构的定性分析、电子结构;EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析。Q2、XAFS,XANES,EXAFS有什么联系和区别吗?XAFS(X-rayabsorptionfinestructure)即为X射线吸收精细结构也叫
16、做X射线吸收谱(X-rayabsorptionspectroscopy,XAS)。flXANES(X-rayAbsorptionNear-EkigeStructure,XANES)叫做X射线吸收近边结构,指的是吸收边前IoeV到边后30-50eV的区域;而扩展边X射线吸收结构(ExtendedX-rayAbsorptionFineStructure*EXAFS)则包含从边后50eV开始到IoooeV范围的区域。XANESEXAFSCu-KEnergy(eV)XAFS=XANES+EXAFSQ3、为什么给出的R空间谱图和table中的键长不一样?R空间中峰的位置并非真实键长,一般比真实值短0.3
17、0.4人真实值可以通过下面的壳层拟合获得,记录在table中Q4、壳层拟合中有什么需要特别注意的吗?1、一个峰可能是多种配位原子叠加而成,把每个峰都对应单一配位是不严谨的;2、峰的位置不具有特征性,不同样品中同一位置的峰并不一定代表同样的配位;3、并非所有的峰都有意义,特别是些弱峰,可能是伴随强峰出现的,也可能是由于噪声信号引起的;4、峰的高度(面积)与配位数正相关,可以用于粗略的比较配位数的变化,但是同时也受无序度等因素的影响:5、EXAFS拟合给出的是整个体系的平均结果,如体系中20%是六配位,80%是四配位,那么理论上给出的结果为(6*20%+4*80%=)4.4配位;6、EXAFS给出
18、的是二维信息,并不能以此判断立体结构,如配位数是4,并不能确定是平面四边形还是四面体构型。3案例解读XAFS在材料、能源、环境等各个方面发挥着越来越重要的角色,越来越成为研究结构、解释机理的必备表征手段。然而XAFS测试的门槛相对较高,一方面是由于国内机时供不应求,如上海光源BL14W1线站的机时申请获批率仅有15%;另一方面,数据解析所涉及的物理知识相对深奥,需要有一定基础的专业人员才能解析出更具有可信度的结果。好消息!测试狗团队与台湾NSSRC、美国APS、SSRL等先进光源建立了稳定的合作模式,拥有稳定的商业机时用于样品的测试,同时具有专业的数据解析团队,可以提供可靠的XANES定性分析
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